专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]半导体激光器可靠性测试方法、系统及介质-CN202310862114.6有效
  • 周少丰;罗军波;梁凯宇;王亮;覃紫唅 - 深圳市星汉激光科技股份有限公司
  • 2023-07-14 - 2023-10-03 - G01R31/26
  • 本发明涉及激光器技术领域,特别涉及一种半导体激光器可靠性测试方法、系统及介质。本发明设计和计算半导体激光器功率稳定程度评估指数、半导体激光器环境温度稳定程度评估指数,并依据半导体激光器功率稳定程度评估指数、半导体激光器环境温度稳定程度评估指数进行热源调控,减少了半导体激光器温度可靠性测试所需的时间,增加了半导体激光器温度可靠性测试的效率;本发明采用两阶段调控方式,在升温过程中使半导体激光器功率稳定程度保持较高水平,在温度达到测试温度后使温度和功率波动同步逐渐减小,实现既减少了升温时间,又减少了温度和功率稳定下来的时间,使半导体激光器温度可靠性测试效率进一步提升。
  • 半导体激光器可靠性测试方法系统介质

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