“三维形貌检测装置”专利关键词查询_检索下载_查询列表_检索列表_行业专利分布_钻瓜专利网

钻瓜专利网为您找到相关结果17070549个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]一种基于多波长的数字全息三维形貌检测装置-CN201410259126.0无效
发明人：潘锋;肖文;陈宗晖;闫贝贝;杨洪建;赵晨晓;张旭红 -专利权人：北京航空航天大学
申请日： 2014-06-11 - 公布日： 2014-08-27 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明是一种基于多波长的数字全息三维形貌检测装置。该装置采用数字全息的方法，采用多个波长对三维物体的表面进行表面形貌测量；在光路结构中，以平面光波照明待测物体并收集反射的物光，利用光束偏转器控制参考光与物光的夹角，实现离轴数字全息。为了在保证观测分辨率的同时增大测量范围，可分别以不同波长的光束测量待测物体，并对得到的全息频谱图进行相减迭代处理，进而得到无相位包裹的待测物体三维形貌信息。该装置通过一体化的光学平台使得各光学器件的布局结构紧凑、灵活、稳定，可用于高精度的大高度、高粗糙度的光学元器件、机械转子等机械组件进行在线三维形貌观测。
一种基于波长数字全息三维形貌检测装置

[发明专利]一种用于高反光材质复杂物体成像的图像序列采集系统及其三维形貌重建方法-CN202110499446.3有效
发明人：闫涛;陈路 -专利权人：山西大学
申请日： 2021-05-06 - 公布日： 2022-09-23 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明属于三维形貌重建技术领域，具体涉及一种用于高反光材质复杂物体成像的图像序列采集系统及其三维形貌重建方法。技术方案包括线性电动滑台、相机、照明装置、物镜、锁紧器和系统支架；照明装置包括LED光源、半反射透镜和封装照明装置的外壳；三维形貌重建方法包括以下步骤：高反光材质复杂物体不同景深图像序列采集，图像序列对比度拉伸与聚焦水平测量，初始三维形貌重建与重建结果频域滤波。本发明构建的图像序列采集系统可对高反光材质复杂物体进行精确成像，提出的聚焦水平测量算子可准确判断图像序列聚焦程度，有效提升三维形貌重建的精度。
一种用于反光材质复杂物体成像图像序列采集系统及其三维形貌重建方法

[发明专利]一种基于线激光的场景三维形貌重建系统及方法-CN201810379517.4在审
发明人：陈文建;詹坤烽;李武森 -专利权人：南京理工大学
申请日： 2018-04-25 - 公布日： 2018-10-16 - 主分类号： G06T17/05 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于线激光的场景三维形貌重建系统及方法，所述系统包括：激光发射模块，用于发射激光至待重建三维形貌场景的表面；转台运动模块，用于带动激光发射模块和图像采集模块旋转；转台控制模块，用于控制转台运动模块旋转；图像采集模块，用于采集激光照射到待重建三维形貌场景表面的图像；图像处理模块，用于对上一模块采集到的图像进行三维重建，获取场景重建后的三维形貌；显示模块，用于显示上一模块获得的三维形貌；数据存储与传输模块，用于存储和传输图像采集模块采集到的图像以及图像处理模块获得的场景重建后的三维形貌。本发明能对场景三维形貌进行360°测量与重建，具有结构简单、测量重建精度高等特点。
三维形貌场景激光发射模块图像采集模块图像处理模块重建场景重建重建系统转台运动线激光图像测量转台控制模块采集采集模块传输模块传输图像激光照射模块采集模块获得三维重建数据存储显示模块存储激光发射

[发明专利]一种基于二维真实形貌的三维随机孔隙结构建模方法-CN202310368935.4在审
发明人：苏昱太;龙旭 -专利权人：西北工业大学重庆科创中心;西北工业大学
申请日： 2023-04-10 - 公布日： 2023-07-07 - 主分类号： G16C60/00 文献下载
摘要：一种基于二维真实形貌的三维随机孔隙结构建模方法包括如下步骤：步骤1：二维真实形貌二值处理及尺寸缩放；步骤2：二维真实形貌孔洞信息分析；步骤3：指定体积分数的初始三维随机孔隙结构生成；步骤4：面向真实形貌的三维随机孔隙结构优化方法；步骤5：面向真实形貌的三维随机孔隙结构模型确定。该方法可以面向二维真实形貌，结合材料体积分数与两点概率函数，通过最优化平均绝对百分比误差，建立基于二维真实形貌的三维随机孔隙结构。
一种基于二维真实形貌三维随机孔隙结构建模方法

[发明专利]一种用于强反射表面三维形貌测量的立体视觉检测方法-CN200910236214.8无效
发明人：赵慧洁;姜宏志;李旭东;李冬;周杰 -专利权人：北京航空航天大学
申请日： 2009-10-23 - 公布日： 2010-04-14 - 主分类号： G01B11/25 文献下载
摘要：一种用于强反射表面三维形貌测量的立体视觉检测方法。传统基于正弦条纹投射的立体视觉检测方法包括条纹投射与图像采集、相位解算、立体匹配和三维复现，其本发明在条纹投射与图像采集步骤中加入亮暗条纹投射、多曝光时间采集图像、高动态范围图像合成等新技术，克服强反射表面引起的条纹图像饱和或条纹图像过暗，能够实现金属等强反射表面三维形貌的非接触光学测量。该方法具有简单、灵活、可靠性好的特点，可用于金属等强反射表面三维形貌的光学非接触测量。
一种用于反射表面三维形貌测量立体视觉检测方法

[发明专利]光学元件激光诱导损伤三维形貌在线测量装置和测量方法-CN201711206265.7有效
发明人：李杰;巴荣声;周信达;郑垠波;丁磊;徐宏磊;袁静;陈波;柴立群 -专利权人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2017-11-27 - 公布日： 2019-12-03 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：一种光学元件激光诱导损伤三维形貌在线测量装置及检测方法。该装置包括：光源系统，沿光源的光束传播方向依次放置样品台、显微放大系统、分光系统和探测器系统。本发明具有装置简单、成本低、操作方便等优点，可在线测量光学元件损伤点的三维形貌以及测量损伤增长的动态过程。
光学元件激光诱导损伤三维形貌在线测量装置测量方法

[发明专利]一种基于纳米压痕原位扫描技术的玻璃表面形变分析方法-CN202111463772.5有效
发明人：丁林锋;鲁冉冉;郑秋菊;徐亚楠;施王明;罗理达 -专利权人：东华大学
申请日： 2021-12-03 - 公布日： 2023-07-28 - 主分类号： G01N3/42 文献下载
摘要：本发明涉及玻璃形变分析技术领域，且公开了一种基于纳米压痕原位扫描技术的玻璃表面形变分析方法，首先对拟检测玻璃表面进行纳米压痕处理，得到弹性模量和纳米硬度，然后进行原位三维形貌扫描，获得压痕区域三维形貌数据，最后，对三维体积和二维表面高度进行分析，得到纳米压痕表面体积变化及形貌变化。该基于纳米压痕原位扫描技术的玻璃表面形变分析方法，可以提高测试玻璃形变的效率，并且玻璃形变结果精确度高，检测时受环境及人为操作影响小。
一种基于纳米压痕原位扫描技术玻璃表面形变分析方法

[发明专利]一种非接触式的三维道路表面形貌的采集方法和装置-CN201710128839.7有效
发明人：路永婕;怀文青;张俊宁;杨绍普;李韶华;陈恩利;张航星;贾长旺;王建西 -专利权人：石家庄铁道大学
申请日： 2017-03-06 - 公布日： 2018-08-21 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明公开了一种非接触式的三维道路表面形貌的采集方法和装置；涉及路面采集技术领域；方法包括设定初始条件、采集测试区域路表图像、计算三维坐标、获得三维表面形貌信息；装置包括车体、一个以上CCD相机、相机支架的转角调节机构和控制及处理装置；装置简单，操作方便，可以更加精确和方便地测量三维道路表面形貌的数据信息。
一种接触三维道路表面形貌采集方法装置

[实用新型]便携式砂轮三维形貌测量分析装置-CN201120286357.2有效
发明人：迟玉伦;李郝林;朱欢欢 -专利权人：上海理工大学
申请日： 2011-08-09 - 公布日： 2012-05-23 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种便携式砂轮三维形貌测量分析装置，2D激光位移传感器安放于被测机床砂轮表面的前方，并通过数据电缆与控制器连接，控制器与PC机连接。本实用新型采用的是非接触式超高精度2D激光位移传感器，因而在加工现场方便测量、使用简单、携带方便；通过对测量砂轮三维形貌数据进行数字滤波处理后，更加有利于砂轮表面三维形貌的分析评价。可有效方便测量出砂轮表面三维形貌数据，对数据处理后绘制出的砂轮三维图形非常有助于帮助工人了解磨削加工中砂轮的微观形貌结构组成变化，特别是砂轮三维形貌参数表在实际加工中应用，不仅仅对定量分析砂轮表面三维形貌提供了依据
便携式砂轮三维形貌测量分析装置

[发明专利]零件表面形貌三维高密度点云数据转化为灰度图像的方法-CN201210046615.9有效
发明人：杜世昌;王猛;奚立峰;陈晓波;肯特 -专利权人：上海交通大学
申请日： 2012-02-27 - 公布日： 2012-07-18 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：零件表面形貌三维高密度点云数据转化为灰度图像的方法。属于零件表面形貌检测和点云数据处理技术领域。本发明方法包括：首先，通过三维高分辨率表面形貌测量技术测量零件表面得到三维高密度点云数据。然后，利用MATLAB软件读入三维高密度点云数据，通过插值命令将点云数据的Z坐标值转换为栅格各点的值，存储为二维矩阵I，并剔除矩阵I中不属于零件表面的元素。最后将矩阵I转换为灰度图像。本发明生成的灰度图像，能够覆盖整个零件表面，有效的反映零件表面整体形貌和加工纹理，改进了传统图像采集系统需通过局部图像匹配、拼接获取零件表面全貌的缺点和三维高分辨率表面形貌测量技术反映加工纹理特征方面的不足
零件表面形貌三维高密度数据转化灰度图像方法

[发明专利]一种用于材料微观缺陷全域高通量观测表征方法及系统-CN202210593197.9在审
发明人：任群;方志刚;曹京宜;王海舟;张文宇;臧勃林;殷文昌;沈学静;赵雷 -专利权人：钢研纳克检测技术股份有限公司;中国人民解放军92228部队
申请日： 2022-05-27 - 公布日： 2022-08-19 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于材料微观缺陷全域高通量观测表征方法及系统，包括：对材料取样切割，并进行研磨抛光处理，获得试样；视具体情况对试样待测面进行定位标记，采集全域高通量高精度的三维形貌高度信息；根据定位标记，提取试样无缺陷典型区域三维形貌高度信息，以及提取试样的含缺陷区域的三维形貌高度信息；基于无缺陷区域和含缺陷区域三维高度信息，对结果进行滤波分析，获得无缺陷区域三维高度信息滤波分析后第一分布规律以及含缺陷区域三维高度信息滤波分析后第二分布规律，获取试样的微观缺陷的相对高度信息及影响，生成用于表征微观缺陷的相对高度范围，并对微观缺陷进行原位分布分析表征；本发明针对空腔类型微观缺陷(孔洞、裂纹等)三维高度信息凹陷特征，进行高精度检测、筛查、解析，实现空腔类型微观缺陷全域高通量快速检测。
一种用于材料微观缺陷全域通量观测表征方法系统

[发明专利]一种基于空间相关度与相位差值乘积的微塑料检测装置及方法-CN201910770512.9有效
发明人：王俊生;王天麒 -专利权人：大连海事大学
申请日： 2019-08-20 - 公布日： 2021-04-23 - 主分类号： G01B11/30 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于空间相关度与相位差值乘积的微塑料检测装置及方法，本发明方法利用三波长无透镜全息系统分别记录微塑料在红绿蓝光下的全息图像，并通过三波长迭代算法恢复出其三维形貌。通过微塑料的俯视图和侧视图可初步筛选出微塑料，通过微塑料的三维形貌和长度、宽度和厚度信息检测微塑料并利用红、绿、蓝三种色光将记录的全息图像合成彩色全息图像，在恢复三维形貌时获得样本的颜色特征，检测样本光反射能力与色调信息解决了现有技术中微塑料检测成本高、检测样品浓度较低、装置结构复杂及无法进行现场的快速检测的问题。
一种基于空间相关相位差值乘积塑料检测装置方法

[发明专利]一种纳米结构三维形貌小角X射线散射测量方法及装置-CN202210330679.5有效
发明人：刘世元;陈修国;杨天娟;马健源;刘章勇;张家豪 -专利权人：华中科技大学
申请日： 2022-03-30 - 公布日： 2023-01-06 - 主分类号： G01B15/04 文献下载
摘要：本发明属于半导体测量技术领域，具体涉及一种纳米结构三维形貌小角X射线散射测量方法及装置，包括：对待测样品的纳米结构周期单元的三维形貌进行描述，并用以建立三维形貌的透射小角X射线散射场模型；对三维形貌进行透射小角X射线散射场测量，得到散射图谱，其中采用的定位系统能够大范围变化入射角和方位角，能够实现多角度散射图谱测量，在此基础上在参数提取中通过特定公式在图谱中直接提取三维形貌周期信息，提取方式高效、准确，上述公式是通过将不同旋转角度本发明方法是一种全新的高效实现复杂IC纳米结构三维形貌快速、非破坏性、精确测量的方法。
一种纳米结构三维形貌小角射线散射测量方法装置

[发明专利]三维孔结构的测量装置与测量方法-CN201410225654.4有效
发明人：陆海亮;周钰颖;李玉龙;王帆 -专利权人：上海微电子装备（集团）股份有限公司
申请日： 2014-05-26 - 公布日： 2020-11-20 - 主分类号： G01B11/22 文献下载
摘要：本发明提出了一种三维孔结构的测量装置与测量方法，是基于角谱测量技术对高深宽比三维孔结构的形貌参量测量的装置与方法，能够探测待测的三维孔结构的衍射光，即实现全角谱的测量，获取的孔底面衍射光信号有利于对三维孔结构形貌的求解，测得的角谱有利于判断三维孔结构形貌的非对称性，以提高孔测量技术对孔工艺状况的测量能力，提高测量精度。
三维结构测量装置测量方法

[发明专利]观测阻变存储器多根导电通道分布和形貌的方法及装置-CN202210615873.8在审
发明人：吴华强;魏甜甜;高滨;唐建石;钱鹤 -专利权人：清华大学
申请日： 2022-05-31 - 公布日： 2022-10-11 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本申请涉及一种观测阻变存储器多根导电通道分布和形貌的方法及装置，其中，方法包括：扫描待观测物体，得到待观测物体的不同深度的电流分布二维切片数据集；对不同深度的电流分布二维切片数据集进行几何模型的三维重构，得到电流分布的三维图(包括彩色图、灰度图等，彩色图可以用来观测导电通道的形貌，灰度图可以用来观测导电通道的数量、分布位置和三维形貌)；调节电流分布的三维图的灰度值和/或透明度，得到待观测物体各导电通道的数量、分布位置和形貌状态。由此，利用cAFM通过层层剥离的方法，重构三维图，以此观测到介质层中各种导电通道的数量、分布位置和各导电通道的三维形貌。
观测存储器导电通道分布形貌方法装置