“缺陷性”专利关键词查询_检索下载_查询列表_检索列表_行业专利分布_钻瓜专利网

钻瓜专利网为您找到相关结果6856272个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]超/特高压GIS设备盆式绝缘子缺陷的综合评定方法-CN202010251764.3有效
发明人：杨为;朱太云;田宇;柯艳国;朱胜龙;张国宝;赵恒阳;蔡梦怡;陈忠;李坚林;罗沙;甄超;谢佳;宋东波;赵常威;杨海涛;秦金飞;张晨晨;钱宇骋;杨熙 -专利权人：国网安徽省电力有限公司电力科学研究院;国网安徽省电力有限公司;合肥工业大学
申请日： 2020-04-01 - 公布日： 2022-03-22 - 主分类号： G01R31/12 文献下载
摘要：本发明公开了一种超/特高压GIS设备盆式绝缘子缺陷的综合评定方法，包括确定GIS设备典型盆式绝缘子上存在的主要潜伏性缺陷情况；建立电场有限元分析程序，并通过仿真和试测得到盆式绝缘子各类缺陷下的电场畸变系数；计算盆式绝缘子各类缺陷下不同径向距离的电场强度；根据闪络类型进行缺陷分类、构造潜伏性缺陷的综合评价函数并根据评价函数值对盆式绝缘子缺陷等级进行评定。本发明实现了在不拆卸GIS设备的前提下，对盆式绝缘子潜伏性缺陷进行定量分析，在很大程度上减少或者避免了由于盆式绝缘子潜伏性缺陷引发的各类事故，确保了GIS设备安全可靠运行乃至整个电力系统的稳定运行，具有广泛的实用性和经济性
高压 gis 设备绝缘子缺陷综合评定方法

[发明专利]显示面板的缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质-CN202110572435.3在审
发明人：汪浩;刘阳兴 -专利权人：武汉TCL集团工业研究院有限公司
申请日： 2021-05-25 - 公布日： 2022-11-25 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本申请公开了一种显示面板的缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质，其中，获取待检测显示面板的面板图像，并通过缺陷定位模型对面板图像进行缺陷定位，相应裁剪出面板图像中存在缺陷的缺陷区域，再通过缺陷分类模型对缺陷区域进行缺陷分类，确定缺陷区域的缺陷类别。一方面，通过采用基于人工智能的缺陷检测方式来代替传统的人工目视检测，能够避免人工的主观判断，从而提升缺陷检测结果的准确性。另一方面，通过将缺陷检测划分缺陷定位和缺陷分类两部分进行，首先定位出缺陷区域，再裁剪出缺陷区域进行缺陷分类，可以避免缺陷区域外的图像内容对缺陷分类的影响，能够进一步提升缺陷检测结果的准确性。
显示面板缺陷检测方法装置电子设备存储介质

[发明专利]非原子性缺陷的检测方法、电子设备及存储介质-CN202110312017.0在审
发明人：张平;邵俊;朱玉屏;申岳;蔡一涵;杨卫东 -专利权人：中国民用航空上海航空器适航审定中心;上海复佳信息科技有限公司
申请日： 2021-03-24 - 公布日： 2021-06-15 - 主分类号： G06F40/194 文献下载
摘要：本发明实施方式涉及数据处理领域，公开了一种非原子性缺陷的检测方法、电子设备及存储介质。本发明中，非原子性缺陷的检测方法包括：将需求语句输入检测模块；其中，所述检测模块为预先训练至收敛的用于判断需求语句是否存在非原子性缺陷的模型，所述检测模块包括迁移学习模型和卷积神经网络模型；根据所述检测模块的输出数据，判断所述需求语句是否存在非原子性缺陷。该实施方式提高了非原子性缺陷检测的准确性。
原子缺陷检测方法电子设备存储介质

[发明专利]一种基于语义分析算法的IT设备运维故障建议处理方法-CN202110296648.8在审
发明人：钟保强;钟建栩;佘俊;谭毅恺;董天波;王伟;朱磊;鞠耀东 -专利权人：南方电网调峰调频发电有限公司信息通信分公司
申请日： 2021-03-19 - 公布日： 2021-07-02 - 主分类号： G06F40/30 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于语义分析算法的IT设备运维故障建议处理方法，获取IT设备运维的故障缺陷数据，对故障缺陷数据进行分类并根据分类信息生成故障识图谱，根据故障知识图谱提取缺陷数据的缺陷描述过程，将缺陷描述过程生成缺陷处理问题，根据缺陷处理问题对应排布成一个故障缺陷描述‑缺陷处理问题模型，利用语义分析对故障缺陷描述‑缺陷解处理问题模型中的每个IT设备故障缺陷数据样本进行训练，获取IT设备故障缺陷的处理建议，然后搜索与缺陷处理问题对应的缺陷处理建议，将搜索的缺陷处理建议进行排序和筛选，并对排序和筛选的处理建议进行推送。本发明的处理方法提高了IT设备缺陷处理建议的完整性和准确性。
一种基于语义分析算法 it 设备故障建议处理方法

[发明专利]基于文本的缺陷分析方法、装置、电子设备及存储介质-CN202211336975.2在审
发明人：陈洪美;黄翔;刘昊成;罗垚;徐雅琳;穆琼 -专利权人：中国农业银行股份有限公司
申请日： 2022-10-28 - 公布日： 2023-01-17 - 主分类号： G06F16/34 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于文本的缺陷分析方法、装置、电子设备及存储介质。所述基于文本的缺陷分析方法，包括：获取待进行缺陷分析的缺陷文本信息；对所述缺陷文本信息进行预处理，得到缺陷数据；基于所述缺陷数据和设定词库确定特征词，所述设定词库至少包括所述缺陷文本信息所对应业务场景下的词；基于所述缺陷数据和所述特征词确定缺陷分析结果信息；将所述缺陷分析结果信息可视化展示。上述技术方案通过在缺陷分析的过程中结合设定词库，使缺陷分析结果更接近实际业务需要，提高了缺陷分析的准确性，同时通过将缺陷分析结果信息可视化展示，便于通过缺陷分析结果对系统进行改进，提高了缺陷分析的便捷性
基于文本缺陷分析方法装置电子设备存储介质

[发明专利]缺陷检测系统及缺陷检测方法-CN201280031559.X无效
发明人：中野拓巳 -专利权人：尤妮佳股份有限公司
申请日： 2012-06-29 - 公布日： 2014-03-12 - 主分类号： A61F13/15 文献下载
摘要：种缺陷检测系统（100）包括：图像处理单元（130）、缺陷检测单元（140）以及图像显示单元（120），其中，该图像处理单元（130）被构造成获取吸收性物品的形态图像，该吸收性物品的形态图像示出了在多个步骤的每一步骤中的吸收性物品加工后的形态，该缺陷检测单元（140）被构造成基于由图像处理单元（130）获取的形态图像而检测加工后的吸收性物品是否存在缺陷部位，该图像显示单元（120）被构造成当由缺陷检测单元（140）检测出吸收性物品的缺陷部位时显示加工后的吸收性物品的图像
缺陷检测系统方法

[发明专利]基于多维度分析的断路器家族性缺陷辨识方法-CN201710459009.2有效
发明人：李晋伟;陈岳;陆潭;宋云海;张晗;尚佳宁;张怿宁;王振;黄义隆;甘振宁;何珏 -专利权人：中国南方电网有限责任公司超高压输电公司检修试验中心;靖西市第二中学
申请日： 2017-06-16 - 公布日： 2020-08-11 - 主分类号： G06Q10/06 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于多维度分析的断路器家族性缺陷辨识方法，从运行多年积累的大量电力设备缺陷信息中筛选出近5年的断路器缺陷信息，经过处理形成不同电压等级的断路器缺陷信息表，应用了数理统计的知识，从缺陷曲线相关系数、曲线值的偏离程度及缺陷严重等级比例关系三个维度对筛选出的有关断路器的大量缺陷信息进行分析，从缺陷信息表中找出存在家族性缺陷的断路器。本发明具有算法简单的特点，能较快找出运行中存在家族性缺陷的断路器，并及时消缺。
基于多维分析断路器家族缺陷辨识方法

[发明专利]焊缝内危害性缺陷的安全性分级方法-CN201910122131.X有效
发明人：杨希刚;代真;刘长福;崔青汝;陈骞;许永胜;李烨;赵月;修延峰 -专利权人：国电锅炉压力容器检验有限公司
申请日： 2019-02-19 - 公布日： 2023-06-02 - 主分类号： G01N29/44 文献下载
摘要：本发明公开了一种焊缝内危害性缺陷的安全性分级方法，首先获取焊缝缺陷在不同的应力水平下的应力强度因子K，并通过试验测量或者查阅手册资料获得焊缝的断裂韧性Kc；然后计算安全系数及临界扩展尺寸，获取对应应力下的缺陷尺寸并绘制标准曲线，最后获取焊缝裂纹安全系数，对焊缝缺陷进行分级处理。本发明发展了一种准确且有效的焊接缺陷评定方法，突破了不允许裂纹、未熔合等危害性缺陷的界限，对于缺陷的处理具有明确的指导意义。
焊缝危害性缺陷安全性分级方法

[发明专利]一种缺陷识别方法、装置、设备及存储介质-CN202110893431.5在审
发明人：邹扬 -专利权人：格创东智（深圳）科技有限公司
申请日： 2021-08-04 - 公布日： 2023-02-17 - 主分类号： G06F18/2321 文献下载
摘要：本申请提供一种缺陷识别方法、装置、设备及存储介质，涉及了显示技术领域，解决了无法及时确认异常原因，导致大批量的产品报废的问题，包括获取多个待识别缺陷产品的待分析缺陷数据，待分析缺陷数据包含待识别缺陷产品的产品制程机台信息；对多个待分析缺陷数据进行聚集性分析，得到多个缺陷分析结果，缺陷分析结果为具有缺陷聚集性的待分析缺陷数据；根据多个缺陷分析结果，确定异常高发产品制程机台信息和多个待识别缺陷产品的缺陷类型。本申请可以快速定位出待识别缺陷产品的缺陷类型以及异常高发的产品制程机台，能够及时确认异常原因，缩短异常处理时间，降低产品报废率。
一种缺陷识别方法装置设备存储介质

[发明专利]基于机器视觉的缺陷检测方法、装置、终端及存储介质-CN202210944247.3有效
发明人：郭媛君;刘祥飞;吴承科;张亚宁;汪军;谭家娟;蒋锐;杨之乐 -专利权人：中科航迈数控软件（深圳）有限公司
申请日： 2022-08-08 - 公布日： 2022-11-11 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明公开了基于机器视觉的缺陷检测方法、装置、终端及存储介质。本发明通过获取目标部件各常见受损部位分别对应的缺陷图像集，通过这些缺陷图像集确定目标部件上缺乏缺陷数据的区域。针对缺乏缺陷数据的区域制作补充图像集，以增加缺陷检测模型的缺陷数据集的种类。解决了现有技术中缺陷检测模型的训练数据通常只包含有加工部件上常见受损区域的缺陷数据，训练数据种类局限，导致训练出的缺陷检测模型的准确性和可靠性不高的问题。
基于机器视觉缺陷检测方法装置终端存储介质

[发明专利]复合材料层压结构超声概率试块内部缺陷的设置方法-CN201711290001.4在审
发明人：刘松平;刘菲菲;李乐刚;荀国立 -专利权人：中航复合材料有限责任公司
申请日： 2017-12-07 - 公布日： 2018-09-21 - 主分类号： G01N29/30 文献下载
摘要：本发明属于无损检测技术领域，涉及复合材料层压结构超声概率试块内部缺陷的设置方法。设置内部缺陷的步骤如下：确定内部缺陷的大小；确定内部缺陷的形状；确定内部缺陷的深度位置；确定内部缺陷阵列单元；确定内部缺陷数。本发明考虑了超声对缺陷的检出概率因素和缺陷重复性问题，能反映缺陷的重复性，能用于评价超声对复合材料层压结构中的缺陷检出概率，便于对检测工艺、检测人员、检测设备等进行综合优化，进而提高了超声检测结果的可靠性和准确性
内部缺陷超声复合材料层概率检出试块无损检测技术重复性问题超声检测检测设备深度位置阵列单元综合优化检测

[发明专利]一种冷轧带钢表面缺陷原因分析方法及系统-CN201410026959.2有效
发明人：孔建益;刘军伟;石甜;杨壮;王兴东 -专利权人：武汉科技大学
申请日： 2014-01-21 - 公布日： 2017-02-01 - 主分类号： G06K9/66 文献下载
摘要：本发明涉及一种冷轧带钢表面缺陷原因分析系统，包括实时缺陷图像输入单元、缺陷原因匹配单元、输入单元、缺陷原因输出单元和基于学习向量量化神经网络的缺陷原因特征知识库，实时缺陷图像输入单元、缺陷原因输出单元和缺陷原因特征知识库均与缺陷原因匹配单元电连接，缺陷原因特征知识库、缺陷原因输出单元和所述缺陷原因匹配单元均与输入单元电连接。本发明通过隐藏于专家头脑中的经验型缺陷原因知识建立缺陷原因特征库，当输入实时图像信息时，能实时显示缺陷原因匹配结果。系统运行速度快，且精度高、效率高、实时性强、实用性强，操作简单，大大提高了生产效率，降低缺陷率和生产成本。
一种冷轧带钢表面缺陷原因分析方法系统

[发明专利]一种基于机器视觉的胡萝卜表面缺陷识别量化方法-CN201910162568.6有效
发明人：杨德勇;谢为俊;姜雨;刘艳;陈鹏枭;王凤贺;李小强;魏硕 -专利权人：中国农业大学
申请日： 2019-03-05 - 公布日： 2020-06-30 - 主分类号： G01N21/952 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于机器视觉的胡萝卜表面缺陷识别量化方法，包括：胡萝卜图像的预处理；胡萝卜断裂缺陷识别量化方法、胡萝卜弯曲缺陷识别量化方法、胡萝卜开裂缺陷识别量化方法、胡萝卜须根缺陷识别量化方法和胡萝卜虫眼缺陷识别量化方法；本发明所公开的胡萝卜断裂、弯曲、开裂、须根和虫眼等缺陷识别量化检测方法利用CCD相机获得胡萝卜实时图像，基于图像处理技术对获得的实时图像进行缺陷识别量化，克服了人工检测的主观性，提高了缺陷识别量化的客观性和准确性
一种基于机器视觉胡萝卜表面缺陷识别量化方法

[发明专利]一种半导体工艺图形缺陷的检测方法-CN202310333354.7在审
发明人：曹云;顾晓芳;魏芳 -专利权人：上海华力微电子有限公司
申请日： 2023-03-31 - 公布日： 2023-06-27 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明提供一种半导体工艺图形缺陷的检测方法，通过虚拟工艺模型预测产品，得出各工艺高风险热点分布图，通过设定不同区域扫描程式参数，提升高风险区域的灵敏度，优化缺陷扫描程式和缺陷抽检方式，解决部分工艺系统性缺陷漏报问题，同时提升发现产品在线工艺缺陷的速度，提高在线缺陷监控的全面性和时效性，及时优化工艺，提升良率。
一种半导体工艺图形缺陷检测方法

[发明专利]设计关键性分析扩充的工艺窗合格取样-CN201880056906.1有效
发明人： J·C·萨拉斯瓦图拉;S·巴纳吉;A·库尔卡尼 -专利权人：科磊股份有限公司
申请日： 2018-08-30 - 公布日： 2021-11-05 - 主分类号： G03F7/20 文献下载
摘要：本发明提供可基于设计图案的关键性以及工艺窗合格PWQ的缺陷属性来选择缺陷的技术。基于工艺条件及设计的类似性来将缺陷分类成数个类别。可对随机缺陷执行基于形状的分组。可从所述储格选择特定缺陷。可重检这些缺陷。
设计关键性分析扩充工艺合格取样