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[发明专利]一种场效应管测试设备-CN202310640314.7在审
发明人：吉炜 -专利权人：无锡市乾野微纳电子有限公司
申请日： 2023-05-31 - 公布日： 2023-09-08 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明提供一种场效应管测试设备，涉及场效应管检测设备领域。导向组件与连接组件滑动连接。连接组件包括口型固定架，口型固定架内对称设置有第一移动组件和第二移动组件，第一移动组件靠近第二移动组件的一端和第二移动组件靠近第一移动组件的一端均设有卡槽，位于所述第一移动组件上的所述卡槽和位于所述第二移动组件上的所述卡槽对称设置，卡槽内卡接有连接头。导向组件能够带动连接组件上下移动，使场效应管的管脚位于对称设置的两个连接头之间，第一移动组件和第二移动组件推动连接头相互靠近，直至两个连接头对管脚进行夹持，从而对场效应管进行检测，工作人员通过观察测试组件，即可辨别不合格的场效应管，将其剔除。
一种场效应测试设备

[发明专利]基于SiC功率器件的浪涌测试电路-CN202310451010.6在审
发明人：徐洋;王华;汪剑华;雷洋 -专利权人：派恩杰半导体（杭州）有限公司
申请日： 2023-04-21 - 公布日： 2023-09-08 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明涉及SiC功率器件的测试技术，公开了基于SIC功率器件的浪涌测试电路，其包括储能单元和控制采样隔离单元；其还包括浪涌执行单元和浪涌控制单元；储能单元用于提供SiC功率测试器件进行浪涌测试的脉冲能量；控制采样隔离单元用于对SiC功率测试器件进行浪涌测试的电流采样及浪涌测试的控制；浪涌控制单元用于对SiC功率测试器件进行浪涌测试的控制；浪涌执行单元用于对SiC功率测试器件进行不同的测试，并将测试的结果反馈至控制采样隔离单元。本发明设计的浪涌测试电路支持单个或重复脉冲的浪涌电流测试方案，且带反向耐压测试，能够发现使器件受损的最小浪涌电流。
基于 sic 功率器件浪涌测试电路

[发明专利]导通压降检测电路、设备和电力变换装置-CN202310457863.0在审
发明人：蒋华平;廖瑞金;谢宇庭;钟笑寒;汤磊;赵柯;肖念磊 -专利权人：重庆大学
申请日： 2023-04-25 - 公布日： 2023-09-08 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本公开提供一种绝缘栅型半导体器件的导通压降检测电路、设备和电力变换装置。导通压降检测电路，包括：测量电路，具有串联连接的可变电阻器和采样电阻，所述可变电阻器与所述采样电阻所在串联支路的两端分别连接被测器件的第一极和第二极；其中，所述被测器件为绝缘栅型半导体器件；其中，在所述被测器件的第一极与第二极之间的电压差为其工作电压差的情况下，并且所述可变电阻器的电流值与所述可变电阻器两端的电压值正相关，并且所述可变电阻器的电阻值与所述可变电阻器两端的电压值正相关，并且所述采样电阻两端电压绝对值与所述被测器件的第一极和第二极之间的电压绝对值正相关。
导通压降检测电路设备电力变换装置

[发明专利]栅极钳位电路的IGBT小电流功率循环实验平台及设计方法-CN202310597440.9在审
发明人：李猎;何鎏璐;刘慧 -专利权人：宁波力斗智能技术有限公司
申请日： 2023-05-22 - 公布日： 2023-09-08 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于栅极钳位电路的IGBT小电流功率循环实验平台及设计方法，属于IGBT循环实验技术领域，其中，方法包括以下步骤：测量IGBT的栅极阈值电压与米勒平台电压；设计栅极钳位电路限制IGBT栅极电压的最大值；通过温度传感器测量IGBT结温，控制IGBT开关状态，实现功率循环。通过本发明能实现IGBT在小电流下的功率循环，为IGBT可靠性分析作支撑，降低实验门槛，提高试验的安全性。
栅极电路 igbt 电流功率循环实验平台设计方法

[发明专利]用于监测半导体结构元件的设备和方法-CN202180089237.X在审
发明人： T·沙里;D·蒙泰罗迪尼斯雷斯;F·沙茨;M·梅夫斯 -专利权人：罗伯特·博世有限公司
申请日： 2021-12-13 - 公布日： 2023-09-08 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：用于监测半导体结构元件(100)的设备和方法，其中，在所述半导体结构元件(100)的运行中检测流过所述半导体结构元件(100)的第一电极(102)和第二电极(104)的漏电流，其中，将所述漏电流在比较中与所述漏电流的第一极限值进行比较并且根据所述比较的结果确定输出，和/或，其中，确定出现所述漏电流的极值点、尤其是最大值的时间点并且根据所述时间点确定输出，其中，所述输出包括所述半导体结构元件(100)的状态，并且输出所述输出。
用于监测半导体结构元件设备方法

[发明专利]一种空调风机用电机控制系统自集成驱动检测方法及装置-CN202010575272.X有效
发明人：方双全;姜泽 -专利权人：卧龙电气驱动集团股份有限公司
申请日： 2020-06-22 - 公布日： 2023-09-08 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种空调风机用电机控制系统自集成驱动检测装置，包括：MCU芯片和自集成驱动及检测单元；所述MCU芯片与自集成驱动及检测单元电性连接，且自集成驱动及检测单元分别与上桥IGBT和下桥IGBT双向电信连接。本发明中，实现时时监测IGBT工作状态，工作异常时能从硬件层关断下桥IGBT，适用热基板非隔离驱动方案，驱动回路总体成本比采用专用驱动光耦的系统要低，未使用光耦进行信号传输，没有光耦光衰现象，使用寿命更长，可靠性更高，同时IGBT保护阈值电压可以根据实际情况进行调整，短路保护响应迅速，能在极短时间内关断IGBT并封锁驱动信号，能更有效的保护IGBT，防止系统发生致命损坏。
一种空调风机用电控制系统集成驱动检测方法装置

[实用新型]一种具有转接板的半导体测试结构-CN202320881663.3有效
发明人：杨凯翔;陈朝杰;张文清 -专利权人：广东万维半导体技术有限公司
申请日： 2023-04-11 - 公布日： 2023-09-08 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本实用新型涉半导体测试领域，具体涉及一种具有转接板的半导体测试结构，所述箱体内侧壁左右对称安装有电动滑块，电动滑块内侧端通过连接件安装有测试板，测试板上下端面对称安装有固定螺栓，固定螺栓外侧壁通过螺接的方式安装有转接板，转接板外侧端开设有测试接口，箱体内底部安装有热风机，热风机上端面左右对称安装有第一接头，箱体内顶部安装有冷风机，冷风机底部左右对称安装有第二接头，本实用新型中采用热风机和冷风机结构，从而对半导体芯片进行热化和冷化测试，采用多次循环测试的方式，从而对半导体芯片进行老化测试，又采用固定螺栓结构，便于对转接板进行拆卸更换，无需经常对测试板进行更换，节约了资源。
一种具有转接半导体测试结构

[实用新型]一种用于检测半导体功率模块铜线键合点虚焊的装置-CN202223140752.7有效
发明人：俞嘉炜 -专利权人：嘉兴斯达微电子有限公司
申请日： 2022-11-25 - 公布日： 2023-09-08 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种用于检测半导体功率模块铜线键合点虚焊的装置，包括：检测平台、悬吊架及检测头；所述检测平台的两外侧各设置有一安装槽，所述悬吊架包括横梁以及设置在所述横梁两端的两个支脚，所述悬吊架的两个所述支脚各装入一所述安装槽内，所述检测头设置于所述横梁上并朝向所述检测平台。该装置将键合完毕的模块放置于检测平台上，通过推动待检测模块，使检测头划过铜线键合点，将虚焊的键合点拨离原位置，使得虚焊的键合点被检测出，由于检测头位置固定，所以不会损伤键合点边上的芯片。
一种用于检测半导体功率模块铜线键合点虚焊装置

[发明专利]一种自动化半导体测试工装以及测试方法-CN202310679057.8在审
发明人：孙树祥;梅红樱;郑新艳 -专利权人：电子科技大学重庆微电子产业技术研究院
申请日： 2023-06-08 - 公布日： 2023-09-05 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种自动化半导体测试工装以及测试方法，包括箱体，所述箱体的前表面安装有防护门，所述箱体的一侧开设有面槽，在所述面槽的内部设置有传输机构，该传输机构包括：输送板，旋转安装在所述面槽的内部，且输送板的一端延伸至箱体的外部；所述输送板的两侧通过轴旋转连接有支撑条，该支撑条的顶部旋转安装在面槽的内壁上；旋转组件，设置在所述箱体的内部；通过设计的传输机构，能够根据加工需求将传输机构折叠收纳，实现隐藏放置，避免占用较大的操作空间，同时该传输机构为模块化设计，不占用箱体内部的空间，故能够在箱体内部增加功能性的模块，提升其功能延展的能力，完善了现有检测工装在使用中的不足。
一种自动化半导体测试工装以及方法

[发明专利]半导体芯片性能检测机构-CN202310563377.7在审
发明人：秦雪梅;周鑫淼;彭恩高;高停;沈亚男 -专利权人：中山市博测达电子科技有限公司
申请日： 2023-05-17 - 公布日： 2023-09-05 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明提出一种半导体芯片性能检测机构，包括浮动针模机构，该浮动针模机构用于接收半导体芯片，且设有用于与半导体芯片导通的铜针。该浮动针模机构包括针模基座和针模浮动座。该针模浮动座在一针模上升位置与一针模下降位置之间上下升降地安装于针模基座上。该针模浮动座上设有用于容置半导体芯片的针模容置腔以及贯穿针模容置腔的底部的针孔。该铜针的下端安装于针模基座上，该铜针的上端插入针孔中。该技术方案公开的浮动针模机构利用针模浮动座的位置切换来实现铜针与待检测的半导体芯片的隔绝或导通，在需要通电检测时使铜针与半导体芯片导通，而在不需要通电检测时使铜针与半导体芯隔绝，可提高检测的灵活性。
半导体芯片性能检测机构

[发明专利]一种IGBT模块二类短路的测试系统及方法-CN202310614607.8在审
发明人：易平森;陈舜;郑春阳 -专利权人：智新控制系统有限公司
申请日： 2023-05-24 - 公布日： 2023-09-05 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种IGBT模块二类短路的测试系统及方法，涉及电力电子技术领域，包括：第一IGBT、第二IGBT、IGBT驱动模块、可调电感和采集模块；第一IGBT和第二IGBT连接成IGBT桥臂与直流母线连接；可调电感与第一IGBT的续流二极管并联；IGBT驱动模块与第一IGBT和第二IGBT的栅极连接；采集模块与第二IGBT连接；当IGBT驱动模块控制第一IGBT关断、并以不同占空比控制第二IGBT导通和关断时，调节可调电感的电感量，采集模块采集并记录第二IGBT的短路参数。本发明加大IGBT模块出现二类短路的测试场景，尽量模拟IGBT模块实际出现的二类短路情况，确定不同二类短路条件下第二IGBT的短路参数，根据记录的第二IGBT的短路参数，可以确定第二IGBT及对应的IGBT驱动模块是否合理，以便于设计人员进行改进。
一种 igbt 模块短路测试系统方法

[发明专利]一种IGBT电热力学参量测试方法及系统-CN202310680367.1在审
发明人：王炳强;刘志宏;席元寿;岳嵩;扎西达娃;张春阳;平措顿珠;拉珍;边巴顿珠;刘洪春;杜娟;嘎玛平措;李世奎;张尧学;牛英福;安有斌;杨强波;更增;律方成;耿江海;袁成;刘轩仪 -专利权人：国网西藏电力有限公司经济技术研究院;华北电力大学（保定）
申请日： 2023-06-09 - 公布日： 2023-09-05 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种IGBT电热力学参量测试方法，涉及输变电设备运行状态检修领域，包括以下步骤：通过在高海拔环境下模拟IGBT模块的功率循环老化过程，采集IGBT模块的集电极电流的第一波形信号和集电极‑发射极电压的第二波形信号，并对IGBT模块的结温进行实时监测，获取IGBT模块在老化试验过程中的IGBT键合线的形变情况，依据DIC算法，获取形变情况对应的应力情况的电热力学参量；本发明提出的DIC数字图像相关技术作为一种非接触式测量方法，可以避免测量过程中对IGBT模块造成伤害或干扰，不仅可以测量IGBT模块键合线位移和形变，还可以测量剪切应力等多种参数。
一种 igbt 电热力学参量测试方法系统

[发明专利]晶闸管正向电压信号故障检测系统及检测方法-CN202210176606.5在审
发明人：崔恒丰;潘卫明;王永平 -专利权人：南京南瑞继保电气有限公司;南京南瑞继保工程技术有限公司
申请日： 2022-02-25 - 公布日： 2023-09-05 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本申请公开了晶闸管正向电压信号故障检测系统及检测方法，属于高压直流输电技术领域。该晶闸管正向电压信号故障检测系统包括IP故障检测使能模块，IP故障检测统计模块和IP故障动作出口模块，具有状态锁存功能；该检测方法用于检测旁通晶闸管巡检期间晶闸管IP故障，解决了以往晶闸管IP故障检测方法不适用于旁通晶闸管阀组承受正向直流电压并保持关断的运行方式和巡检持续时间有限，晶闸管IP信号上送不连续，上送时间不定期的运行特征的缺陷。
晶闸管正向电压信号故障检测系统方法

[发明专利]老化电路、芯片老化测试方法及芯片-CN202111327774.1有效
发明人：王辉;李建波;赵来钖 -专利权人：北京中电华大电子设计有限责任公司
申请日： 2021-11-10 - 公布日： 2023-09-05 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本申请公开了一种老化电路、芯片老化测试方法及芯片。该老化电路包括：随机数发生模块，根据模式信号生成老化图形；以及扫描链模块，至少根据模式信号将老化图形发送至待测电路，其中，随机数发生模块在接收到有效状态的模式信号之后，生成随机数，并根据随机数生成随机的老化图形。该老化电路降低了老化板硬件开发成本，并且提供了随机的老化图形，使得所有的图形组合都有机会被施加到待测电路，即待测电路中的所有逻辑结构都有机会被图形遍历到，保证了老化测试覆盖率。
老化电路芯片测试方法

[发明专利]一种基于单片机的晶体管参数智能检测系统-CN202111119156.8有效
发明人：谭华;李国;曹志斌;姚钘;康新晨;孙山林 -专利权人：桂林航天工业学院
申请日： 2021-09-24 - 公布日： 2023-09-05 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：一种基于单片机的晶体管参数智能检测系统，包括稳压电源、单片机模块，还具有模数转换电路、驱动电路、插接电路、插接口、数据库单元、判断单元、显示单元；稳压电源、单片机模块、模数转换电路、驱动电路、插接电路、插接口安装在元件盒内并电性连接；数据库单元、判断单元、显示单元是安装在单片机模块内的应用软件。本发明只需要把检测的三极管插入三个插接口内，单片机模块会分别控制三路插接电路中，每两路导通一次分别对三极管三个电极做多次测试，相应两个电极的压降模拟信号经模数转换模块进行AD转换，判断单元能对三极管类型及电极分布位置进行判断、并输出检测数据到显示单元。本发明给检测人员带来了便利，且提高了检测效率。
一种基于单片机晶体管参数智能检测系统