专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]一种轮毂ABS齿圈端面跳动检测装置-CN202320989282.7有效
  • 吴成威;阚永贺;张德胜;宗文栋;张雅超;姜银龙 - 重汽(济南)车桥有限公司
  • 2023-04-23 - 2023-10-24 - G01B5/00
  • 本实用新型公开一种轮毂ABS齿圈端面跳动检测装置,属于轮毂ABS齿圈端面跳动检测技术领域,包括架体,架体下部安装顶升装置,顶升装置上端通过下安装座安装下定位轴承,架体上部通过上安装座安装有上定位轴承;架体上安装转辊安装座,转辊安装座上转动安装转辊;上安装座上安装端面跳动检具。通过上定位轴承和下定位轴承对轮毂进行定位夹装,通过转辊表面与轮毂侧面贴合,动力装置驱动转辊转动,带动轮毂转动,通过端面跳动检具对ABS齿圈端面进行跳动检测,可实现轮毂ABS齿圈端面跳动检测的便捷性、可靠性、高效性,提高轮毂装配质量和装配效率,整体结构简单,使用便捷,实用性好。
  • 一种轮毂abs端面跳动检测装置
  • [发明专利]降低外延层破碎几率的金刚石基氮化镓晶圆的制备方法-CN202310581159.6在审
  • 苏凯;王晗雪;张金风;任泽阳;张雅超;张进成;郝跃 - 西安电子科技大学
  • 2023-05-22 - 2023-10-10 - C30B25/18
  • 本发明涉及一种降低外延层破碎几率的金刚石基氮化镓晶圆的制备方法,包括:在所述第一衬底层上制备氮化物外延层;采用光刻和干法刻蚀工艺从所述氮化物外延层的上表面刻蚀至所述第一衬底层的上表面,以形成若干个阵列排布的氮化物外延子层;采用晶圆键合方法将包含氮化物外延子层的晶圆上表面与第二衬底层通过第一键合层进行键合,得到第一键合片;去除所述第一键合片中的第一衬底层,暴露出所述氮化物外延子层的成核层或者缓冲层,得到第二键合片;将氮化物外延子层的下表面与金刚石衬底层进行晶圆键合,得到第三键合片;去除第二衬底层和第一键合层,得到金刚石基氮化镓晶圆。本发明降低在后续衬底剥离工艺中导致的氮化物外延层薄膜龟裂和破损几率,可有效提高金刚石基GaN晶圆的良品率。
  • 降低外延破碎几率金刚石氮化镓晶圆制备方法
  • [发明专利]一种ε-Ga2-CN202110633967.3有效
  • 张涛;冯倩;张雅超;张进成;马佩军;郝跃 - 西安电子科技大学
  • 2021-06-07 - 2023-08-08 - H01L21/02
  • 本发明公开了一种ε‑Ga2O3薄膜的制备方法及ε‑Ga2O3薄膜,该方法包括:对β‑Ga2O3衬底进行清洗;对清洗后的β‑Ga2O3衬底进行退火处理;在β‑Ga2O3衬底上生长β/ε‑Ga2O3缓冲层;其中,β/ε‑Ga2O3缓冲层为β‑Ga2O3与ε‑Ga2O3的混合晶相薄膜;在β/ε‑Ga2O3缓冲层上生长ε‑Ga2O3层,以得到ε‑Ga2O3薄膜。本发明在ε‑Ga2O3薄膜的生长过程中,通过合理调整生长温度,在衬底与外延薄膜之间形成一层β/ε‑Ga2O3缓冲层,该缓冲层既连接了β‑Ga2O3衬底,又连接了ε‑Ga2O3薄膜,实现了从β‑Ga2O3衬底到ε‑Ga2O3薄膜的连续过渡,减小了晶格失配以及外延薄膜中的位错密度,提高了表面平整度,进而提升了ε‑Ga2O3薄膜的质量。
  • 一种gabasesub
  • [发明专利]一种基于异质衬底的β-Ga2-CN202110633977.7有效
  • 张雅超;张涛;冯倩;张进成;马佩军;郝跃 - 西安电子科技大学
  • 2021-06-07 - 2023-02-24 - H01L21/02
  • 本发明公开了一种基于异质衬底的β‑Ga2O3薄膜及其制备方法,所述薄膜自下而上包括:异质衬底、缓冲层和β‑Ga2O3外延层;所述缓冲层自下而上包括:第一缓冲层和第二缓冲层,所述第一缓冲层为所述异质衬底对应的氧化物缓冲层,所述第二缓冲层为氧化铝缓冲层。本发明能够在异质衬底和β‑Ga2O3之间生长第一缓冲层和第二缓冲层,所述第一缓冲层能够为第二缓冲层提供极好的成核点,提高第二缓冲层的质量,所述第二缓冲层,即氧化铝缓冲层,能够减少β‑Ga2O3外延层与异质衬底之间的晶格失配,减少β‑Ga2O3薄膜中的位错密度,从而,本发明能够有效地提高制备β‑Ga2O3薄膜的质量。
  • 一种基于衬底gabasesub

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