[发明专利]半导体元件及其制造方法有效
申请号: | 201210217467.2 | 申请日: | 2012-06-28 |
公开(公告)号: | CN103137601A | 公开(公告)日: | 2013-06-05 |
发明(设计)人: | 许芝菁;欧英德 | 申请(专利权)人: | 日月光半导体制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L23/528 | 分类号: | H01L23/528;H01L21/768 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 陆勍 |
地址: | 中国台湾高雄市*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 元件 及其 制造 方法 | ||
1.一种半导体元件,包括
一基板,其内具有至少一导电孔道,该至少一导电孔道包含一互连金属及一绝缘层,该绝缘层环绕该互连金属;
一介电层,位于该基板的一第一表面,且覆盖该绝缘层的一上表面的至少一部份;及
一金属层,邻近于该介电层,且电性连接至该互连金属。
2.如权利要求1的半导体元件,其中该互连金属贯穿该介电层以电性连接该金属层。
3.如权利要求1的半导体元件,其中该互连金属贯穿该介电层以电性连接该金属层,且该绝缘层未贯穿该介电层。
4.如权利要求1的半导体元件,其中该绝缘层的该上表面完全被该介电层所覆盖。
5.如权利要求1的半导体元件,其中该绝缘层的该上表面完全被该介电层及该金属层所覆盖。
6.如权利要求1的半导体元件,其中该互连金属为杯状。
7.如权利要求6的半导体元件,其中该杯状互连金属包含一侧部及一水平部,该侧部邻近该绝缘层,且该水平部位于该金属层上。
8.如权利要求6的半导体元件,其中该杯状互连金属定义出一内部,该内部之内具有一绝缘材料。
9.如权利要求1的半导体元件,其中该互连金属为一金属柱。
10.如权利要求1的半导体元件,其中该介电层具有一凹部,该凹部的深度小于该介电层的厚度,该绝缘层部分地延伸至该介电层中。
11.如权利要求1的半导体元件,其中该介电层具有一开口,其中部分该金属层位于该介电层的开口中以连接该互连金属。
12.如权利要求1的半导体元件,其中该基板的材质包含硅。
13.如权利要求1的半导体元件,其中该基板的材质包含玻璃。
14.一种半导体元件,包括
一基板,其内具有至少一导电孔道,该至少一导电孔道包含一通孔,该通孔形成于该基板中,该通孔包含一绝缘层,该绝缘层位于该通孔的一侧壁上且环绕一杯状互连金属;
一介电层,位于该基板的一第一表面;及
一金属层,邻近于该介电层;
其中该互连金属贯穿该介电层以电性连接该金属层,且该绝缘层未贯穿该介电层。
15.如权利要求14的半导体元件,其中该绝缘层的一上表面完全被该介电层所覆盖。
16.如权利要求14的半导体元件,其中该绝缘层的一上表面完全被该介电层及该金属层所覆盖。
17.如权利要求14的半导体元件,其中该互连金属定义出一内部,该内部的内具有一绝缘材料。
18.一种半导体元件的制造方法,包括以下步骤:
蚀刻一基板以形成一圆柱状腔体;
沉积一互连金属于该圆柱状腔体中;
蚀刻该基板以形成一圆柱状孔洞,其中该互连金属位于该圆柱状孔洞的内;及
沉积一绝缘层于该圆柱状孔洞内,其中该绝缘层具有一上表面,且该上表面接触一介电层,该介电层位于该基板上。
19.如权利要求18的方法,其中该介电层具有一开口,一金属层更位于该介电层的开口中;且该圆柱状腔体显露部分该金属层。
20.如权利要求18的方法,其中该互连金属形成于该圆柱状腔体的一侧壁上,以形成杯状且定义出一内部;一圆形绝缘层形成于该圆柱状孔洞中,且一中心绝缘材料形成于该内部中。
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