专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]缺陷检测装置、缺陷修复装置、缺陷检测方法-CN201110072153.3无效
  • 山本修平;中西秀信;植木章太 - 夏普株式会社
  • 2011-03-16 - 2011-12-14 - G01N21/88
  • 本发明公开一种缺陷检测装置、缺陷修复装置、缺陷检测方法。本发明提供即使在缺陷包含多种颜色的图像元素的情况下、也能根据所包含的颜色的比例以适当基准进行判断的缺陷检测装置。该缺陷检测装置包括:拍摄显示面板并获取作为图像数据的拍摄部;从图像数据提取缺陷部位候选的缺陷部位检测部;确定关于缺陷部位候选的对象物的图像元素的颜色的颜色确定部;及对对比度值乘以根据颜色不同而不同的修正系数以计算出缺陷度、并在缺陷度大于判定值的情况下判定为缺陷的好坏判定部,好坏判定部在一个缺陷部位候选包含多种颜色的图像元素的情况下,对每一颜色的对比度值乘以根据颜色不同而不同的修正系数之后进行总计以计算出缺陷度。
  • 缺陷检测装置修复方法
  • [发明专利]缺陷检测装置、缺陷修正装置及缺陷检测方法-CN201310377121.3在审
  • 大庭博明 - NTN株式会社
  • 2013-08-26 - 2014-03-12 - G01N21/88
  • 发明的缺陷检测装置包括:摄像头,该摄像头拍摄基板并输出电信号;以及图像处理装置,该图像处理装置中输入有由摄像头输出的电信号。图像处理装置使用从电信号中得到的多个信号各自的图像对比度中较大的对比度,来检测基板的缺陷部。由于使用多个信号各自的图像对比度中较大的对比度来检测缺陷部,因此即使对于在被区分为各信号之前的图像中与正常部之间的对比度较小的缺陷部,也能够检测出缺陷部,而不会使灵敏度显著降低。
  • 缺陷检测装置修正方法
  • [发明专利]缺陷检查装置缺陷检查方法-CN200710086201.8无效
  • 冈部浩史;金谷义宏;松本俊彦 - 欧姆龙株式会社
  • 2007-03-09 - 2007-09-12 - G01N21/95
  • 本发明提供一种能够提高对检查区域的端部的缺陷检查的精度的缺陷检查装置以及缺陷检查方法。光源(1A、1B)以使彼此的照射区域(检查区域)的端部重叠的方式分别发出照射光(LA1、LB1)。主控制部件(3)合成两个图像并判定有无缺陷。照射光(LA1、LB1)从相互不同的方向发射到被检查面(A),从而使各图像中表示缺陷的区域的位置稍微错位。因此,在各图像中,即使表示缺陷的区域的面积小,但通过重叠两个图像,也能够使在合成后的图像中表示缺陷部的区域的面积变大。由此能够提高对检查区域的端部的缺陷检测的精度。
  • 缺陷检查装置方法
  • [发明专利]缺陷检测装置、缺陷检测方法-CN201380029536.X有效
  • 永田泰昭;佐藤雄伍 - 新日铁住金株式会社
  • 2013-06-06 - 2017-06-23 - G01N29/04
  • 缺陷检测装置(100)包括相位阵列探头(120),其设置于电阻焊接钢管(200)的外表面(200G)的外侧,排列有多个超声波振子(121);发送部(144),其从由排列于相位阵列探头(120)的多个超声波振子中的一部分的多个超声波振子构成的探伤用超声波振子组与电阻焊接钢管(200)的外表面(200G)呈斜角向电阻焊接钢管(200)的外表面(200G)输出探伤用超声波束(131);接收部(145),其借助探伤用超声波振子组接收反射后的探伤用超声波束(131);以及缺陷判断部(147),其基于接收部(145)所接收的探伤用超声波束(131)判断焊接部(210)是否存在缺陷
  • 缺陷检测装置方法程序以及存储介质
  • [发明专利]缺陷判断装置和缺陷判断方法-CN201510072769.9在审
  • 吉冈智良;今井克树 - 夏普株式会社
  • 2015-02-11 - 2015-09-30 - H01L21/67
  • 一种缺陷判断装置,确定制造装置引起的缺陷。本发明的一个实施方式的缺陷判断装置(10)具备:第1候选确定部(14),其将工件中的检查区域分割为规定的多个分割区域,将包括阈值以上的缺陷的分割区域设定为第1缺陷候选区域;以及第2候选确定部(15),其在由特定制造装置连续处理后的A个工件的组中将B个以上的工件中包含第1缺陷候选区域的分割区域的位置判断为该组的第2缺陷候选区域。
  • 缺陷判断装置方法
  • [发明专利]缺陷检查系统及缺陷检查方法-CN201810800030.9在审
  • 尾崎麻耶;广濑修 - 住友化学株式会社
  • 2018-07-19 - 2019-02-01 - G01N21/88
  • 本发明提供缺陷检查系统及缺陷检查方法。缺陷检查系统(1)具备光源(2)、摄像部(3)、输送部(4)及图像处理部(5),由图像处理部(5)基于对与二维图像(F)所包含的缺陷的类别的识别相关的机械学习的结果进行积累得到的数据,来识别由摄像部(3)按离散时间拍摄出的一系列的二维图像所包含的缺陷的类别,因此通过将机械学习适用于按离散时间拍摄出的二维图像而使识别精度提高,除此以外,由摄像部(3)拍摄出在二维图像的与输送方向(X)一致的方向上亮度发生变化的二维图像,因此机械学习被适用于在按离散时间拍摄出的二维图像中的沿着输送方向的各部位处亮度发生变化的二维图像,能够提高缺陷(D)的识别精度。
  • 二维图像缺陷检查系统摄像部拍摄图像处理部缺陷检查光源学习积累
  • [发明专利]缺陷检测装置和缺陷检测方法-CN201710108958.6在审
  • 濑户基司;村上浩明 - 株式会社东芝
  • 2012-08-29 - 2017-08-18 - G01R31/04
  • 提供缺陷检测装置和缺陷检测方法。一实施方式的缺陷检测装置具备测定部,测定向被检查装置输入信号之后到接收由被检查装置的缺陷部位反射的反射信号为止的第1时间;存储部,存储表示与多个部件或多个部分分别相应的传导特性的多个模型数据;控制部,对于被检查装置内的检查对象的范围时间代入与第2部分对应的模型数据来运算第2部分中的第1预测传导距离,该第2时间是从第1时间减去与向第1部分输入信号之后反射而接收所花费的时间相当的时间而得到的时间;以及显示部,其基于运算结果在图像数据显示缺陷部位的位置
  • 缺陷检测装置方法

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