专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]非易失性存储装置及其操作方法-CN200910140194.4无效
  • 李昌炫 - 三星电子株式会社
  • 2009-07-10 - 2010-01-13 - G11C16/02
  • 公开了一种非易失性存储装置及其操作方法。非易失性存储装置包括:存储单元阵列,其包括第一存储单元和相邻的第二存储单元;以及数据输入/输出电路,其被配置成将第一存储单元作为m比特单元操作并且将第二存储单元作为n比特单元操作,其中m不等于存储单元阵列可以包括与第一存储单元相邻的第三存储单元并且数据输入/输出电路可被进一步配置成将第三存储单元作为k比特单元操作。数据输入/输出电路可被配置成响应于检测到对于第一存储单元的擦除操作的数目满足预定准则而将第一存储单元作为j比特单元操作,其中j小于n。
  • 非易失性存储器装置及其操作方法
  • [发明专利]断电响应-CN201880056009.0在审
  • R·博尼茨 - 美光科技公司
  • 2018-07-26 - 2020-05-01 - G11C11/413
  • 操作存储的方法和配置成执行类似方法的设备包含:获得指示存储于所述存储的特定存储单元中的数据值的信息;将额外数据编程到所述特定存储单元;在将所述额外数据编程到所述特定存储单元时,确定是否指示所述存储的断电;以及如果指示所述存储的断电,那么响应于指示存储于所述特定存储单元中的所述数据值的所述信息而选择性地编程一对栅极连接非易失性存储单元的一个存储单元。所述对栅极连接非易失性存储单元的所述一个存储单元与所述对栅极连接非易失性存储单元的另一存储单元的阈值电压的所得组合表示指示存储于所述特定存储单元中的所述数据值的所述信息。
  • 断电响应
  • [发明专利]存储装置及其读取操作方法-CN202110590406.X在审
  • 徐准浩;康淑恩;李度暻;李柱元 - 三星电子株式会社
  • 2021-05-28 - 2022-01-18 - G11C8/08
  • 提供一种存储装置及其读取操作方法。所述存储装置包括:非易失性存储装置,包括非易失性存储单元阵列和OTP存储单元阵列,非易失性存储单元阵列包括包含顺序堆叠的第一存储单元和第二存储单元的串,OTP存储单元阵列存储参考计数值,第一存储单元和第二存储单元分别连接到第一字线和第二字线;控制,包括生成第一存储单元的读取命令的处理;和读取电平生成器,包括:计数,接收读取命令并计算连接到第二字线的存储单元的截止单元计数值;比较,从OTP存储单元阵列接收第一参考计数值,将截止单元计数值与第一参考计数值进行比较以确定第二存储单元的阈值电压移位,并基于阈值电压移位确定第一存储单元的读取电平。
  • 存储装置及其读取操作方法
  • [发明专利]用于多个存储阵列存储空间的写入缓冲实施方案-CN202010799939.4有效
  • G·卡列洛 - 美光科技公司
  • 2020-08-11 - 2022-11-04 - G11C8/06
  • 本申请涉及用于多个存储阵列存储空间的写入缓冲实施方案。一种存储装置包括:存储阵列,其包含可编程为单层级存储单元SLC的存储单元和可编程为三层级存储单元TLC的存储单元存储控制单元,其以操作方式耦合到所述存储阵列且包含处理,所述处理配置成用SLC数据和TLC数据编程所述存储单元;以及写入缓冲,用于缓冲写入到所述存储阵列的数据,所述写入缓冲包含SLC数据存储空间和TLC数据存储空间,其中所述存储控制单元配置成当所述TLC数据存储空间存在溢出时,将TLC数据存储在所述SLC数据存储空间中。
  • 用于存储器阵列空间写入缓冲器实施方案
  • [发明专利]存储装置-CN200510104053.9无效
  • 佐藤知稔 - 夏普株式会社
  • 2005-09-14 - 2006-05-03 - G11C11/401
  • 第1存储芯片(10a~10d)具有作为用来存储数据的存储单元存储单元,但不具有作为用来补救存储单元的错误位的冗余存储单元的冗余存储单元。进一步,只具有最低限度的逻辑,以便利用第2存储芯片的控制逻辑进行工作。第2存储芯片(20)既具有进行存储单元和冗余存储单元存储控制的控制逻辑,也具有用来补救第1存储芯片(10a~10d)的错误位的冗余存储单元存储装置1将第1存储芯片和第2存储芯片层叠而构成。
  • 存储器装置
  • [发明专利]具有多电平、单次写入存储单元的可重写存储-CN201080056716.3无效
  • R.E.舒尔莱恩;L.法索里 - 桑迪士克3D有限责任公司
  • 2010-11-05 - 2012-09-05 - G11C11/56
  • 在此描述的实施例涉及具有多电平、单次写入存储单元存储件。在一个实施例中,存储件具有存储阵列,其包括多个多电平单次写入存储单元,其中,每个存储单元可编程到多个电阻率等级之一。该存储件还包括被配置以从存储阵列选择一组存储单元并读取与该组存储单元相关的一组标记位的电路。该组标记位指示该组存储单元已经被写入的次数。该电路还被配置以为选择适合于该组存储单元已经被写入的次数的阈值读取电平,并且对该组中的每个存储单元,基于所选择的阈值读取电平,读取该存储单元作为未编程的单个位的存储单元或作为已编程的单个位的存储单元
  • 具有电平写入存储器单元重写存储器件

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