专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]基于改进多列卷积神经网络的作物苗期植株计数方法-CN202210975343.4在审
  • 羊海潮;袁皓煜;尹子琴;李毅 - 大理大学
  • 2022-08-15 - 2022-12-02 - G06V20/68
  • 本发明公开基于改进多列卷积神经网络的作物苗期植株计数方法,包括如下步骤:获取待估计苗期植株图像;将待估计苗期植株图像输入预设的苗期植株计数模型中,苗期植株计数模型包括多列卷积分支注意力编码器、多分支融合模块以及上采样可视化模块多列卷积神经网络模型用于提取不同尺度大小的特征;多分支特征融合模块用于将不同尺度大小的特征进行融合并将融合后的特征通过1维卷积滤波层进行注意力映射;上采样可视化模块用于将映射后的特征恢复密度图的分辨率,获得估计的苗期植株密度图;计算苗期植株密度图中像素点概率值并进行累加,得到待估计苗期植株图像中苗期植株的数量。本发明将提高在大田场景下不同尺度苗期植株的高精度计数。
  • 基于改进卷积神经网络作物苗期植株计数方法
  • [发明专利]玉米苗期缺苗数的测量方法及装置-CN201310370436.5有效
  • 王传宇;郭新宇;肖伯祥;杜建军;吴升 - 北京农业信息技术研究中心
  • 2013-08-22 - 2013-11-27 - G06M11/00
  • 本发明提供一种玉米苗期缺苗数的测量方法及装置,涉及农作物信息技术领域。该方法包括步骤S1、获取玉米苗期植株图像,得到图像序列I(I1,I2,...In),n为正整数;S2、将所述图像序列I(I1,I2,...In)中的相邻两幅图像的重复区域进行拼接,得到一幅玉米苗期行向图像IW;S3、对所述玉米苗期行向图像IW进行分割与识别,获取玉米苗期植株茎秆位置,并计算玉米苗期植株茎秆行向直线;S4、根据所述玉米苗期植株的茎秆行向直线识别缺苗位置,并计算缺苗数。本发明所述方法及装置具有较高的自动化程度,能够代替人工方法调查玉米苗期缺苗数量,减少人力投入成本,去除人为误差的干扰。使评价玉米种子的品质、测量播种机具的作业精度指标的获取更加简洁。
  • 玉米苗期缺苗数测量方法装置

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