[发明专利]半导体封装体及其制造方法无效

专利信息
申请号: 200910259150.3 申请日: 2009-12-15
公开(公告)号: CN102097407A 公开(公告)日: 2011-06-15
发明(设计)人: 陈强 申请(专利权)人: 三星半导体(中国)研究开发有限公司;三星电子株式会社
主分类号: H01L23/488 分类号: H01L23/488;H01L23/485;H01L21/60
代理公司: 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 代理人: 韩明星;杨静
地址: 215021 江苏省苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种半导体封装体及其制造方法。所述半导体封装体包括:芯片;芯片表面保护层,形成在芯片上,并且覆盖芯片上除了将要形成芯片焊盘的区域之外的区域;芯片焊盘,形成在芯片上方未被芯片表面保护层覆盖的区域上;芯片上引线胶带,形成在芯片表面保护层上;引脚,形成在芯片上引线胶带上,将引脚与芯片表面保护层相结合;导电元件,形成在芯片表面保护层的一部分以及芯片焊盘上,通过导电元件将芯片焊盘与引脚电连接;树脂,用于封装以上元件。
搜索关键词: 半导体 封装 及其 制造 方法
【主权项】:
一种半导体封装体,所述半导体封装体包括:芯片;芯片表面保护层,形成在芯片上,并且覆盖芯片上除了将要形成芯片焊盘的区域之外的区域;芯片焊盘,形成在芯片上方未被芯片表面保护层覆盖的区域上;芯片上引线胶带,形成在芯片表面保护层上;引脚,形成在芯片上引线胶带上,将引脚与芯片表面保护层相结合;导电元件,形成在芯片表面保护层的一部分以及芯片焊盘上,通过导电元件将芯片焊盘与引脚电连接;树脂,用于封装以上元件。
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