[发明专利]一种基于FinFET器件的存储单元有效

专利信息
申请号: 201610836679.7 申请日: 2016-09-21
公开(公告)号: CN106486156B 公开(公告)日: 2019-02-05
发明(设计)人: 邬杨波;张绪强;胡建平 申请(专利权)人: 宁波大学
主分类号: G11C11/417 分类号: G11C11/417
代理公司: 宁波奥圣专利代理事务所(普通合伙) 33226 代理人: 方小惠
地址: 315211 浙*** 国省代码: 浙江;33
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种基于FinFET器件的存储单元,包括第一FinFET管、第二FinFET管、第三FinFET管、第四FinFET管、第五FinFET管、第六FinFET管和第七FinFET管,第一FinFET管、第二FinFET管和第六FinFET管均为P型FinFET管,第三FinFET管、第四FinFET管、第五FinFET管和第七FinFET管均为N型FinFET管;第一FinFET管和第二FinFET管的鳍的数量均为2,第三FinFET管、第四FinFET管、第五FinFET管、第六FinFET管和第七FinFET管的鳍的数量均为1;优点是读操作和写操作分开,读写互不干扰,延时、功耗和功耗延时积均较小。
搜索关键词: 一种 基于 finfet 器件 存储 单元
【主权项】:
1.一种基于FinFET器件的存储单元,其特征在于包括第一FinFET管、第二FinFET管、第三FinFET管、第四FinFET管、第五FinFET管、第六FinFET管和第七FinFET管,所述的第一FinFET管、所述的第二FinFET管和所述的第六FinFET管均为P型FinFET管,所述的第三FinFET管、所述的第四FinFET管、所述的第五FinFET管和所述的第七FinFET管均为N型FinFET管;所述的第一FinFET管和所述的第二FinFET管的鳍的数量均为2,所述的第三FinFET管、所述的第四FinFET管、所述的第五FinFET管、所述的第六FinFET管和所述的第七FinFET管的鳍的数量均为1;所述的第一FinFET管的源极和所述的第二FinFET管的源极均接入电源,所述的第一FinFET管的漏极、所述的第二FinFET管的前栅、所述的第二FinFET管的背栅、所述的第三FinFET管的漏极、所述的第四FinFET管的前栅、所述的第五FinFET管的漏极和所述的第六FinFET管的漏极连接且其连接端为所述的存储单元的输出端,所述的第一FinFET管的前栅、所述的第二FinFET管的漏极、所述的第三FinFET管的前栅、所述的第四FinFET管的漏极和所述的第七FinFET管的前栅连接且其连接端为所述的存储单元的反相输出端,所述的第一FinFET管的背栅、所述的第五FinFET管的前栅和所述的第五FinFET管的背栅连接且其连接线为所述的存储单元的写字线;所述的第三FinFET管的背栅、所述的第六FinFET管的前栅和所述的第六FinFET管的背栅连接且其连接端为所述的存储单元的写字线反向控制端;所述的第三FinFET管的源极、所述的第四FinFET管的源极、所述的第四FinFET管的背栅和所述的第七FinFET管的源极均接地,所述的第五FinFET管的源极和所述的第六FinFET管的源极连接且其连接线为所述的存储单元的写位线;所述的第七FinFET管的漏极为所述的存储单元的读位线;所述的第七FinFET管的背栅为所述的存储单元的读字线。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于宁波大学,未经宁波大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610836679.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

同类专利
  • 双端口静态随机存取存储器单元及包括其的电子设备-201810231076.3
  • 王颖倩 - 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
  • 2018-03-20 - 2019-10-08 - G11C11/417
  • 本发明提供一种双端口静态随机存取存储器单元及包括其的电子设备。所述双端口静态随机存取存储器单元包括多个鳍式场效应晶体管,分别为:第一上拉晶体管和第二上拉晶体管;与所述第一上拉晶体管连接的第一下拉晶体管,以及与所述第二上拉晶体管连接的第二下拉晶体管;以及与所述第一上拉晶体管和所述第一下拉晶体管连接的第一传输门晶体管,以及与所述第二上拉晶体管和所述第二下拉晶体管连接的第二传输门晶体管;其中,所述第一传输门晶体管连接读字线和读位线,所述第二传输门晶体管连接写字线和写位线。本发明所提供的双端口静态随机存取存储器单元及包括其的电子设备写端口和读端口分离,使得写裕度和读裕度可被各自优化而无需彼此权衡。
  • 半导体存储器器件-201811551957.X
  • 新居浩二;石井雄一郎;泽田阳平;薮内诚 - 瑞萨电子株式会社
  • 2018-12-18 - 2019-07-16 - G11C11/417
  • 提供了一种具有低功耗写入辅助电路的半导体存储器器件。半导体存储器器件包括多个字线、多个位线对、多个存储器单元、多个辅助线对、写入驱动器电路、写入辅助电路和选择电路。存储器单元被耦合到字线和位线对,以使得一个存储器单元被耦合到一个字线和一个位线对的方式。辅助线对平行于位线对延伸,以使得一个辅助线对平行于一个位线对延伸的方式。选择电路根据选择信号将从位线对中选择的一个位线对耦合到写入驱动器电路,并且将平行于所选择的位线对延伸的相关联的辅助线对耦合到写入辅助电路。
  • 抗单粒子翻转的静态随机存取存储器单元-201711195731.6
  • 彭超;雷志锋;张战刚;何玉娟;恩云飞;黄云 - 中国电子产品可靠性与环境试验研究所
  • 2017-11-24 - 2019-06-04 - G11C11/417
  • 本发明涉及一种抗单粒子翻转的静态随机存取存储器单元,包括存储单元本体和加固电路,存储单元本体包括第一反相器、第二反相器、第一传输管和第二传输管,加固电路包括电容和第一传输门,第一反相器的输入端连接第一传输管的第一端和第二反相器的输出端,第一反相器的输出端连接第二反相器的输入端,第二反相器的输入端连接第二传输管的第一端,第一传输管的第二端连接第一位线,第三端连接第一字线,第二传输管的第二端连接第二位线,第三端连接第一字线,电容的第一端连接第一反相器的输入端,电容的第二端连接第一传输门的第一端,第一传输门的第二端连接第二反相器的输入端,第三端连接第二字线。对存储器单元的读写速度没有影响。
  • 静态随机存取存储器装置-201811350862.1
  • 桑吉夫库马尔甄恩;阿图尔卡多奇 - 台湾积体电路制造股份有限公司
  • 2018-11-14 - 2019-05-24 - G11C11/417
  • 本发明提供一种静态随机存取存储器装置,静态随机存取存储器装置包括电压输入端、电平移位器、存储器单元以及读出放大器。电压输入端被配置成接收处于第一电压电平的第一信号的电压输入端。电平移位器连接到电压输入端以接收第一信号,且电平移位器的输出端被配置成输出处于第二电压电平的第二信号,第二电压电平高于第一电压电平。存储器单元具有字线及位线。字线连接到电平移位器的输出端以选择性接收第二信号,位线连接到电压输入端以选择性接收第一信号。读出放大器连接到位线且被配置成提供存储器单元的输出。读出放大器具有读出放大器输入,读出放大器输入连接到电平移位器的输出端子以选择性接收第二信号。
  • 一种基于FinFET器件的存储单元-201610836679.7
  • 邬杨波;张绪强;胡建平 - 宁波大学
  • 2016-09-21 - 2019-02-05 - G11C11/417
  • 本发明公开了一种基于FinFET器件的存储单元,包括第一FinFET管、第二FinFET管、第三FinFET管、第四FinFET管、第五FinFET管、第六FinFET管和第七FinFET管,第一FinFET管、第二FinFET管和第六FinFET管均为P型FinFET管,第三FinFET管、第四FinFET管、第五FinFET管和第七FinFET管均为N型FinFET管;第一FinFET管和第二FinFET管的鳍的数量均为2,第三FinFET管、第四FinFET管、第五FinFET管、第六FinFET管和第七FinFET管的鳍的数量均为1;优点是读操作和写操作分开,读写互不干扰,延时、功耗和功耗延时积均较小。
  • 存储装置与控制方法-201610254847.1
  • 林书玄;王嘉维 - 联发科技股份有限公司
  • 2013-04-26 - 2019-02-01 - G11C11/417
  • 本发明提供一种存储装置及控制方法,所述存储装置包括信号线、存储单元阵列、及第一与第二电压调整电路。存储单元阵列划分为第一与第二区域,且包括在第一区域中的多个第一存储单元及在第二区域中的多个第二存储单元。第一与第二存储单元耦接信号线,且每一存储单元具有参考节点。第一电压调整电路用来调整第一存储单元的参考节点上的电压。第二电压调整电路用来调整第二存储单元的参考节点上的电压。第一存储单元的参考节点通过第一电压调整电路耦接地,且第二存储单元的参考节点通过第二电压调整电路耦接地。本发明提供的存储装置具有高密度的存储单元以及具有较低的功率消耗。
  • 一种抗SEU加固的存储结构-201810489576.7
  • 王海滨;王杨圣;戴茜茜;孙洪文;华迪;李磊;戴卫力 - 河海大学常州校区
  • 2018-05-21 - 2018-10-26 - G11C11/417
  • 本发明公开了一种抗SEU加固的存储结构,存储节点D设置于所述第一支路上,存储节点A设置于第二支路上,存储节点B设置于第三支路上,存储节点C设置于所述第四支路上,第一支路通过所述存储节点D分别与第二支路和第四支路相连接,第二支路通过存储节点A分别与第一支路和第三支路相连接,第三支路通过存储节点B分别与第二支路和第四支路相连接,第四支路通过节存储点C分别与第一支路和第三支路相连接。本发明在Quatro设计的基础上增加了栅极接地的两个NMOS管,利用电阻分压原理降低了敏感节点A和B受单粒子效应的影响程度,增加抗SEU的性能,加上相应的外围电路,可以作为SRAM或者触发器使用。
  • 具有垂直全环栅MOSFET的SRAM单元-201410808090.7
  • 廖忠志 - 台湾积体电路制造股份有限公司
  • 2014-12-22 - 2018-09-11 - G11C11/417
  • 本发明提供了一种静态随机存取存储器(SRAM)单元,包括:第一上拉晶体管和第二上拉晶体管;与第一上拉晶体管和第二上拉晶体管形成交叉锁存的反相器的第一下拉晶体管和第二下拉晶体管;以及第一传输门晶体管和第二传输门晶体管。第一上拉晶体管和第二上拉晶体管、第一下拉晶体管和第二下拉晶体管、以及第一传输门晶体管和第二传输门晶体管中的每个均包括作为第一源极/漏极区的底板、位于底板上方的沟道和作为第二源极/漏极区的顶板。第一隔离有源区位于SRAM单元中,并且用作第一下拉晶体管的底板和第一传输门晶体管的底板。第二隔离有源区位于SRAM单元中,并且用作第二下拉晶体管的底板和第二传输门晶体管的底板。本发明涉及具有垂直全环栅MOSFET的SRAM单元。
  • 一种存储器-201810090243.7
  • 吴澄;张立军;季爱明;桑胜男;顾昌山;佘一奇;陈泽翔 - 苏州大学
  • 2018-01-30 - 2018-07-20 - G11C11/417
  • 本发明公开了一种存储器,包括至少一个全局控制电路和追踪驱动电路、若干存储单元、追踪单元、追踪控制电路以及相应的若干条内嵌于存储单元阵列的不同追踪路径,所述全局控制电路、追踪驱动电路、追踪路径、追踪单元以及追踪控制电路在信号传输方向上依次传输连接,还包括基于追踪控制电路的NBTI保护电路。本发明能够实现更加精确的追踪,同时避免追踪控制电路中的PMOS受NBTI影响导致整个时序漂移,提高了电路的稳定性。
  • 电子器件、SRAM单元和SRAM阵列-201721531527.2
  • H·拉瓦特;A·帕沙克 - 意法半导体国际有限公司
  • 2017-11-16 - 2018-07-10 - G11C11/417
  • 本文中公开了一种电子器件、SRAM单元和SRAM阵列。该电子器件包括位线和互补位线、交叉耦合的第一反相器和第二反相器、耦合在互补位线与第一反相器之间的第一传输门、以及耦合在位线与第二反相器之间的第二传输门。电子器件还包括交叉耦合的第三反相器和第四反相器、耦合在互补位线与第三反相器之间的第三传输门、以及耦合在位线与第四反相器之间的第四传输门。第一、第二和第四反相器在电源节点与参考节点之间被供电,并且第三反相器在浮置节点与参考节点之间被供电。第一传输门和第三传输门并联耦合。
  • 一种SRAM单元电路及SRAM存储器-201711474211.9
  • 李刚;马松;程玉华 - 上海矽润科技有限公司
  • 2017-12-29 - 2018-06-29 - G11C11/417
  • 本发明实施例提供的电压调整单元,用于在所述SRAM单元待机时,将所述PMOS晶体管所在的衬底电压降低为SRAM单元电压的0.8倍,从而可以使所述PMOS所在的衬底处于正向偏置状态,有利于PMOS晶体管内形成漏电流,该漏电流可以补偿NMOS晶体管内的漏电流,因此可以防止NMOS晶体管的漏电流引起的存储节点的数据丢失或反转的问题,提高了SRAM单元的在待机状态的稳定性;并且本发明实施例不需要对SRAM单元的内部结构和制作方法进行调整。
  • 具有堆叠结构的抗多节点翻转的存储单元-201810049583.5
  • 黄正峰;李雪健;吴明;鲁迎春;倪天明;梁华国;易茂祥;欧阳一鸣 - 合肥工业大学
  • 2018-01-18 - 2018-06-08 - G11C11/417
  • 本发明涉及一种具有堆叠结构的抗多节点翻转的存储单元,该存储单元包括第一PMOS晶体管、第二PMOS晶体管、第三PMOS晶体管、第四PMOS晶体管、存取晶体管、第一NMOS晶体管、第二NMOS晶体管、第三NMOS晶体管、第四NMOS晶体管、第五NMOS晶体管、第六NMOS晶体管、第一位线、第二位线和字线;所述存取晶体管包括第七NMOS晶体管和第八NMOS晶体管。本发明能够对单粒子单节点翻转和由于电荷共享导致的单粒子双节点翻转进行自恢复,提高了系统的可靠性;由于存储单元属于锁存器,因此本存储单元也是一个抗辐射锁存器的加固单元。
  • 一种防御差分功耗分析的静态随机存储器-201610099443.X
  • 汪鹏君;周可基;陈伟伟;张跃军 - 宁波大学
  • 2016-02-23 - 2018-05-25 - G11C11/417
  • 本发明公开了一种防御差分功耗分析的静态随机存储器,包括复制位线电路、译码器、地址锁存电路、时钟电路、n位存储阵列、n位数据选择器、n位输入电路和n位输出电路,输出电路包括灵敏放大器和数据锁存电路,第一PMOS管、第二PMOS管、第三PMOS管、第四PMOS管、第五PMOS管、第六PMOS管、第七PMOS管、第一NMOS管、第二NMOS管、第三NMOS管、第四NMOS管和第五NMOS管构成灵敏放大器,两个或非门、第八PMOS管、第九PMOS管、第十PMOS管、第十一PMOS管、第六NMOS管、第七NMOS管、第八NMOS管、第九NMOS管和第十NMOS管构成数据锁存电路;优点是在读取数据时每个工作周期的功耗都保持基本一致,具有较强的防御差分功耗分析能力。
  • 绝缘体上半导体(SOI)衬底上的垂直全环栅(VGAA)器件的连接结构-201510023231.9
  • 廖忠志 - 台湾积体电路制造股份有限公司
  • 2015-01-16 - 2018-05-04 - G11C11/417
  • 本发明公开了垂直全环栅(VGAA)纳米线器件电路路由结构。该电路路由结构包括多个VGAA纳米线器件,VGAA纳米线器件包括NMOS器件和PMOS器件。该器件形成在绝缘体上半导体衬底上。每个器件均包括底板和顶板,其中,底板和顶板中的一个用作漏极节点,并且底板和顶板中的另一个用作源极节点。每个器件还包括栅极层。栅极层完全围绕器件中的垂直沟道。在一个实例中,CMOS电路形成有氧化物(OD)阻挡层,OD阻挡层用作NMOS器件和PMOS器件的共用底板。在另一实例中,CMOS电路形成有顶板,该顶板用作NMOS器件和PMOS器件的共用顶板。在另一实例中,形成SRAM电路。本发明还提供了绝缘体上半导体(SOI)衬底上的垂直全环栅(VGAA)器件的连接结构。
  • 基于互补极化磁隧道结的非易失SRAM存储单元及其应用方法-201710982907.6
  • 赵振宇;李欢;唐皓月;曲连华;王耀 - 中国人民解放军国防科技大学
  • 2017-10-20 - 2018-02-02 - G11C11/417
  • 本发明公开了一种基于互补极化磁隧道结的非易失SRAM存储单元及其应用方法,存储单元包括SRAM单元和互补极化磁隧道结CPMTJ,CPMTJ的两个读写端并联在SRAM单元的两个反馈节点L、R上,CPMTJ的接地端GND接地,存储单元的应用方法步骤包括将控制线BL、N_BL均置为低电平,将外部缓存中缓存的数据写入到反馈节点L、R,在系统即将断电时,将控制线BL、N_BL均置为高电平,在重新上电时,互补极化磁隧道结CPMTJ存储的信息被读出到反馈节点L、R处。本发明解决了传统NV‑SRAM单元使用MTJ带来的写非对称性问题,具有存储性能高、非易失写操作简单、非易失写延迟小、写功耗低的优点。
  • 具有内建电平移位器的锁存器-201710381521.X
  • 杨皓义;李政宏;谢继开;吴福安;黄宗贤 - 台湾积体电路制造股份有限公司
  • 2017-05-25 - 2017-12-26 - G11C11/417
  • 本揭露涉及具有内建电平移位器的锁存器。本发明实施例揭露一种半导体装置,其包括第一供应电压、不同于所述第一供应电压的第二供应电压及切换电路。所述切换电路包括输入端,其经配置以接收对应于所述第一供应电压的输入信号;及输出端,其经配置以输出对应于所述第二供应电压的输出信号。所述切换电路是与内建电平移位器组合的锁存器,其提供锁存功能及电平移位功能,且当所述切换电路提供锁存功能时,切断泄漏路径。
  • SiDNA序列生成及识别方法和装置-201611109619.1
  • 肖泳;Y·维斯瓦莫寒;R·萨伦德拉 - 凯芯有限公司
  • 2016-12-06 - 2017-05-31 - G11C11/417
  • 一种半导体芯片DNA序列生成及识别方法和装置,通过在设计阶段为每个半导体芯片的工作电压和公共接地端电压之间增设若干组并联和/或串联的带有缓冲寄存器的锁存器,即SiDNA单元,经半导体制程工艺使得锁存器实现非临界状态,即产生固定且不相同的0或1,从而形成该半导体芯片对应的DNA序列。本发明能够在不增加芯片尺寸和工艺步骤的前提下为每个半导体芯片生成一个固定不变的序列并在需要时读出该序列的内容。
  • SRAM的读出电路-201210212874.4
  • 王林;郑坚斌;吴守道 - 苏州兆芯半导体科技有限公司
  • 2012-06-26 - 2012-10-03 - G11C11/417
  • 本发明揭示了一种SRAM的读出电路,其包括放大电路模块,钳位电路模块,推挽电路模块,选择输出电路模块,输出电路模块;所述放大电路模块放大并输出SRAM阵列块中数据,包括灵敏放大器,灵敏放大器的SA输入端接灵敏放大器使能控制信号和灵敏放大器选择信号,两个SA输出端所在的第一PMOS管和第二PMOS管的漏极分别共接于第一、第二输出接点,所述钳位电路模块在有效信号来之前将第一、第二输出接点的电位拉伸至低电平,所述推挽电路模块将第一、第二输出接点的电位进行取相反的处理后选择输出;本发明SRAM的读出电路提高了电路的读取速度及电路的稳定性,缩小了电路的版图面积。
  • 基于负微分电阻特性的混合SET/CMOS静态存储单元-201220068913.3
  • 魏榕山;陈寿昌;陈锦锋;何明华 - 福州大学
  • 2012-02-29 - 2012-09-26 - G11C11/417
  • 本实用新型涉及一种基于负微分电阻特性的混合SET/CMOS静态存储单元,其特征在于:包括一NMOS管、具有NDR特性的混合SET/CMOS电路NDR电路以及以SET/CMOS为基础的负微分电阻电路SET-MOS电路;该NDR电路和该SET-MOS电路串联,所述的NMOS管的漏极连接至该NDR电路和该SET-MOS电路之间。该结构的重点是利用SET与CMOS组成的混合电路产生两种变化方向相反的NDR特性,并利用该特性构成两个用于存储电压值的稳态点,实现存储的功能。本实用新型采用的基于负微分电阻特性的混合SET/CMOS静态存储单元极大的降低了电路的功耗,并提高了电路的集成度。
  • 基于负微分电阻特性的混合SET/CMOS静态存储单元-201210048006.7
  • 魏榕山;陈寿昌;陈锦锋;何明华 - 福州大学
  • 2012-02-29 - 2012-07-11 - G11C11/417
  • 本发明涉及一种基于负微分电阻特性的混合SET/CMOS静态存储单元,其特征在于:包括一NMOS管、具有NDR特性的混合SET/CMOS电路NDR电路以及以SET/CMOS为基础的负微分电阻电路SET-MOS电路;该NDR电路和该SET-MOS电路串联,所述的NMOS管的漏极连接至该NDR电路和该SET-MOS电路之间。该结构的重点是利用SET与CMOS组成的混合电路产生两种变化方向相反的NDR特性,并利用该特性构成两个用于存储电压值的稳态点,实现存储的功能。本发明采用的基于负微分电阻特性的混合SET/CMOS静态存储单元极大的降低了电路的功耗,并提高了电路的集成度。
  • 半导体存储装置-201080001799.6
  • 蓝原智之;白滨政则;山上由展;车田希总;铃木利一 - 松下电器产业株式会社
  • 2010-02-10 - 2011-05-11 - G11C11/417
  • 本发明提供一种半导体存储装置,具备:被配置在字线与位线的交点的存储器单元(100)、与位线连接的预充电电路(101)、由写入控制信号控制的列选择电路(102)、和作为写入电路而设置的箝位电路(103A)。箝位电路(103A)具有:将被选择的位线的电位控制在第一电位(例如0V)的晶体管(QN17)、和将该被选择的位线的电位控制在比第一电位低的第二电位(例如负电位)的可变电容元件(C11)。由于采用了可变电容元件(C11),所以在电源电压变高的情况下,基于元件电容减少,来抑制从第一电位向第二电位的下降量。
专利分类
×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

400-8765-105周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top