专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]封装结构封装方法-CN201310025212.0在审
  • 薛淦浩;杨之光;古永延 - 巨擘科技股份有限公司
  • 2013-01-24 - 2014-06-18 - H01L23/488
  • 本发明提供一种封装结构封装方法,封装结构包括IC裸晶,多个裸晶焊垫形成在所述IC裸晶表面;柔性封装基板,多个上部焊垫形成在所述柔性封装基板的上表面及多个下部焊垫形成在所述柔性封装基板的下表面;以及多个凸块,预先形成在柔性封装基板上表面,所述凸块分别具有不同的高度,与上部焊垫分别对应且分别与裸晶焊垫接触,加压或加热用以对IC裸晶封装;电路板,具有多个电路板接点,柔性封装基板的下部焊垫分别通过锡球与电路板接点接触本发明,对封装基板、电路板仅产生极低应力,解决应力导致凸块、锡球接合断裂以及因凸块、锡球大小、尺寸、形状等差异发生空焊、冷焊情形的问题。
  • 封装结构方法
  • [发明专利]封装结构封装方法-CN201610369670.X在审
  • 王之奇;王卓伟;陈立军 - 苏州晶方半导体科技股份有限公司
  • 2016-05-30 - 2016-09-28 - H01L27/146
  • 一种封装结构封装方法,其中,所述封装方法包括:提供芯片单元,所述芯片单元具有第一表面,所述第一表面包括器件区域;提供保护盖板,所述保护盖板具有第二表面;形成粘度可变的粘合单元,将所述芯片单元的第一表面与所述保护盖板的第二表面相对粘结本发明实施例的封装方法,通过光源照射或者加热的方式,形成具有不同粘度的第一区域和第二区域,使芯片单元与保护盖板之间的结合力降低但并未完全消除,在后续封装结构上板期间,保护盖板仍能保护封装结构不受污染或者损伤
  • 封装结构方法
  • [发明专利]封装方法及封装结构-CN201811572256.4在审
  • 杨天伦 - 中芯集成电路(宁波)有限公司
  • 2018-12-21 - 2020-06-30 - B81B7/00
  • 本发明提供一种封装方法及封装结构,所述封装方法,首先采用晶圆级封装方式将具有第一电学连接端点、第一器件组件的第一晶圆和具有第二电学连接端点、第二器件组件的第二晶圆键合,并进行切割而形成呈阶梯型的晶片,且该晶片中的第二电学连接端点和第一电学连接端点呈阶梯状分布再将所述晶片键合到具有第三电学连接端点和第三器件组件的第三晶圆上,且该晶片暴露出所述第三电学连接端点,由此使得第一电学连接端点、第二电学连接端点和第三电学连接端点依次呈阶梯状分布,由此,可以降低重布线结构的制作工艺难度和封装成本,且能实现一种多种器件集成封装的三维封装方案,有利于提高产品集成度。
  • 封装方法结构
  • [发明专利]封装方法及封装结构-CN201911012472.8在审
  • 黄河;石虎;刘孟彬;张树金;王敬平 - 中芯集成电路(宁波)有限公司上海分公司
  • 2019-10-23 - 2020-12-22 - H01L21/56
  • 一种封装方法及封装结构封装方法包括:提供基板以及键合于基板上的芯片;在基板上形成覆盖芯片的封装层,封装层包括多层子封装层,且沿基板指向芯片的方向上,子封装层的材料的热膨胀系数逐渐减小。本发明的封装层包括多层子封装层,且沿基板指向芯片的方向上,子封装层的材料的热膨胀系数逐渐减小,也就是说,靠近芯片的子封装层的材料的热膨胀系数较大,芯片不易发生碎裂,相应的,远离芯片的子封装层的材料的热膨胀系数较小,这有利于降低基板的翘曲度;因此,通过使子封装层的材料的热膨胀系数沿基板指向芯片的方向上逐渐减小,能够在降低芯片发生碎裂的概率的时,降低基板的翘曲度,从而提高封装可靠性。
  • 封装方法结构
  • [发明专利]封装方法及封装结构-CN201910150401.8在审
  • 孔云龙 - 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
  • 2019-02-28 - 2020-09-04 - H01L21/82
  • 一种封装方法及封装结构,提供的封装方法中,包括提供晶圆,所述晶圆上具有若干芯片,且芯片之间通过切割道分隔;在所述切割道上表面形成绝缘层。对芯片进行封装时,由于所述切割道内具有绝缘层,当晶圆上若干芯片被切割分离后,所述芯片四周残余的切割道内具有的测试焊垫,所述测试焊垫与外界不导通,从而也避免了所述测试焊垫与芯片上的电极表面形成短路的情况,避免封装后的芯片失效。对应的还提供所述封装结构,包括芯片以及切割道,所述切割道位于所述芯片边缘;还包括绝缘层,所述绝缘层位于所述切割道表面,所述绝缘层具有绝缘作用,使得所述切割道与外界不导通。
  • 封装方法结构
  • [发明专利]封装方法及封装结构-CN201910097526.9在审
  • 陈建铭;林平平 - 台达电子国际(新加坡)私人有限公司
  • 2019-01-31 - 2020-05-19 - H01L21/60
  • 本发明提供一种封装方法及封装结构封装方法包括:首先,提供半封装单元,半封装单元包含嵌于绝缘结构内的电子组件、导热结构、第一金属层及第二金属层,第一金属层贴附于电子组件,第二金属层贴附于导热结构;接着,移除部分的绝缘结构以形成设置于半封装单元的边缘处的至少一凹部,并移除部分的绝缘结构使得于半封装单元的一侧形成多个第一开孔,以暴露出第一金属层及第二金属层;接着,形成一第一金属重布线层以连接绝缘结构、第一金属层及第二金属层;接着,于第一金属重布线层上形成多个第二开孔
  • 封装方法结构

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