专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]缺陷检测方法、设备及存储介质-CN202310708054.2在审
  • 陈昭皓 - 长鑫存储技术有限公司
  • 2023-06-14 - 2023-10-20 - H01L21/66
  • 本公开提供一种缺陷检测方法、设备及存储介质。缺陷检测方法执行至少一个预设功能层检测步骤,预设功能层检测步骤包括:于晶圆上形成预设功能层;对预设功能层进行电测试,得到预设功能层的电参数;根据预设功能层的电参数,确定预设功能层对应的加工工艺是否存在缺陷通过电测试得到晶圆的电参数,能够确定出预设功能层对应的加工工艺是否存在缺陷,降低了缺陷检测的复杂。同时,由于在一个预设功能层形成后,进行电测试确定对应的加工工艺是否存在缺陷,能够追溯到存在缺陷的加工工艺从而提高了缺陷检测的效率。并且,由于无需制成完整的流片即可检测出加工工艺是否存在缺陷,降低了缺陷检测所需的时间。
  • 缺陷检测方法设备存储介质
  • [发明专利]晶圆缺陷分析系统-CN201310491945.3有效
  • 郭贤权;许向辉;陈超 - 海华力微电子有限公司
  • 2013-10-18 - 2014-01-22 - H01L21/66
  • 本发明提供一种晶圆缺陷分析系统,包括:晶圆缺陷扫描库,用于存储设定时间内的晶圆扫描机台扫描的晶圆的缺陷扫描图,缺陷位置获取单元用于对所述位置信息进行排序,缺陷位置匹配单元用于对一个晶圆的缺陷扫描图中的一个缺陷的位置信息与另一个晶圆的缺陷扫描图的一个缺陷的位置信息进行匹配,并标记匹配组;缺陷组分析单元用获得缺陷组的位置信息;缺陷组关联分析单元,用于对两个晶圆之间的缺陷组的位置信息进行关联分析,缺陷标记单元用于将存在关联缺陷缺陷扫描图中高亮显示。本发明能够对晶圆缺陷扫描图能够分析,将存在关联缺陷高亮标出,便于对晶圆特定位置相同缺陷的情况进行及时的排查,节约人力和时间。
  • 缺陷分析系统
  • [发明专利]一种钛合金家具生产质量监控系统-CN202310893846.1有效
  • 许云涛 - 吴江市高瑞庭园金属制品有限公司
  • 2023-07-20 - 2023-10-20 - G06Q10/0639
  • 该系统根据像素点邻域范围内边缘线的混乱程度得到缺陷可能,根据像素点的缺陷可能和显著获取缺陷显著值;基于像素点的梯度方向的分布特征判断出反光类型并获取反光中心,然后得到像素点的反光程度;若存在反光,则根据像素点的反光程度对缺陷显著值进行修正获取最终显著值,否则将缺陷显著值作为最终显著值,进而根据最终显著值识别出缺陷区域。本发明通过像素点的缺陷可能和显著获取的缺陷显著值,基于不同的反光类型获取像素点的反光程度并对缺陷显著值进行修正,在保留缺陷像素点突出的同时消除了反光的影响,有效的提高了对缺陷区域识别的准确
  • 一种钛合金家具生产质量监控系统
  • [发明专利]表面缺陷的周期规律实时判定方法-CN202111164216.8在审
  • 许俊炜;葛铭;沈井学;魏江 - 杭州百子尖科技股份有限公司
  • 2021-09-30 - 2022-01-14 - G01N21/892
  • 本发明涉及一种表面缺陷的周期规律实时判定方法,为:S1、获取预设的横向误差范围ΔH、纵向误差范围ΔL、周期最小缺陷数量M、允许跳空数量E、最大辊筒的周长Smax和最小辊筒的周长为Smin;S2、获取表面缺陷检测系统检测出的最新缺陷Fn的缺陷结构化数据,缺陷结构化数据包括横向坐标CD、纵向坐标MD和缺陷分类Class;S3、将最新缺陷Fn加入缺陷缓存列表;S4、将Fn与周期趋势缓存列表中的趋势匹配计算,若匹配满足任一趋势则将相应趋势加入相应周期趋势缓存列表,结束本次计算;若不能匹配任一趋势则继续执行S5;S5、将最新缺陷Fn缺陷缓存列表中在先已加入的缺陷基于缺陷结构化数据进行周期数据匹配
  • 表面缺陷周期性规律实时判定方法
  • [发明专利]检测缺陷点聚集的方法及装置-CN201910169245.X有效
  • 杨姗姗;胡龙敢;冯玉春 - 京东方科技集团股份有限公司;福州京东方光电科技有限公司
  • 2019-03-06 - 2021-11-30 - G06T7/00
  • 本发明公开了一种检测缺陷点聚集的方法及装置,涉及自动光学检测技术领域,提高了检测缺陷点图中的缺陷点是否具有聚集的检测效率和准确,本发明的主要技术方案为:获取待检测缺陷点图、分区方式、分区数量及方差阈值;根据所述分区方式及所述分区数量对所述待检测缺陷点图进行区域分割处理,以获得多个分区;确定每个所述分区对应的缺陷点数量,并根据每个所述分区对应的缺陷点数量计算每个所述分区对应的归一化占比值;计算多个所述归一化占比值对应的方差值;判断所述方差值是否大于所述方差阈值;若是,则确定所述待检测缺陷点图中的缺陷点具有聚集。本发明应用于检测缺陷点图中的缺陷点是否具有聚集的过程中。
  • 检测缺陷聚集方法装置
  • [发明专利]一种显示装置的亮度缺陷检测方法与装置-CN201710846527.X有效
  • 史超超 - 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司
  • 2017-09-18 - 2020-05-05 - G06T7/00
  • 本发明公开了一种显示装置的亮度缺陷检测方法与装置。该方法包括如下步骤:输入第一图像;检测第一图像的点状缺陷,并对点状缺陷进行补偿以得到第二图像;检测第二图像的线状缺陷,并对线状缺陷进行补偿以得到第三图像;检测第三图像的块状缺陷;将第一图像的点状缺陷、第二图像的线状缺陷以及第三图像的块状缺陷整合,以得到亮度缺陷检测结果。本发明公开了一种显示装置的亮度缺陷检测方法与装置,通过检测点状缺陷与线状缺陷,使用缺陷临近像素值填充缺陷,减少点状缺陷与线状缺陷对块状缺陷检测的影响,提高了块状缺陷检测的准确,同时还提高了检测的多样与准确,克服了单一类型的亮度缺陷检测。
  • 一种显示装置亮度缺陷检测方法装置

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