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[发明专利]镜头脏污检测方法、装置及图像检测设备-CN202310761287.9在审
发明人：周逸铭;王大伟 -专利权人： 深圳市辰卓科技有限公司
申请日： 2023-06-26 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本申请提供了一种镜头脏污检测方法、装置及图像检测设备，涉及镜头脏污检测技术领域。其中，该方法包括：获取原始图像进行脏污细节增强处理得到待测图像；对待测图像进行边界分离处理得到中心区域图像和边缘区域图像；对边缘区域图像进行候选区域提取得到边缘脏污区域候选集，并对边缘脏污区域候选集进行脏污特征筛查得到第一脏污检测结果；若第一脏污检测结果指示待测镜头不存在边缘脏污，则对中心区域图像进行候选区域提取得到中心脏污区域候选集，并对中心脏污区域候选集进行脏污特征筛查得到第二脏污检测结果，以指示待测镜头的脏污类别。本申请解决了相关技术中对极淡脏污不敏感，容易漏判误判镜头脏污，导致检测准确率低的问题。
镜头脏污检测方法装置图像设备

[外观设计]钢化膜自动光学检测机-CN202230875357.X有效
发明人：申俊;王大伟;周逸铭;许应 -专利权人： 深圳市辰卓科技有限公司
申请日： 2022-12-30 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： 10-05 文献下载
摘要：1.本外观设计产品的名称：钢化膜自动光学检测机。2.本外观设计产品的用途：用于钢化膜光学自动检测。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图。
钢化膜自动光学检测

[发明专利]应用于测试机的通道延迟校准方法、装置及测试系统-CN202310728624.4在审
发明人：许应;成源涛;陈熙 -专利权人： 深圳市辰卓科技有限公司
申请日： 2023-06-19 - 公布日： 2023-10-13 - 主分类号： G01R35/00 文献下载
摘要：本申请实施例提供了一种应用于测试机的通道延迟校准方法、装置及测试系统，涉及通道延迟校准技术领域。其中，该方法包括：通过校准板将测试机生成的校准源信号传输至多个IO通道；通过各IO通道中任意一个采样边沿单元生成的采样信号对校准源信号进行的采样，对各IO通道中进行校准源信号采样的采样边沿单元进行校准；利用完成校准的采样边沿单元生成的采样信号的第一个上升沿，对各IO通道中的各驱动边沿单元进行并行校准；利用完成校准的驱动边沿单元生成的发射信号的第一个上升沿，对各IO通道中的其他采样边沿单元进行并行校准。本申请实施例解决了相关技术中存在的通道延迟校准效率低，校准精度差的问题。
应用于测试通道延迟校准方法装置系统

[发明专利]用于半导体器件的测试电路及测试设备-CN202310954594.9在审
发明人：吴海涛;吴志盛 -专利权人： 深圳市辰卓科技有限公司
申请日： 2023-07-31 - 公布日： 2023-10-03 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：一种用于半导体器件的测试电路及测试设备，属于测试技术领域，恒流源电路输出恒定电流；恒压源电路输出恒定电压；选择电路选择输出恒定电流或恒定电压至待测芯片；当恒定电压加载至待测芯片时，检测电路对待测芯片的漏电流进行检测，以输出漏电流检测信号；主控电路与恒流源电路和选择电路共接于第一节点，根据第一节点的电压得到开短路测试结果，且根据漏电流检测信号得到漏电流测试结果，从而提供了一种用于半导体器件的测试电路，无需使用专用芯片，降低了成本；且各部分电路均为自主搭建，可以灵活扩展，使用范围更广，可以在大功率、大电流场景使用。
用于半导体器件测试电路设备

[实用新型]一种参数测量电路和系统-CN202223613472.3有效
发明人：吴志盛;吴海涛;谭湘 -专利权人： 深圳市辰卓科技有限公司
申请日： 2022-12-30 - 公布日： 2023-08-25 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种参数测量电路和系统，属于集成电路测试领域，该参数测量电路包括：DAC单元、第一开关单元、第二开关单元、FVMI测量单元以及FIMV测量单元；FVMI测量单元包括电流测量模块；FIMV测量单元包括电压测量模块；DAC单元连接第一开关单元，第一开关单元分别和FVMI测量单元以及FIMV测量单元连接，第二开关单元分别和FVMI测量单元以及FIMV测量单元连接，第二开关单元连接待测芯片；DAC单元用于输出电压或者电流，第一开关单元和第二开关单元用于选通FVMI测量单元或者FIMV测量单元。采用DAC驱动电压\电流，通过开关切换外围电路可以支持FVMI和FIMV两种工作模式，解决现有技术中仍存在的FVMI模式以及FIMV模式下的测试中PMU芯片发热量大、价格高以及灵活性较差的问题。
一种参数测量电路系统

[实用新型]一种掉电保护电路及ATE设备-CN202223609980.4有效
发明人：吴志盛;吴海涛;谭湘 -专利权人： 深圳市辰卓科技有限公司
申请日： 2022-12-30 - 公布日： 2023-08-15 - 主分类号： H02J9/06 文献下载
摘要：本实用新型实施例提供了一种掉电保护电路及ATE设备，涉及电子电路系统技术领域，其中，该电路连接在供电单元与被保护单元之间，该电路包括：控制单元、分别与控制单元连接的检测单元以及储能单元；若检测单元检测到供电单元正常工作，则通知控制单元控制供电单元向被保护单元供电；若检测单元检测到供电单元掉电，则通知控制单元控制储能单元向被保护单元供电。本实用新型解决了相关技术中存在的缺乏一种ATE设备无需电池的掉电保护方案。
一种掉电保护电路 ate 设备

[发明专利]一种电源电路及ATE设备-CN202310363152.7在审
发明人：吴海涛 -专利权人： 深圳市辰卓科技有限公司
申请日： 2023-03-31 - 公布日： 2023-08-08 - 主分类号： H02M3/156 文献下载
摘要：本发明公开了一种电源电路及ATE设备，涉及半导体集成电路制造领域，该电源电路包括多个电源单元、扩流单元和切换单元；其中，各电源单元均包括一个输入端和一个输出端，各电源单元的输入端分别与ATE设备的一个端口连接，各电源单元的输出端分别与一个待测器件连接；切换单元包括一个输入端和多个输出端，切换单元的输入端与扩流单元的输出端连接，切换单元的多个输出端分别与各电源单元的输出端一一对应地连接，用于控制多个电源单元中的任意一个输出端与扩流单元的输出端，共同输出电源电压至待测器件。本发明实施例无需在每一路电源都单独增加一个扩流单元，而是通过共享一个扩流单元，减少扩流单元的数量，以此降低发热、成本，提高利用率。
一种电源电路 ate 设备

[发明专利]一种钢化膜缺陷检测设备-CN202310384001.X在审
发明人：申俊;周逸铭;王大伟 -专利权人： 深圳市辰卓科技有限公司
申请日： 2023-03-31 - 公布日： 2023-07-14 - 主分类号： G01N21/95 文献下载
摘要：本发明提供了一种自动化钢化膜缺陷检测设备，涉及钢化膜质检技术领域。其中，该钢化膜缺陷检测设备，包括底座，还包括设置在所述底座上的：料盒机构，设置有钢化膜的容置空间；检测机构，包括至少一个用于检测钢化膜缺陷的检测组件；上下料机构，包括用于取放钢化膜的取放组件和驱动连接所述取放组件的位移组件，所述位移组件驱动所述取放组件移动的路径至少经过所述料盒机构和所述检测机构。本发明利用检测机构机械自动化检测钢化膜的缺陷，减少了人工主观因素的干扰，检测机构的检测标准统一，且可以长时间连续进行重复性检测作业，检测准确率较高，无需多人反复检测，检测时间不超过20秒，检测效率较高，节约了人工成本。
一种钢化膜缺陷检测设备

[发明专利]一种缺陷检测装置及方法-CN202310362018.5在审
发明人：王大伟;申俊;周逸铭;黄康 -专利权人： 深圳市辰卓科技有限公司
申请日： 2023-03-31 - 公布日： 2023-07-11 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明提供了一种单工位多视角缺陷检测装置及方法，涉及产品质量检测技术领域。其中，该缺陷检测装置，包括底座，还包括分别设置在所述底座上的载物台和检测模块；所述载物台设置有放置待检测产品的容置空间，所述检测模块设置有多组针对不同缺陷类型的检测组件，多组所述检测组件分列于所述载物台的四周，且多组所述检测组件的检测方向均朝向所述载物台。本发明通过设置一个工位配合五个检测组件即可完成产品的全面缺陷检测，待检测产品无需移动或翻转，检测工序简单，节省时间，检测效率高。
一种缺陷检测装置方法

[发明专利]电性能测试方法、装置、测试机及存储介质-CN202310346625.2在审
发明人：王林旺;鲁志兵;谭湘 -专利权人： 深圳市辰卓科技有限公司
申请日： 2023-04-03 - 公布日： 2023-06-23 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本申请提供了一种电性能测试方法、装置、测试机及存储介质，涉及集成电路测试技术领域。其中，该方法包括：进行与测试场景匹配的初始参数配置，使得所述源测量输出单元按照所述初始参数包含的期望激励值输出激励信号，所述激励信号的输出过程包括激励信号建立阶段和激励信号执行阶段；在所述激励信号建立阶段，控制所述源测量输出单元对输出的所述激励信号进行稳定性调节，直至所述激励信号建立成功；若检测到所述激励信号建立成功，则进入所述激励信号执行阶段，基于所述源测量输出单元输出的所述激励信号，对被测对象进行与所述测试场景相关的电性能测试。本申请解决了相关技术中电性能测试中激励信号可靠性不足的问题。
性能测试方法装置存储介质

[发明专利]ATE设备的参数校准方法、装置及系统-CN202310338380.9在审
发明人：成源涛;吴海涛;许应 -专利权人： 深圳市辰卓科技有限公司
申请日： 2023-03-31 - 公布日： 2023-06-23 - 主分类号： G01R35/00 文献下载
摘要：本申请实施例提供了一种ATE设备的参数校准方法、装置及系统，涉及测试技术领域。其中，该方法包括：应用于校准系统；所述方法包括：控制所述校准单元对所述负载单元进行校准；若所述负载单元完成校准，则控制所述校准单元对所述ATE设备的多个IO通道单元进行校准；其中，多个IO通道单元的校准包括：对多个IO通道单元中的高精密测量单元串行地进行校准；若各所述IO通道单元的高精密测量单元完成校准，则基于各所述IO通道单元中完成校准的高精密测量单元，对各所述IO通道单元中的多个四象限单引脚参数测量单元并行地进行校准、以及对各所述IO通道单元中的多个引脚单元并行地进行校准。本申请实施例解决了相关技术中ATE设备的参数校准的效率低下的问题。
ate 设备参数校准方法装置系统

[发明专利]设备老化测试方法、装置及ATE设备-CN202211732275.5在审
发明人：吴海涛;许应;鲁志兵 -专利权人： 深圳市辰卓科技有限公司
申请日： 2022-12-30 - 公布日： 2023-06-23 - 主分类号： G01R35/00 文献下载
摘要：本发明实施例提供了一种设备老化测试方法、装置及ATE设备，涉及老化测试技术领域。其中，该方法包括：控制集成电路自动测试机ATE设备进行老化测试，所述老化测试所需的测试温度条件由所述ATE设备自身产生的热量提供；在所述老化测试中，对所述ATE设备的工作温度进行监测，得到所述ATE设备的工作温度；若所述ATE设备的所述工作温度不满足所述测试温度条件，则调整所述ATE设备的所述工作温度，使调整后的所述工作温度满足所述测试温度条件。本发明实施例可以解决相关技术中存在的ATE设备进行老化测试时需要使用高温老化房的问题。
设备老化测试方法装置 ate

[实用新型]双向钳位保护电路及ATE设备-CN202223613473.8有效
发明人：吴海涛 -专利权人： 深圳市辰卓科技有限公司
申请日： 2022-12-30 - 公布日： 2023-06-23 - 主分类号： H02H9/04 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种双向钳位保护电路及ATE设备，涉及自动化测试设备技术领域。该双向钳位保护电路包括：主控单元、钳位设置单元、钳位单元、以及放电单元；钳位设置单元，用于接受主控单元的控制为钳位单元配置相应的钳位电压阈值；钳位单元包括正向钳位模块和反向钳位模块，正向钳位模块和反向钳位模块分别用于检测所述供电单元输出的电源电压和/或所述被测单元接收到的电源电压，在任意一个电源电压达到相应钳位电压阈值时，通知放电单元进行电流泄放；放电单元，用于放电，直至电流达到饱和状态，使得所述供电单元与所述被测单元之间的电源电压被钳位至所述钳位电压阈值。本实用新型解决了相关技术无法实现大电流钳位且钳位电压固定的问题。
双向保护电路 ate 设备

[外观设计]车载摄像头模组测试仪-CN202230876073.2有效
发明人：郭军;谭湘;吴海涛 -专利权人： 深圳市辰卓科技有限公司
申请日： 2022-12-30 - 公布日： 2023-06-23 - 主分类号： 10-05 文献下载
摘要：1.本外观设计产品的名称：车载摄像头模组测试仪。2.本外观设计产品的用途：车载摄像头测试。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图。
车载摄像头模组测试仪

[发明专利]一种协同工作方法、装置、ATE设备及存储介质-CN202211732212.X在审
发明人：王林旺;李洪;谭湘 -专利权人： 深圳市辰卓科技有限公司
申请日： 2022-12-30 - 公布日： 2023-06-09 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种协同工作方法、装置、ATE设备及存储介质。其中一种ATE测试中的协同工作方法，包括：从待测器件采集得到待测数据，将待测数据传输至第二单元，以使第二单元对待测数据进行第一测试项目的测试，得到第一测试结果；响应于针对第二测试项目的协同工作指令，对待测数据进行第二测试项目的测试，得到第二测试结果；向所述第二单元发送所述第二测试结果，以使第二单元根据第一测试结果和第二测试结果，完成ATE测试。本发明能够解决相关技术中存在的由个人计算机PC控制采集卡实现半导体芯片测试过程中出现测试效率低、测试时间长以及数据丢失导致部分测试无法进行的问题。此外，本发明无需个人PC控制采集设备，进而省掉了个人PC的成本。
一种协同工作方法装置 ate 设备存储介质

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