[发明专利]半导体封装及其制造方法在审
申请号: | 201910106887.5 | 申请日: | 2019-02-02 |
公开(公告)号: | CN111199923A | 公开(公告)日: | 2020-05-26 |
发明(设计)人: | 陈德荫 | 申请(专利权)人: | 南亚科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L23/16 | 分类号: | H01L23/16;H01L23/24;H01L23/544;H01L23/552;H01L21/50 |
代理公司: | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人: | 黄艳 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 本公开提供一种半导体封装及其制造方法。该半导体封装包括一第一基材、一挡坝以及一第一接合垫。该第一基材包括一芯片安装区及一外连接区,该外连接区位于该芯片安装区外。该挡坝设于该第一基材之上,该挡坝设于该芯片安装区与该外连接区之间,该挡坝环绕该芯片安装区,且该挡坝包括一金属层,由该挡坝的上视图观之,该挡坝呈波浪状。该第一接合垫设于该第一基材之上,其中该第一接合垫位于该外连接区内。 | ||
搜索关键词: | 半导体 封装 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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