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[发明专利]基于启发式搜索的周期纳米结构形貌参数测量方法及装置-CN202210264445.5有效
发明人：吴启哲;李泽迪;赵杭 -专利权人：板石智能科技（深圳）有限公司
申请日： 2022-03-17 - 公布日： 2022-05-27 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明提供了一种基于启发式搜索的周期纳米结构形貌参数测量方法及装置，其方法包括：获取待测周期纳米结构的测量信号；基于待测周期纳米结构的三维形貌参数设计值以及光学散射特性建模方法构建仿真信号数据库和雅克比矩阵数据库；建立启发式搜索模型，并基于启发式搜索模型、仿真信号数据库、雅克比矩阵数据库确定与测量信号对应的目标仿真信号；基于仿真信号数据库确定与目标仿真信号对应的目标三维形貌参数离散值，并将目标三维形貌参数离散值作为待测周期纳米结构的三维形貌参数本发明通过启发式搜索，在保证周期纳米结构形貌参数测量准确性的同时，可极大提升测量周期纳米结构形貌参数的效率。
基于启发式搜索周期纳米结构形貌参数测量方法装置

[发明专利]多角度成像显微镜和铁谱磨粒三维形貌重建方法-CN202011251467.5有效
发明人：刘同冈;陈玮泽;吕鑫;马骁;刘文军;李广胜;孙德涵 -专利权人：中国矿业大学
申请日： 2020-11-11 - 公布日： 2022-06-10 - 主分类号： G02B21/24 文献下载
摘要：本申请涉及一种多角度成像显微镜和铁谱磨粒三维形貌重建方法。该方法包括：利用多角度成像显微镜采集不同角度的铁谱磨粒二维图像信息；对所述不同角度的铁谱磨粒二维图像信息进行处理，建立铁谱磨粒二维图内各个轮廓角点到铁谱磨粒三维形貌各个坐标点的索引，获得铁谱磨粒三维点云；通过光束调整法对铁谱磨粒三维点云进行细化，利用点云库对细化后的铁谱磨粒三维点云进行重建，生成铁谱磨粒三维形貌，相对于传统的铁谱磨粒二维图像信息分析，能够提取典型铁谱磨粒更多的三维特征形貌信息，有利于分析设备的严重摩擦磨损工况
角度成像显微镜铁谱磨粒三维形貌重建方法

[发明专利]基于改进型图像匹配的目标检测方法及系统-CN202310109834.5在审
发明人：张泽;张绍;陈永超;邱赛 -专利权人：齐鲁空天信息研究院
申请日： 2023-02-09 - 公布日： 2023-04-25 - 主分类号： G06V10/75 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于改进型图像匹配的目标检测方法及系统，属于光学探测技术领域，解决了现有技术中图像匹配精确度低难以实现目标精确检测的问题。检测方法包括：对N个相机图像进行图像匹配，采用虚实融合方法将N个相机图像与预先构建的目标成像背景数字化模型进行融合；利用含有目标的数字化模型对每个非边缘特征点进行更新，根据更新后的每个非边缘特征点对应的每个特征点在对应的相机图像中的二维坐标、每个相机位置的三维坐标、相机的拍摄参数以及每个图像的所有像素点的二维坐标；将所有非边缘特征点的三维坐标与目标初步模型相融合，得到目标三维形貌，从而检测出目标。实现了对待测目标三维形貌的精确检测。
基于改进型图像匹配目标检测方法系统

[发明专利]一种用于陶瓷微观组织的一体化表征方法及系统-CN202210593200.7在审
发明人：任群;曹京宜;方志刚;王海舟;张文宇;臧勃林;殷文昌 -专利权人：钢研纳克检测技术股份有限公司;中国人民解放军92228部队
申请日： 2022-05-27 - 公布日： 2022-08-19 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于陶瓷微观组织的一体化表征方法及系统，包括：待测陶瓷样品的取样和切割；待测陶瓷样品的金相研磨及表面抛光加工；待测陶瓷样品位置的定位标记；陶瓷样品待测区域表面三维形貌高度信息高精度采集；表面三维形貌高度信息结果滤波分析；表面三维形貌高度信息显示设置；表面三维形貌高度信息图像识别；基于图像识别结果的微观组织结构定量分析；分析结果显示获得不同微观组织结构定量分析。本发明在对陶瓷材料金相抛光表面三维形貌高度信息采集的基础上，结合滤波分析及图像识别软件及定量分析算法，从而获得基于三维表面形貌高度信息采集及图像识别分析的陶瓷及陶瓷基复合材料微观组织一体化定量分析。
一种用于陶瓷微观组织一体化表征方法系统

[发明专利]沥青路面三维纹理形貌的检测方法-CN201910627825.9在审
发明人：孙璐;顾文钧;王元元;许梦 -专利权人：南京金蓝智慧城市规划设计有限公司
申请日： 2019-07-12 - 公布日： 2019-09-27 - 主分类号： G06T17/05 文献下载
摘要：本发明提供了一种沥青路面三维纹理形貌的检测方法，该方法可以同时获取路面宏观纹理形貌和微观纹理形貌。在传统光度立体三维重构技术的基础上，增加至6个照明光源，分别采用低秩分解修正算法、全局积分算法对法向量求解和三维重构的两步算法进行改进，以减小误差干扰，提高测试精度。同传统路面纹理形貌测试方法相比，本发明能显著提高路面纹理形貌的测试精度，具有快捷、精确、可重复性强等优点。
形貌纹理沥青路面测试面三维立体三维重构测试传统路面光照条件宏观纹理积分算法可重复性路面纹理三维重构微观纹理误差干扰形貌测试修正算法照明光源法向量偏斜角天顶角检测低秩光度减小路表求解算法光源照射相机采集分解图像全局改进

[发明专利]一种基于3D视觉的小型零件的复杂形貌三维重建方法-CN202310807156.X在审
发明人：尚振东;张伟玮;谭兴闻 -专利权人：中国工程物理研究院电子工程研究所
申请日： 2023-07-03 - 公布日： 2023-09-29 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于3D视觉的小型零件的复杂形貌三维重建方法，首先获取旋转平台的三维点云模型，并计算相机坐标系下旋转平台的旋转轴；旋转平台沿逆时针方向带动待检测小型零件每旋转90°，获取待检测小型零件四个方向的点云图，再获取待检测小型零件上、下两个方向的点云图；然后剔除旋转平台三维点云模型空间内的点，再对各个方向点云图像进行旋转拼接，即得到小型零件的复杂三维重建结果；本发明可提升小型零件的复杂形貌三维重建设备的智能化水平便于小型零件逆向工程以及检测检修，提高检测效率的，提高检测精度，降低人工成本，适于在本领域内推广使用。
一种基于视觉小型零件复杂形貌三维重建方法

[发明专利]一种基于反射激光空间分布的物体三维形貌测量方法-CN202111200906.4有效
发明人：不公告发明人 -专利权人：高视科技（苏州）有限公司
申请日： 2021-10-15 - 公布日： 2021-12-28 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于反射激光空间分布的物体三维形貌测量方法。基于反射激光空间分布提出了一种物体三维形貌测量方法，通过两束激光光束得到两个位置探测器的相关数据计算出被测点的高度信息和斜度信息，根据若干被测点的高度信息和斜度信息还原待测表面的三维形貌。相对于现有技术中根据被测点的高度还原的三维形貌更加精确，更能够满足半导体器件的表面形貌测量的高精度要求。
一种基于反射激光空间分布物体三维形貌测量方法

[发明专利]获取缺失牙咬合关系的数字扫描方法、装置、设备及介质-CN202310182693.X在审
发明人：张佰春;吕广志 -专利权人：深圳市菲森科技有限公司
申请日： 2023-02-17 - 公布日： 2023-06-06 - 主分类号： A61C19/05 文献下载
摘要：本发明涉及数字医疗技术领域，揭露了一种获取缺失牙咬合关系的数字扫描方法，包括：对包含咬合介质的口内环境进行扫描，得到扫描图像；根据扫描图像重建口内环境的上颌三维形貌数据、下颌三维形貌数据以及咬合介质三维形貌数据；根据上下颌以及咬合介质形貌数据重建上下颌与咬合介质之间的咬合介质空间变换关系；根据咬合介质空间变化关系生成上下颌之间的上下颌空间变化关系；根据上下颌空间变换关系对上下颌三维形貌数据进行咬合匹配，得到口内环境的咬合关系本发明还提出一种获取缺失牙咬合关系的数字扫描装置、电子设备以及介质。本发明可以提高上下颌咬合关系扫描的精确度。
获取缺失咬合关系数字扫描方法装置设备介质

[发明专利]路面三维纹理形貌的检测方法、检测系统及存储介质-CN201910948070.2有效
发明人：王元元;郭诗言;薛金顺;成羽;周飞;程宸 -专利权人：湖北文理学院
申请日： 2019-09-30 - 公布日： 2021-10-22 - 主分类号： E01C23/01 文献下载
摘要：本发明公开了一种路面三维纹理形貌的检测方法、检测系统及存储介质，路面三维纹理形貌的检测方法包括：获取同一待测路面的第一图像和第二图像，标记线将第一图像和第二图像分割成多个子区域；识别标记线；根据标记线和半全局匹配算法，对第一图像和第二图像中的每一子区域的边界和像素点进行匹配，获得多个匹配子区域及其匹配视差；根据匹配视差获得待测路面的三维重构结果。通过标记线的约束作用，获得第一图像和第二图像中高度重合的对应子区域，继而分割并提取第一图像和第二图像中的每一匹配子区域，计算每一匹配子区域的匹配视差，获得匹配子区域的空间坐标，便利于重构待测路面整体的三维纹理形貌，提高检测结果的准确度。
路面三维纹理形貌检测方法系统存储介质

[发明专利]一种基于多传感融合的缺陷三维检测方法-CN202111265665.1有效
发明人：胡小川;李梦凡;赵远程;侯溪;全海洋 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 2021-10-28 - 公布日： 2023-05-30 - 主分类号： G01N21/95 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于多传感融合的缺陷三维检测方法，该方法包括以下步骤：1)使用显微成像头对光学元件表面缺陷进行二维检测，获取缺陷二维尺寸数据并定位缺陷位置；2)根据缺陷定位结果，使用白光干涉测量头对缺陷对应区域进行深度检测；3)将缺陷二维尺寸数据和缺陷深度数据进行融合，从而重构出光学元件表面缺陷三维形貌。本发明采用显微成像与白光干涉测量相结合的方式进行光学元件表面缺陷三维检测，在兼顾检测精度的同时又保证了检测效率，最终实现了光学元件表面缺陷的三维检测。
一种基于传感融合缺陷三维检测方法

[发明专利]一种零部件表面几何形貌特征测量方法-CN202210976617.1在审
发明人：张亚龙;吴鲁纪;杨林杰;孙毅博;吕永鑫 -专利权人：郑州机械研究所有限公司
申请日： 2022-08-15 - 公布日： 2022-11-18 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：一种零部件表面几何形貌特征测量方法，首先，获取零部件表面的三维形貌特征图，再基于三维形貌特征图，在三维形貌特征表面划分线条，提取线条空间位置的二维轮廓曲线；其次，将二维轮廓曲线转化为三维空间，择取二维轮廓曲线中的最大值和最小值本发明能够全面覆盖零部件表面几何形貌特征的所有数据点，具有更高的测量精度。
一种零部件表面几何形貌特征测量方法

[发明专利]微裂纹检测方法、装置、系统以及样品制备方法-CN201910476251.X有效
发明人：尧彬;王晓锋;赖灿雄;恩云飞;黄云;路国光 -专利权人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））
申请日： 2019-06-03 - 公布日： 2022-04-15 - 主分类号： G01N27/62 文献下载
摘要：本申请涉及一种微裂纹检测方法、装置、系统以及样品制备方法。所述微裂纹检测方法包括分析待测样品的二次离子，获取待测样品内各组成成份的质谱特征峰信息以及各组成成份对应的空间分布信息；在各空间分布信息中提取与标准质谱特征峰信息相同的质谱特征峰信息对应的组成成份的空间分布信息，得到填充剂空间分布信息；标准质谱特征峰信息为填充剂内各成份的质谱特征峰信息；基于数据重构处理各填充剂空间分布信息，获取待测样品内的微裂纹的三维形貌图，能够通过二次离子分析微裂纹的空间分布得到完整的微裂纹的三维形貌图，通过三维形貌图可明确微裂纹的起源，并可准确获取微裂纹的延伸扩展路径，进而，实现准确表征微裂纹。
裂纹检测方法装置系统以及样品制备

[发明专利]岩石颗粒的三维几何形貌信息提取系统及方法-CN202010238734.9在审
发明人：赵炼恒;黄栋梁;张帅浩;谭捍华;李亮;祝志恒;张泽卫;戴智颖 -专利权人：中南大学
申请日： 2020-03-30 - 公布日： 2020-08-11 - 主分类号： G06T17/05 文献下载
摘要：本发明公开了岩石颗粒的三维几何形貌信息提取系统及方法，通过从多个不同高度的视角拍摄岩石颗粒各个面在不同高度视角中的多张特征图像，以获取岩石颗粒表面的全部特征点；根据所述岩石颗粒各个面在不同高度视角中的多张特征图像进行三维建模，得到所述岩石颗粒的三维模型；在所述三维模型提取所述岩石颗粒的轮廓信息，进而根据所述轮廓信息计算所述岩石颗粒的三维几何形貌信息，相比现有技术，本发明中的方法和系统获取的岩石颗粒的三维模型不但精度更高，还能获取岩石颗粒的局部的三维几何形貌信息
岩石颗粒三维几何形貌信息提取系统方法

[发明专利]一种微观路表形貌的数字化生成方法-CN201610427759.7在审
发明人：廖公云;汤赞成;谢永 -专利权人：东南大学
申请日： 2016-06-15 - 公布日： 2016-11-09 - 主分类号： G06F17/50 文献下载
摘要：本发明公开了一种微观路表形貌的数字化生成方法，包括如下步骤：采用三维扫描仪扫描路面表面，获取路表形貌的三维点云坐标（X₀,Y₀,Z₀）；对三维点云平面坐标（X₀,Y₀）进行栅格化，获得栅格格式的三维点云平面坐标（X₁,Y₁）；采用散点插值方法，获得与点云Z₀坐标对应的插值Z₁坐标；创建自由格式的多边形网格，获得三维点云坐标（X₁,Y₁,Z₁）对应的三维网格；转换三维网格为三维多重曲面；导入有限元软件，获得用于数值模拟的微观路表形貌。本发明为基于微观路表形貌的轮胎/路面抗滑性能分析和轮胎/路面噪声性能分析提供了有利条件，为路表形貌的微观调控提供了技术可能性。
一种微观形貌数字化生成方法

[发明专利]基于结构光照明显微系统的超薄膜器件三维形貌检测方法-CN202010655627.6有效
发明人：杨可君;谢仲业;刘江辉;冯金花;唐燕;赵立新;胡松 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 2020-07-09 - 公布日： 2022-06-10 - 主分类号： G01B11/25 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于结构光照明显微系统的超薄膜器件三维形貌检测方法。该方法利用等相位变化结构光条纹图案投影在被测物表面，并使用上位机进行z向扫描，用相移法获得条纹调制度随扫描距离的变化曲线，然后通过峰值提取结合非线性拟合的算法，得到精确的峰值位置，进一步计算被测物的膜层厚度与三维形貌本发明在精确测量超薄膜器件的膜层厚度的同时，也能快速地获得其三维形貌结构，具有非破坏性、高测量效率、高精度、应用范围广等优点。
基于结构照明显微系统薄膜器件三维形貌检测方法

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