[发明专利]封装组合与应用此封装组合的集成电路装置有效
| 申请号: | 201010151858.X | 申请日: | 2010-04-19 |
| 公开(公告)号: | CN102024776A | 公开(公告)日: | 2011-04-20 |
| 发明(设计)人: | 沈文维;陈承先;郭正铮;陈志华;萧景文 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
| 主分类号: | H01L23/488 | 分类号: | H01L23/488;H01L23/482 |
| 代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 陈红 |
| 地址: | 中国台湾新竹市*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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| 摘要: | 本发明为一种封装组合与应用此封装组合的集成电路装置。例示性的封装组合包含第一基材、第二基材以及设置于第一基材与第二基材间的连接结构。每一连接结构包含位于第一基材和第二基材间的内连接柱体以及位于此内连接柱体与第二基材间的焊料,其中内连接柱体具有一宽度和一第一高度。每两相邻的连接结构间的距离是以间隙来表示。前述的第一高度小于此间隙的一半。 | ||
| 搜索关键词: | 封装 组合 应用 集成电路 装置 | ||
【主权项】:
一种覆晶封装组合,其特征在于,包含:一第一基材;一第二基材;以及多个连接结构,设置于该第一基材和该第二基材之间,其中每两相邻的该些连接结构之间的距离以一间隙来定义;其中每一该些连接结构包含位于该第一基材与该第二基材间的一内连接柱体以及位于该内连接柱体与该第二基材间的一连接焊料;其中该内连接柱体具有一宽度和一第一高度;其中该第一高度与该间隙彼此之间的关系以下列关系式来表示:该第一高度<0.5×该间隙。
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