[发明专利]半导体存储装置在审

专利信息
申请号: 202110927715.1 申请日: 2021-08-11
公开(公告)号: CN114267646A 公开(公告)日: 2022-04-01
发明(设计)人: 井户道雄 申请(专利权)人: 铠侠股份有限公司
主分类号: H01L23/31 分类号: H01L23/31;H01L23/498;H01L25/065
代理公司: 北京市中咨律师事务所 11247 代理人: 张轶楠;段承恩
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 半导体 存储 装置
【权利要求书】:

1.一种半导体存储装置,

具备基板、第1半导体芯片及第2半导体芯片,

所述第1半导体芯片具有与所述基板相接的第1面、所述第1面的相反侧的第2面及设置于所述第2面的第1焊盘,

所述第2半导体芯片具有与所述第2面相接的第3面、所述第3面的相反侧的第4面及缺口部,

所述缺口部设置于处于所述第3面与所述第4面之间的侧面和所述第3面交叉的角部,在从所述第4面的上方观察时与所述第1焊盘的至少一部分重叠。

2.根据权利要求1所述的半导体存储装置,

所述第1半导体芯片的所述第1焊盘与从所述基板延伸的引线电连接,

所述引线在所述第2半导体芯片的缺口面旁边分离设置。

3.根据权利要求1或2所述的半导体存储装置,

所述缺口部被设置为相对于所述第3面的缺口深度从所述第3面的中心部侧到外周部侧逐渐变大。

4.根据权利要求1或2所述的半导体存储装置,

所述第2半导体芯片还具有:

半导体基板,配置于所述第3面侧;及

半导体元件,配置于所述第4面侧,设置在所述半导体基板上,

所述缺口部设置于所述半导体基板。

5.根据权利要求4所述的半导体存储装置,

所述缺口部离开所述半导体元件而设置。

6.根据权利要求1或2所述的半导体存储装置,

所述第2半导体芯片在所述第4面具有第2焊盘,

所述第2焊盘被配置为在从所述第4面的上方观察时其至少一部分与所述缺口部重叠。

7.根据权利要求1或2所述的半导体存储装置,

所述第2半导体芯片在所述第4面具有第2焊盘,

所述第2焊盘被配置为在从所述第4面的上方观察时其至少一部分与所述第1焊盘重叠。

8.根据权利要求1或2所述的半导体存储装置,

所述第2半导体芯片被配置为在从所述第4面的上方观察时其中心位置与所述第1半导体芯片的中心位置一致。

9.根据权利要求1或2所述的半导体存储装置,

所述第2半导体芯片的所述第3面经由粘接层与所述第1半导体芯片的所述第2面粘接。

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