[发明专利]半导体结构、其制作方法、半导体存储器及电子设备在审
申请号: | 202010576048.2 | 申请日: | 2020-06-22 |
公开(公告)号: | CN113903739A | 公开(公告)日: | 2022-01-07 |
发明(设计)人: | 张铉瑀;许民;吴容哲;杨涛;李俊峰;王文武 | 申请(专利权)人: | 中国科学院微电子研究所;真芯(北京)半导体有限责任公司 |
主分类号: | H01L27/108 | 分类号: | H01L27/108 |
代理公司: | 北京辰权知识产权代理有限公司 11619 | 代理人: | 付婧 |
地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本公开提供一种半导体结构、其制作方法、半导体存储器及电子设备。本公开的半导体结构包括:衬底;多个下电极,设置在所述衬底上并在第一方向和垂直于所述第一方向的第二方向上间隔排列;第一支撑物图案,支撑所述多个下电极,具有多个圆形的敞开区域,每个所述敞开区域连接预设数量个下电极并暴露所连接的每个下电极的侧壁的一部分。该半导体结构的支撑物图案,采用统一的圆形敞开区域,使得在制作敞开区域时能以同一条件进行,使得敞开区域更容易敞开相同的面积,为后续电介质膜和上电极的形成提供充足的工艺裕度,以改善半导体电容器的可靠性。 | ||
搜索关键词: | 半导体 结构 制作方法 存储器 电子设备 | ||
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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