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- [发明专利]时序测试电路及其测试方法-CN202310952489.1在审
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高璐
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上海华虹宏力半导体制造有限公司
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2023-07-31
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2023-10-27
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G11C29/56
- 本发明提供一种静态存储器时序测试电路，包括逻辑控制模块、模式控制模块、延时计算模块、延时测试电路和SRAM存储单元；SRAM存储单元包括待测试SRAM，待测试SRAM包括输入数据寄存器时钟clk_i输入端、SRAM时钟clk_m输入端和输出寄存器时钟clk_o输入端；SRAM时序测试电路的工作模式为存储器测试模式、延时测试模式及延时计算模式；逻辑控制模块用于在存储器测试模式下根据SRAM的第一算法产生SRAM的地址、数据及控制信号，根据SRAM的输出数据产生测试结果，测试结果包括测试通过和测试失败，将测试结果传输至模式控制模块。本发明通过逻辑控制模块产生SRAM的地址、控制信号及数据，通过延时测试电路测试并计算延时，达到精确地自动化测试SRAM时序的目的，可简化测试程序，提高测试效率。
- 时序测试电路及其方法
- [发明专利]一种卷自动检测方法和系统-CN202310904043.1在审
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李瑞寒
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济南浪潮数据技术有限公司
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2023-07-21
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2023-10-24
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G11C29/56
- 本发明提出了一种卷自动检测方法和系统，该方法包括：对容器进行数据持久化操作，将持久化操作的目录挂载到外部存储卷，实现对存储卷下数据的持久化；利用第一探针对存储卷下挂载目录进行读写操作实现存储卷可用性检测，如果存储卷不可用，则重启容器编码的最小单元；利用第二探针对存储卷下挂载目录进行读写操作实现存储卷稳定性检测；如果存储卷未就绪，则改变容器编码的最小单元状态，且不再将业务流量发送至改变状态后的容器编码的最小单元。基于该方法，还提出了一种卷自动检测系统。本发明基于K8S容器服务的健康检查策略实现对挂载存储卷的可用性检查，实现对应用存储卷的读写功能自动化检测，从而来保障业务功能的可用性和稳定性。
- 一种自动检测方法系统
- [发明专利]自动测试方法、设备及存储介质-CN202210331658.5在审
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林韦成;邱多;边亚男
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富联精密电子（天津）有限公司
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2022-03-30
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2023-10-24
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G11C29/56
- 本申请提供一种自动测试方法、设备及存储介质，自动测试方法应用于自动测试设备，自动测试设备包括测试主板和夹取装置，测试主板上开设有多个插槽，夹取装置用于将部件插接于插槽，自动测试方法包括：获取定位图像；分析定位图像中多个插槽的位置，生成路线信息；根据路线信息，控制夹取装置将多个部件插接于多个插槽；控制测试主板测试多个部件；确定是否存在故障的部件；若确定不存在故障的部件，则根据路线信息，控制夹取装置将多个部件插接于另外的插槽内，并重新控制测试主板测试多个部件。采用本申请的实施例，根据定位图像可以自动规划夹取装置的移动路线，以控制夹取装置自动将多个部件插接于多个插槽，提高操作的方便性。
- 自动测试方法设备存储介质
- [发明专利]检测电路、方法及存储装置-CN202210342506.5在审
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高恩鹏
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长鑫存储技术有限公司
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2022-04-02
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2023-10-24
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G11C29/56
- 本公开涉及一种检测电路、方法及存储装置，其中，模式寄存器数据处理模块用于响应模式寄存器写使能命令，向模式寄存器中预留模式寄存器写入第一预设数据；外部数据传输模块用于响应使能信号，根据第一预设数据按照预设编码规则经由内部数据传输模块向存储阵列写入初始数据，以及还用于响应读命令从存储阵列读出目标数据；比较模块用于根据比较第一预设数据与目标数据的比较结果判断是否存在数据传输异常，并将比较结果保存至模式寄存器中预设位置。本实施例能够智能检测出存储阵列在数据传输过程中是否存在异常，根据模式寄存器中存储的检测结果分析存储阵列中失效位元，从而提高半导体存储芯片的利用效率及工作可靠性。
- 检测电路方法存储装置
- [发明专利]调节电路测试方法及设备-CN202210320875.4在审
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李钰;史腾
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长鑫存储技术有限公司
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2022-03-29
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2023-10-24
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G11C29/56
- 本公开实施例提供了一种调节电路测试方法及设备，该方法应用于测试平台，上述调节电路包括占空比调节电路，该方法包括：根据第一读写时钟信号在指定存储地址接收写入数据；根据第二读写时钟信号从上述指定存储地址接收读取数据，并根据上述写入数据与读取数据，生成上述占空比调节电路的测试结果；其中，上述占空比调节电路用于对第一初始读写时钟信号和/或第二初始读写时钟信号进行调节操作，对应生成上述第一读写时钟信号和第二读写时钟信号，上述第一初始读写时钟信号和/或第二初始读写时钟信号的占空比具有第一偏差值。本公开实施例可以准确检测出上述占空比调节电路是否处于有效状态。
- 调节电路测试方法设备
- [发明专利]存储器的测试方法-CN202310946495.6在审
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楚西坤
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长鑫科技集团股份有限公司
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2023-07-31
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2023-10-20
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G11C29/56
- 本公开提供一种存储器的测试方法。存储器的测试方法包括至少一个字线驱动电路测试过程，字线驱动电路测试过程包括：将第一数据写入字线驱动电路对应的存储单元；读取存储单元的第二数据；当第一数据与第二数据不同时，确定字线驱动电路异常；其中，字线驱动电路为信号走线层断裂后经修补的字线驱动电路。在本公开中，通过以写入第一数据并读取第二数据的方式测试经修补的字线驱动电路是否异常，能够识别存在异常的字线驱动电路以对存储器进行分类，从而提高了存储器的可靠性。
- 存储器测试方法
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