专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种氮化基功率器件的新型制备方法-CN202011300733.9在审
  • 郝惠莲 - 上海工程技术大学
  • 2020-11-19 - 2021-03-26 - H01L21/335
  • 本发明属于半导体的技术领域,公开了一种氮化基功率器件的新型制备方法,在衬底生长氮化外延层,然后,在所述氮化外延层依次生长第一氮化铝外延层、第二氮化铝外延层,再利用刻蚀停止工艺对第一氮化铝外延层进行刻蚀形成表面平整的栅极凹槽,刻蚀停止在第二氮化铝外延层,最后,制备漏电极、源电极和栅电极,完成器件制备。本发明的制备方法优化的外延生长方案,同时搭配刻蚀停止技术,既能加快刻蚀过程,又能保证刻蚀深度均匀、一致,从而使整个的器件得到均匀的阈值电压分布,对凹槽法的产业化应用提供了更好的选择。
  • 一种氮化功率器件新型制备方法
  • [发明专利]一种GaN‑on‑Si的制备方法-CN201510965134.1有效
  • 张森;陈爱华 - 中晟光电设备(上海)股份有限公司
  • 2015-12-21 - 2018-03-02 - C23C16/34
  • 本发明提供了一种利用MOCVD设备制备GaN‑on‑Si的方法,所述制备方法利用反应腔分步骤制备GaN‑on‑Si。具体步骤为在第一反应腔内通过外延反应在硅基衬底形成AlN薄膜,再在AlN薄膜沉积高铝组分AlGaN缓冲层;紧接着在第二反应腔内进一步沉积低铝组分AlGaN缓冲层,然后在该缓冲层沉积GaN层,制备得到GaN‑on‑Si,两个反应腔的主要区别在于第一反应腔的高度小于第二反应腔。本发明能有效地消除回熔产生的晶体缺陷导致电性良品率低等问题,同时提高的晶体质量,有效提升产能和降低外延生产的成本。
  • 一种ganonsi制备方法
  • [发明专利]解理面III族/氮化物磊结构及其主动元件与其制作方法-CN202010790369.2在审
  • 江文章 - 黄知澍
  • 2017-06-14 - 2020-12-01 - H01L21/329
  • 本发明是关于一种解理面III族/氮化物磊结构及其主动元件与其制作方法。在此解理面的氮化铝/氮化结构包含有一基底;一位于基底的氮化碳掺杂高阻值层;一位于氮化碳掺杂高阻值层的氮化铝缓冲层;一位于氮化铝缓冲层的氮化通道层;以及一位于氮化通道层的氮化铝层在元件设计藉由P型氮化倒置梯型栅极或阳极结构使解理面III族/氮化物磊结构内的二维电子气在P型氮化倒置梯型结构下方处能呈现耗尽状态,以制作出P型氮化栅极加强型氮化铝/氮化高速电子迁移率晶体管、P型氮化阳极氮化铝/氮化肖特基势垒二极管或混合型元件。
  • 解理iii氮化物结构及其主动元件与其制作方法
  • [发明专利]解理面III族/氮化物磊结构及其主动元件与其制作方法-CN202010790377.7在审
  • 江文章 - 黄知澍
  • 2017-06-14 - 2020-12-01 - H01L21/335
  • 本发明是关于一种解理面III族/氮化物磊结构及其主动元件与其制作方法。在此解理面的氮化铝/氮化结构包含有一基底;一位于基底的氮化碳掺杂高阻值层;一位于氮化碳掺杂高阻值层的氮化铝缓冲层;一位于氮化铝缓冲层的氮化通道层;以及一位于氮化通道层的氮化铝层在元件设计藉由P型氮化倒置梯型栅极或阳极结构使解理面III族/氮化物磊结构内的二维电子气在P型氮化倒置梯型结构下方处能呈现耗尽状态,以制作出P型氮化栅极加强型氮化铝/氮化高速电子迁移率晶体管、P型氮化阳极氮化铝/氮化肖特基势垒二极管或混合型元件。
  • 解理iii氮化物结构及其主动元件与其制作方法
  • [发明专利]解理面III族/氮化物磊结构及其主动元件与其制作方法-CN202010790472.7在审
  • 江文章 - 黄知澍
  • 2017-06-14 - 2020-12-01 - H01L21/335
  • 本发明是关于一种解理面III族/氮化物磊结构及其主动元件与其制作方法。在此解理面的氮化铝/氮化结构包含有一基底;一位于基底的氮化碳掺杂高阻值层;一位于氮化碳掺杂高阻值层的氮化铝缓冲层;一位于氮化铝缓冲层的氮化通道层;以及一位于氮化通道层的氮化铝层在元件设计藉由P型氮化倒置梯型栅极或阳极结构使解理面III族/氮化物磊结构内的二维电子气在P型氮化倒置梯型结构下方处能呈现耗尽状态,以制作出P型氮化栅极加强型氮化铝/氮化高速电子迁移率晶体管、P型氮化阳极氮化铝/氮化肖特基势垒二极管或混合型元件。
  • 解理iii氮化物结构及其主动元件与其制作方法
  • [发明专利]解理面III族/氮化物磊结构及其主动元件与其制作方法-CN202010791376.4在审
  • 江文章 - 黄知澍
  • 2017-06-14 - 2020-12-01 - H01L29/06
  • 本发明是关于一种解理面III族/氮化物磊结构及其主动元件与其制作方法。在此解理面的氮化铝/氮化结构包含有一基底;一位于基底的氮化碳掺杂高阻值层;一位于氮化碳掺杂高阻值层的氮化铝缓冲层;一位于氮化铝缓冲层的氮化通道层;以及一位于氮化通道层的氮化铝层在元件设计藉由P型氮化倒置梯型栅极或阳极结构使解理面III族/氮化物磊结构内的二维电子气在P型氮化倒置梯型结构下方处能呈现耗尽状态,以制作出P型氮化栅极加强型氮化铝/氮化高速电子迁移率晶体管、P型氮化阳极氮化铝/氮化肖特基势垒二极管或混合型元件。
  • 解理iii氮化物结构及其主动元件与其制作方法

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