专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]基于模拟实际工艺生成单晶硅氧化层的缺陷结构的方法-CN202210762588.9在审
  • 李兴冀;刘中利;李伟奇;杨剑群 - 哈尔滨工业大学
  • 2022-06-30 - 2022-09-30 - G06F30/20
  • 本发明提供了一种基于模拟实际工艺生成单晶硅氧化层的缺陷结构的方法,涉及半导体材料计算模拟技术领域,包括如下步骤:步骤S1:根据实际热氧化工艺的工艺参数,利用缺陷性质仿真模拟软件构建单晶硅氧化层的界面结构;识别并删除所述界面结构空洞中的分子以及真空层中的分子;步骤S2:在需要统计的界面结构的深度范围中截取出独立结构,识别并统计所述独立结构中的结构参数,所述结构参数包括缺陷密度和缺陷类型。本发明通过结构参数掌握该独立结构中的结构特征,有利于准确掌握无序体系的缺陷密度和缺陷类型等重要结构特征,对于建立缺陷微观结构与宏观制备工艺或半导体器件之间的连接关系具有重要意义。
  • 基于模拟实际工艺生成单晶硅氧化缺陷结构方法
  • [发明专利]一种基于超椭圆方程的随机孔洞缺陷材料离散元建模方法-CN201811338795.1有效
  • 姜胜强;叶颖;刘金刚;刘思思;徐志强 - 湘潭大学
  • 2018-11-12 - 2022-11-29 - G06F30/20
  • 本发明提供了一种基于超椭圆方程的随机孔洞缺陷材料离散元建模方法,可以通过控制参数随机生成不同扁平度的椭圆、菱形、星形或矩形孔洞缺陷,用于硬脆性材料的离散元仿真研究。具体步骤为:明确材料的主要物理参数,在一个封闭计算区域内生成颗粒并给颗粒赋予微观接触属性参数,随机确定一定数量且位置随机的孔洞缺陷中心;基于超椭圆方程在各中心点构造不同形状的孔洞缺陷图形;删除各孔洞缺陷图形内的颗粒,选择合适的接触模型,删除封闭区域墙,形成孔洞缺陷的离散元模型。本发明的方法简单可行,所形成的孔洞缺陷大小、形状、角度以及扁平度可控,使生成的材料模型更加贴近实际,从而使仿真计算结果更精确,并提高仿真有效性。
  • 一种基于椭圆方程随机孔洞缺陷材料离散建模方法
  • [发明专利]无人驾驶和有人驾驶混行交通流的微观交通仿真方法-CN202010665035.2在审
  • 吴建平;李婷婷 - 清华大学
  • 2020-07-10 - 2020-10-09 - G08G1/01
  • 本发明公开了一种无人驾驶和有人驾驶混行交通流的微观交通仿真方法,该仿真方法包括:接收无人驾驶车辆与有人驾驶车辆混行交通流的仿真请求;基于微观交通仿真平台,根据仿真请求构建交通仿真场景,并设置交通仿真场景参数;根据交通仿真场景参数设置无人驾驶车辆的比例或者指定无人驾驶车辆的初始出现序号,并配置无人驾驶车辆的跟车、换道和超车模型参数;将驾驶上述相关参数输入预设微观交通仿真程序中进行交通仿真,并输出仿真结果;基于仿真结果进行交通安全评价和交通效率评价该方法能够为无人驾驶车辆的上路提供仿真研究基础,弥补了现有的交通仿真平台无法实现大规模无人驾驶车辆和有人驾驶车辆混行的交通仿真的缺陷
  • 无人驾驶有人驾驶混行交通流微观交通仿真方法
  • [发明专利]雾化芯制备方法-CN202111109385.1在审
  • 邱伟华 - 东莞市维万特智能科技有限公司
  • 2021-09-22 - 2023-03-24 - A24F40/70
  • 本发明提供了一种雾化芯制备方法,本发明提供的雾化芯制备方法,首先通过薄膜沉积工艺将导电材料形成于多孔陶瓷基底的外表面上,以形成表面具有发热层的雾化芯;其次,采用退火老化工艺,对雾化芯的发热层进行退火热处理,使发热层微观结构中的晶粒长大,促使发热层更加致密,减少发热层的微观缺陷;然后,对退火热处理后的雾化芯进行通电发热处理,以对发热层的微观结构进行进一步的老化处理。
  • 雾化制备方法
  • [发明专利]用于玻璃面板的微观检测装置-CN200610111962.X有效
  • 李敏圭;李敬勋;李东奎;郑好伦 - DE&T株式会社
  • 2006-08-28 - 2007-03-07 - G01B9/04
  • 本发明公开了一种微观检测装置,用于检测诸如液晶显示器(LCD)和等离子显示面板(PDP)等平板显示装置中所使用的平面玻璃面板。该微观检测装置包括:工作台,玻璃面板固定于其上;显微镜和光源灯,分别安装在工作台的上方和下方,用于检测玻璃面板的缺陷;以及驱动单元,用于沿X轴和Y轴方向移动显微镜和光源灯。驱动单元包括:桥,显微镜和光源灯安装在该桥的上部和下部,同时显微镜和光源灯彼此间隔开,该桥可移动地连接到沿着构成微观检测装置本体的划线台的相对边形成的划线台固定轨道;前后驱动单元,用于沿顺着前后轴的划线台固定轨道移动该桥
  • 用于玻璃面板微观检测装置
  • [发明专利]一种钽靶材的锻造方法-CN201410754282.4有效
  • 汪凯;李桂鹏;李兆博;黄志学;宿康宁;马小文;任志东 - 宁夏东方钽业股份有限公司
  • 2014-12-10 - 2018-04-03 - C23C14/34
  • 本发明通过三向镦粗拔长锻造方法,采用合理的锻造道次压下量和后期热处理工艺,彻底破碎铸晶,解决常规锻造方法中钽靶材晶粒尺寸不均、铸晶残留、以及晶粒尺寸不够小的问题,得到细小均匀的微观组织。主要特点第一,采用本发明的锻造方法,结合后期的热处理工艺,可以得到细小均匀的微观组织;第二,简化锻造流程,实现了大的锻造加工率,可彻底破碎铸晶,同时减少了锻造缺陷,提高了材料利用率。通过本发明的锻造方法,可以有效保证钽靶材在锻造结束后,获得细小、均匀的微观组织。
  • 一种钽靶材锻造方法
  • [发明专利]一种光学玻璃亚表面缺陷检测方法-CN201410312808.3有效
  • 张春雷;马占龙;王绍治;刘健;隋永新;杨怀江 - 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
  • 2014-07-02 - 2016-11-02 - G01N21/958
  • 本发明涉及一种光学玻璃亚表面缺陷检测方法,其步骤为:采用沥青或者聚氨酯抛光方式制备亚表面缺陷玻璃样品;合理确定样品采样点,以全面评价样品亚表面缺陷;根据采样点制作去除区域为规则形状的去除函数,与驻留时间卷积获得规则形状的若干采样区域;利用上述去除函数和离子束加工对采样区域进行不同深度均匀去除;使用表面形貌观察设备对采样区域进行观测,获得光学玻璃亚表面缺陷形貌。本发明采用离子束加工对光学玻璃全视场内不同采样点表面水解层进行去除,使用表面微观形貌检测设备对其进行观测;本发明具有原理简单,测量结果准确直观等特点,避免了使用氢氟酸,是一种安全有效的亚表面缺陷测量方法
  • 一种光学玻璃表面缺陷检测方法

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