[发明专利]半导体封装件及其制法有效
申请号: | 201410362827.7 | 申请日: | 2014-07-28 |
公开(公告)号: | CN105321894B | 公开(公告)日: | 2018-03-06 |
发明(设计)人: | 赖杰隆;戴瑞丰;陈贤文 | 申请(专利权)人: | 矽品精密工业股份有限公司 |
主分类号: | H01L23/31 | 分类号: | H01L23/31;H01L21/50;H01L21/56 |
代理公司: | 北京戈程知识产权代理有限公司11314 | 代理人: | 程伟,王锦阳 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 一种半导体封装件及其制法,该制法为先提供一设有半导体元件的承载件,再形成一具有至少一开口的封装层于该承载件上,使该封装层包覆该半导体元件,且该开口的侧面呈平滑表面;接着,形成线路层于该封装层的第二表面上,且该线路层具有形成于该开口中的导电体,之后移除该承载件,以藉由同时制成该封装层与该开口,不仅能避免该开口的壁面过于粗糙,且能大幅缩短制程时间。 | ||
搜索关键词: | 半导体 封装 及其 制法 | ||
【主权项】:
一种半导体封装件,包括:至少一半导体元件;一具有相对的第一表面与第二表面的封装层,其包覆该半导体元件,该封装层具有至少一开口及至少一开槽,该开口连通该第一及第二表面,该开槽连通该第二表面并呈现绝缘状态,其中,该开口的侧面呈平滑表面;线路层,其设于该封装层的第二表面上,且该线路层具有形成于该开口中的导电体;以及绝缘保护层,其设于该封装层的第二表面与该线路层上并填满各该开槽,且该绝缘保护层露出该线路层的部分表面。
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