专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种金属细丝超薄金属镀层厚度测试方法-CN201911259180.4在审
  • 刘立娜;刘兆枫;何煊坤;杨东海;孙雪莲 - 中国电子科技集团公司第四十六研究所
  • 2019-12-10 - 2020-03-27 - G01B21/08
  • 本发明公开了一种金属细丝超薄金属镀层厚度的测量方法,实现了直径小于20μm的金属细丝,金属镀层厚度小于0.2μm时镀层厚度的测量。首先取一定长度的样品,称量出总质量,采用化学检测的方法,将其完全溶解,利用电感耦合等离子体光谱仪测试出镀层金属的质量,样品总质量与镀层金属质量的差即为金属细丝的质量。然后根据金属细丝的质量,通过计算得到金属细丝的半径。最后利用扫描电子显微镜测试包含镀层的样品的直径,计算得出包含镀层样品的半径,该半径即为金属细丝的半径与镀层厚度的和,再减去金属细丝的半径即得金属镀层厚度。本发明的测试方法提高了超薄镀层厚度测试的准确度,具有很高的可操作性、重复性和再现性。
  • 一种金属细丝超薄镀层厚度测试方法
  • [发明专利]一种大尺寸高质量氮化铝单晶的生长方法-CN201911222405.9在审
  • 李璐杰;王利杰;张丽;孙科伟 - 中国电子科技集团公司第四十六研究所
  • 2019-12-03 - 2020-03-17 - C30B29/40
  • 本发明公开了一种大尺寸高质量氮化铝单晶的生长方法。使用碳化硅单晶薄膜做衬底;使用光刻方式在SiC籽晶背面制作网状槽,槽深小于薄膜厚度;在SiC籽晶背部采用磁控溅射工艺蒸镀一层碳化钽薄膜,用来保护籽晶背部SiC成分在高温条件下不挥发;在SiC籽晶底部放置一块石墨平台用于导热;将AlN粉源存放于坩埚上方的环形粉源腔内,腔壁开孔,使AlN挥发的气氛从粉源腔内输运至籽晶区域。通过使用本方法,该厚度为微米量级的SiC单晶膜籽晶具有籽晶的功能,并且能抑制热失配时对AlN单晶的破坏。采用无籽晶固定的方式将籽晶直接放于石墨托上,并结合籽晶在坩埚底部,粉源在坩埚顶部的结构,可以实现低应力条件的AlN单晶生长。
  • 一种尺寸质量氮化铝单晶生长方法

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