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[发明专利]用于控制半导体装置的方法-CN201610184958.X有效
发明人：梁承秀 -专利权人：三星电子株式会社
申请日： 2016-03-29 - 公布日： 2021-06-22 - 主分类号： G06F13/16 文献下载
摘要：提供了一种用于控制半导体装置的方法，所述方法包括：接收针对存储器的存储器请求；依据存储请求计算存储器带宽使得存储器带宽至少足够大以支持存储器的分配；使用存储器层级结构创建用于访问存储器的存储器路径，其中，与存储器路径对应的存储器区域是被分配为支持存储器带宽的存储器区域；对于与存储器路径对应的存储器区域执行存储交错。
用于控制半导体装置方法

[发明专利]存储和检索处理系统的数据的存储器系统和性能监视方法-CN200710110044.X有效
发明人：达斯丁·J.·范斯迪;凯文·C.·高尔;卡尔·E.·洛夫 -专利权人：国际商业机器公司
申请日： 2007-06-12 - 公布日： 2008-02-06 - 主分类号： G11C7/10 文献下载
摘要：提供存储器系统中的性能监视的系统和方法。实施例包括一种用来存储和检索处理系统的数据的存储器系统。该存储器系统包括一个存储器控制器、多个存储器设备、存储器总线和存储器中心设备。该存储器控制器接收和响应存储器访问请求。该存储器总线与存储器控制器通信。该存储器中心设备与该存储器总线通信。该存储器中心设备包括一个存储器接口，用来经存储器总线在存储器中心设备和存储器控制器之间传送地址、控制和数据之一或多个。该存储器中心设备还包括一个存储器设备接口，用来与存储器设备通信。该存储器中心设备还包括一个性能监视器，用来在系统操作期间，在规定的时间间隔内监视和报告存储器总线使用率、存储器设备使用率和性能特征之一或多个。
存储检索处理系统数据存储器性能监视方法

[发明专利]用于管理存储器访问操作的方法和系统-CN201910412897.1有效
发明人： D·S·埃布森;D·L·西蒙森;A·阿尔侯赛因;E·F·哈拉奇;S·霍韦 -专利权人：希捷科技有限公司
申请日： 2019-05-17 - 公布日： 2023-08-01 - 主分类号： G11C16/10 文献下载
摘要：本申请涉及用于管理存储器访问操作的方法和系统。存储器控制器通过连接到主机的固态存储设备的存储器阵列的闪存存储器接口来管理存储器访问操作。存储器控制器在存储器阵列中执行第一存储器访问操作。第一存储器访问操作具有第一优先级。存储器控制器检测可用于在存储器阵列中执行并具有比第一优先级高的优先级的暂停存储器访问操作。检测操作区分暂停存储器访问操作与非暂停存储器访问操作。存储器控制器暂停在存储器阵列中执行第一存储器访问操作，并且执行具有比第一优先级高的优先级并可用于在存储器阵列中执行的一个或多个存储器访问操作。存储器控制器恢复在存储器阵列中执行第一存储器访问操作。
用于管理存储器访问操作方法系统

[发明专利]使用双通道存储器作为具有间隔的单通道存储器-CN201880085092.4在审
发明人： K.麦基尔韦恩;W.莫尔;金圭贤;S.塞图拉曼 -专利权人：国际商业机器公司
申请日： 2018-12-18 - 公布日： 2020-08-21 - 主分类号： G06F11/10 文献下载
摘要：一种技术涉及操作存储器控制器。存储器控制器以双通道模式驱动存储器控制器的第一存储器设备和第二存储器设备。第一纠错码(ECC)存储器设备和第二ECC存储器设备保护第一存储器设备和第二存储器设备。存储器控制器以单通道模式驱动第一存储器设备和第二存储器设备，使得第二ECC存储器设备是备用存储器设备，并且第一ECC存储器设备保护第一存储器设备和第二存储器设备。存储器控制器配置为在双通道模式和单通道模式之间切换。
使用双通道存储器作为具有间隔通道

[发明专利]存储器存储装置及其测试方法-CN201710498769.4有效
发明人：周诠胜;林孟弘;吴伯伦;何家骅 -专利权人：华邦电子股份有限公司
申请日： 2017-06-27 - 公布日： 2020-11-17 - 主分类号： G11C29/56 文献下载
摘要：本发明提供一种存储器存储装置，包括存储器晶胞阵列以及存储器控制电路。存储器晶胞阵列包括多个存储器晶胞。存储器晶胞阵列用以存储数据。存储器控制电路耦接至存储器晶胞阵列。存储器控制电路用以对存储器晶胞当中的目标存储器晶胞施加设定信号以及重置信号两者其中之一以产生读取电流。存储器控制电路接收目标存储器晶胞的读取电流。存储器控制电路比较读取电流与参考电流。存储器控制电路依据比较结果来判断目标存储器晶胞是否失败。另外，一种存储器存储装置的测试方法也被提出。
存储器存储装置及其测试方法

[发明专利]存储器装置及可促进张量存储器存取的方法-CN201880026411.4在审
发明人：罗法隆;T·施米茨;J·赫里茨;J·卡明斯 -专利权人：美光科技公司
申请日： 2018-04-02 - 公布日： 2019-12-17 - 主分类号： G06F3/06 文献下载
摘要：本文中所描述的实例包含系统及方法，所述系统及方法包含一种设备，所述设备包括包含多个存储器胞元的存储器阵列及耦合到所述存储器阵列的存储器控制器。所述存储器控制器包括经配置以基于与存储器存取操作相关联的存储器命令而配置存储器映射的存储器映射器。所述存储器映射包括用以存取所述存储器阵列的至少一个存储器胞元的特定存储器存取指令序列。举例来说，对角线存储器命令的所述特定存储器存取指令序列包括各自沿着所述存储器阵列的对角线存取存储器胞元的存储器存取指令序列。
存储器阵列存储器存取指令对角线存储器控制器存储器胞元存储器命令存储器映射存储器存取操作存取存储器配置存储器耦合到胞元映射存取关联配置

[发明专利]处理器、存储器、计算机系统、系统LSI及其验证方法-CN200610068340.3有效
发明人：金井达德 -专利权人：株式会社东芝
申请日： 2006-03-29 - 公布日： 2006-10-04 - 主分类号： G06F12/14 文献下载
摘要：本申请涉及处理器、存储器、计算机系统、系统LSI及其验证方法。该处理器连接到非易失性存储器，该非易失性存储器存储有第一存储器验证信息，用于验证该非易失性存储器，该处理器包括：利用该非易失性存储器中存储的信息执行操作的操作单元；与该操作单元整体形成的验证存储器，存储有用于验证该非易失性存储器的第二存储器验证信息；用于从该非易失性存储器获取第一存储器验证信息的验证信息获取单元；用来比较所述第一存储器验证信息与所述第二存储器验证信息以验证该非易失性存储器的存储器验证单元；以及存储器访问控制单元，用来在存储器验证单元验证成功时允许对所述非易失性存储器的访问
处理器存储器计算机系统系统 lsi 及其验证方法

[发明专利]用于存储器子系统的冗余云存储器存储装置-CN202010499950.9在审
发明人： F·皮奥 -专利权人：美光科技公司
申请日： 2020-06-04 - 公布日： 2020-12-08 - 主分类号： G11C29/00 文献下载
摘要：本申请案涉及用于存储器子系统的冗余云存储器存储装置。描述一种用于管理存储器子系统中的存储器元件故障的方法。方法包含由存储器子系统检测存储器子系统中的发生故障的存储器元件及基于发生故障的存储器元件的检测发射冗余存储器请求。冗余存储器请求寻求利用外部存储系统中的存储器存储装置代替存储器子系统中的发生故障的存储器元件。此后，存储器子系统从外部存储系统接收冗余存储器请求确认，其指示冗余存储器请求已经完成且包含外部存储系统中的位置的地址。响应于接收冗余存储器请求确认，存储器子系统更新存储器管理信息以将先前映射到发生故障的存储器元件的逻辑地址映射到外部存储系统中的位置。
用于存储器子系统冗余存储装置

[发明专利]存储器控制器、存储装置和存储装置的操作方法-CN202010895577.9在审
发明人：殷亨来;金东;朴仁勳 -专利权人：三星电子株式会社
申请日： 2020-08-31 - 公布日： 2021-03-23 - 主分类号： G06F11/10 文献下载
摘要：提供了一种存储器控制器、存储装置和存储装置的操作方法。所述存储装置包括：非易失性存储器；易失性存储器；和存储器控制器，被配置为控制非易失性存储器和易失性存储器。存储器控制器被配置为：在所述存储装置的操作期间，响应于确定在非易失性存储器和易失性存储器中的至少一个存储器中已经发生渐进缺陷，而使得所述至少一个存储器被确定为缺陷存储器，基于执行存储器恢复固件对缺陷存储器执行修复操作
存储器控制器存储装置操作方法

[发明专利]存储器存储装置和电子系统-CN202210369377.9在审
发明人：郑荷娜 -专利权人：三星电子株式会社
申请日： 2022-04-08 - 公布日： 2022-11-01 - 主分类号： G06F13/16 文献下载
摘要：一种存储器存储装置包括：存储器控制器，被配置为从外部装置接收数据；以及非易失性存储器，连接到存储器控制器，其中，存储器控制器包括：第一缓冲存储器，被配置为存储数据；第二缓冲存储器，不同于第一缓冲存储器；以及存储器接口，被配置为向非易失性存储器提供从第一缓冲存储器提供的数据，其中，非易失性存储器被配置为：存储数据，并且在存储数据之后向存储器接口提供写入完成信号，其中，存储器控制器还被配置为：响应于写入完成信号，将存储在第一缓冲存储器中的数据复制到第二缓冲存储器，并且在将存储在第一缓冲存储器中的数据复制到第二缓冲存储器之后移除存储在第一缓冲存储器中的数据。
存储器存储装置电子系统

[发明专利]用于控制非易失性存储器的控制器-CN200510071727.X有效
发明人：徐云植 -专利权人：三星电子株式会社
申请日： 2005-02-16 - 公布日： 2005-11-23 - 主分类号： G06F12/00 文献下载
摘要：提供了存储器控制器，其连接到非易失性存储器(例如，NAND快闪存储器)和易失性存储器(例如，DRAM或SDRAM)，其中该存储器控制器响应存储器请求而控制对非易失性存储器和易失性存储器的访问，并包括用于存储易失性存储器中存储的数据的地址信息的存储器，并且其中该存储器控制器确定在存储器请求中输入的地址信息与存储器的地址信息是否一致，并根据确定结果有选择地访问非易失性存储器。
用于控制非易失性存储器控制器

[发明专利]具有部分组刷新的存储器-CN202011270366.2在审
发明人： D·H·希斯科克;D·M·贝尔;M·卡明斯基;J·E·阿尔茨海默;A·D·韦切斯;J·S·雷赫迈耶 -专利权人：美光科技公司
申请日： 2020-11-13 - 公布日： 2021-05-25 - 主分类号： G11C11/406 文献下载
摘要：本文公开了具有部分组刷新的存储器。在一个实施例中，一种存储器系统包含存储器控制器和可操作地连接到所述存储器控制器的存储器装置。所述存储器装置包含：(i)存储器阵列，所述存储器阵列具有存储器组，所述存储器组具有布置在多个存储器行中的多个存储器单元；以及(ii)电路系统。在一些实施例中，所述电路系统被配置成在所述存储器装置的刷新操作期间禁止所述存储器组的至少一个存储器行接收刷新命令，使得所述至少一个存储器行的存储器单元不被刷新。在一些实施例中，所述存储器控制器被配置成跟踪包含所利用的存储器单元的存储器行和/或根据所述存储器装置的编程序列将数据写入所述存储器行。
具有部分刷新存储器

[发明专利]小面积高速缓冲存储器-CN202180004238.X在审
发明人：巴萨姆·S·卡曼德;瓦里德·尤尼斯;拉蒙·祖尼加;贾格迪什·荣加利 -专利权人：深圳市汇顶科技股份有限公司
申请日： 2021-03-11 - 公布日： 2022-02-18 - 主分类号： G06F12/02 文献下载
摘要：公开了一种高速缓冲存储器。该高速缓冲存储器包括具有多个指令存储器位置的指令存储器部分，该多个指令存储器位置用于存储对多个CPU指令进行编码的指令数据。该高速缓冲存储器还包括具有多个标签存储器位置的标签存储器部分，该多个标签存储器位置用于存储对存储CPU指令的多个RAM地址范围进行编码的标签数据。该指令存储器部分包括具有指令存储器阵列的单个存储器电路和与指令存储器阵列通信连接的多个指令外围电路。该标签存储器部分包括多个标签存储器电路，其中，每一个标签存储器电路包括标签存储器阵列和与标签存储器阵列通信连接的多个标签外围电路。
面积高速缓冲存储器

[发明专利]快闪存储器存储装置及其操作方法-CN201710342593.3有效
发明人：叶润林 -专利权人：华邦电子股份有限公司
申请日： 2017-05-16 - 公布日： 2020-08-04 - 主分类号： G11C16/14 文献下载
摘要：本发明提供一种快闪存储器存储装置，包括存储器晶胞阵列以及存储器控制电路。存储器晶胞阵列包括多个存储器区块以及备用存储器区块。存储器区块用以存储数据。存储器控制电路耦接至存储器晶胞阵列。存储器控制电路用以对存储器区块当中的目前存储器区块进行抹除操作，并且记录目前存储器区块的抹除重试值。存储器控制电路判断抹除重试值是否超过临界值。若抹除重试值超过临界值，在抹除操作的时间区间内，存储器控制电路以预先抹除的备用存储器区块来取代目前存储器区块。另外，一种快闪存储器存储装置的操作方法也被提出。
闪存存储装置及其操作方法

[发明专利]存储器装置及其错误检测方法-CN201910250297.X在审
发明人：朴山河 -专利权人：华邦电子股份有限公司
申请日： 2019-03-29 - 公布日： 2020-10-09 - 主分类号： G06F11/20 文献下载
摘要：本发明提供一种存储器装置，包括具有至少一存储器组的存储器阵列，其中至少一存储器组包括目标存储器阵列以及克隆存储器阵列。克隆存储器阵列对应于目标存储器阵列，且用以存储与目标存储器阵列中的数据相同的数据。当应用于目标存储器阵列的命令执行操作时，该命令同样应用于克隆存储器阵列。一种错误检测方法亦被提出，其适用于具有至少一个存储器组的存储器装置，且所述存储器组包括目标存储器阵列和克隆存储器阵列。
存储器装置及其错误检测方法

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