专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]检测蚀刻不足和缺失缺陷的方法-CN201310286389.6有效
  • 范荣伟;龙吟;倪棋梁;陈宏璘 - 上海华力微电子有限公司
  • 2013-07-09 - 2013-10-23 - H01L21/66
  • 一种检测蚀刻不足和缺失缺陷的方法,包括:实现N阱中布置PMOS器件的结构;在晶圆上参照正常工艺制程生长金属硅化物,形成阻挡层,并沉积金属间的第一介电层和第二介电层;在第二介电层上依次形成硬掩膜、硅氧化物和抗反射层,在抗反射层上布置硬掩膜蚀刻光罩,其中采用蚀刻的光罩作为硬掩膜蚀刻光罩;利用硬掩膜蚀刻光罩对抗反射层、硅氧化物、硬掩膜进行完全蚀刻,并且部分蚀刻第二介电层;去除硬掩膜蚀刻光罩,并对抗反射层、硅氧化物、硬掩膜和第二介电层中进行填充;利用蚀刻光罩执行蚀刻,直到部分地蚀刻第一介电层,去除蚀刻光罩;去除抗反射层以及所填充的与抗反射层相同的材料;执行蚀刻,直到蚀刻透阻挡层。
  • 检测蚀刻不足缺失缺陷方法
  • [发明专利]刻蚀方法及区内钝化层去除方法-CN200710042144.3有效
  • 刘乒;尹晓明;马擎天;张世谋 - 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
  • 2007-06-18 - 2008-12-24 - H01L21/311
  • 一种刻蚀方法,包括:提供半导体基底;在所述半导体基底上顺次沉积钝化层及介质层;在所述介质层上形成具有图形的抗蚀剂层;以所述具有图形的抗蚀剂层为掩膜,刻蚀所述介质层;以所述具有图形的抗蚀剂层或已刻蚀的所述介质层为掩膜,采用含氟无碳气体刻蚀所述钝化层,以形成。一种去除区内钝化层的方法,包括:提供半导体基底;在所述半导体基底上顺次沉积钝化层及具有接触窗的介质层,所述接触窗用以定义区;采用含氟无碳气体刻蚀所述区内所述钝化层。通过选用含氟无碳气体作为刻蚀气体,可减少在去除刻蚀过程中聚合物或残留物的产生。
  • 刻蚀方法区内钝化去除
  • [发明专利]加工方法、加工设备及多层板材-CN202010256597.1有效
  • 张利华;季鑫 - 无锡深南电路有限公司
  • 2020-04-02 - 2022-12-27 - H05K3/00
  • 本申请提供了一种加工方法、加工设备及多层板材,其中,所述加工方法包括:将多层板材设置于耐高温垫板上,所述多层板材包括依次层叠设置的第一铜层、芯层和第二铜层,所述第二铜层与所述耐高温垫板接触,且所述耐高温垫板的导热系数不高于阈值;利用激光钻机从所述第一铜层一侧分多次加工以形成贯穿所述多层板材的,且所述在所述第一铜层上的尺寸大于在所述第二铜层上的尺寸。通过上述方式,本申请能够在多层板材的一侧形成,无需执行翻板动作。
  • 加工方法设备多层板材
  • [实用新型]利用负压进行抛光的抛光装置-CN201921738591.7有效
  • 张丽阳;李研彪;张利;单晓杭;叶必卿 - 浙江工业大学
  • 2019-10-16 - 2020-09-01 - B24B31/10
  • 本实用新型公开了一种利用负压进行抛光的抛光装置,包括滑动导轨夹紧组件、工件夹持组件、磨粒流循环组件和密封装置,所述滑动导轨夹紧组件、工件夹持组件和磨粒流循环组件均安装在密封装置内部,密封装置上开设有氮气通气口和氮气抽气口,密封装置上的氮气通气口连接外置的氮气发生装置,密封装置上的氮气抽气口连接外置的抽气装置;本实用新型通过负压状态下的磨粒流可以实现对3D打印出来的加加工工件上的弯曲内进行抛光,实现了弯曲内抛光的自动化
  • 利用进行抛光装置
  • [实用新型]类油嘴喷孔流量测量用封堵装置-CN202122463645.7有效
  • 严凯;王震球;杜建华 - 无锡威孚高科技集团股份有限公司
  • 2021-10-13 - 2022-03-15 - G01F15/00
  • 本实用新型提供一种类油嘴喷孔流量测量用封堵装置,包括沿油嘴本体轴线布置的封堵件,所述油嘴本体包括进油腔、喷孔和,所述进油腔和均设置在油嘴本体内部并沿油嘴本体轴线延伸,所述进油腔一端延伸至油嘴本体的进油端,所述进油腔的另一端连通通,所述的一端延伸至油嘴本体的喷油端,所述喷孔设置在油嘴本体上,所述喷油孔一端连通通,其另一端延伸至油嘴本体表面;所述封堵件包括螺钉、密封件和定位件,所述密封件设置在油嘴本体的喷油端用;所述定位件能够从油嘴本体的进油端进入进油腔内,所述定位件上设置导流通道,所述导流通道连通进油腔和进油端,所述螺钉贯穿密封件和与定位件螺接。
  • 通孔类油嘴流量测量用通孔封堵装置
  • [发明专利]结构的制备方法、结构和半导体器件-CN202110284739.X在审
  • 林豫立 - 泉芯集成电路制造(济南)有限公司
  • 2021-03-17 - 2021-06-29 - H01L21/768
  • 本发明的实施例提供了一种结构的制备方法、结构和半导体器件,涉及半导体技术领域,通过在介质层上开,形成贯穿介质层的第一导电,再在停止层上开,形成贯穿停止层的第二导电,第二导电与第一导电连接,且第二导电的线宽大于相邻的第一导电的线宽。通过在第一导电的下部设置扩孔状的第二导电,并通过第二导电与第一导电层接触,从而在后续填充时增大了与第一导电层的接触面积,降低了接触电阻,进而提升了半导体器件的性能。
  • 结构制备方法半导体器件
  • [发明专利]结构的制备方法和缩小尺寸的方法-CN202011193994.5在审
  • 过奇钧;左正笏;钱虓;孟凡涛 - 浙江驰拓科技有限公司
  • 2020-10-30 - 2022-05-06 - H01L21/768
  • 本发明提供了一种结构的制备方法和缩小尺寸的方法。半导体结构的一侧具有基底;在半导体结构的远离基底的一侧中形成凹槽;在具有凹槽的半导体结构的表面覆盖薄膜沉积材料,部分薄膜沉积材料位于凹槽表面;对薄膜沉积材料和半导体结构进行各向异性刻蚀,以形成贯穿至基底的,剩余的薄膜沉积材料环绕与凹槽对应的。本发明的上述制备方法中通过上述薄膜沉积材料能够实现的进一步缩小以及精确控制;并且,本发明的上述制备方法是在原有工艺上进行的改进,工艺简单易于实施,且本发明的上述薄膜沉积材料环绕,能够用于降低刻蚀电浆引起氧化层缺陷伤害
  • 结构制备方法缩小尺寸

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