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- [实用新型]一种托手架-CN202222433292.0有效
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何裕超;李猛;陈宏璘
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宿迁市第一人民医院（江苏省人民医院宿迁分院）
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2022-09-14
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2023-02-28
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A61B90/60
- 本实用新型涉及医疗辅助器械技术领域，且公开了一种托手架，包括固定于底座上的支撑杆件，所述支撑杆件包括下杆体以及上杆体，上杆体底部活动伸至下杆体内，上杆体底部安装有托板，上杆体上设有通槽，通槽内左侧壁上安装有齿条，右侧壁上设有限位槽，下杆体与通槽上活动穿有调节旋钮，通槽位置的调节旋钮上安装有与齿条啮合的齿环，齿环伸至限位槽内滑动支撑。通过设置可调高度的上杆体与下杆体搭配对托板进行支撑，托板为术者的手臂提供承托，使得手术时术者的双臂可以得到稳定的支撑，不再持续悬空，从而有效缓解悬空导致的肢体易疲劳情况，有利于手术的稳定进行。
- 一种托手架
- [发明专利]一种半导体器件的良率预测方法及装置-CN202011357825.0在审
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陈珊珊;陈宏璘;龙吟
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上海华力集成电路制造有限公司
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2020-11-27
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2021-03-12
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G06K9/62
- 本发明涉及一种半导体器件的良率预测方法及装置，以及一种计算机可读存储介质。该方法包括步骤：获取待预测的半导体器件的缺陷数据，其中，所述待预测的半导体器件包括半导体器件成品及半导体器件半成品，所述缺陷数据指示所述半导体器件的至少一个缺陷的缺陷种类及位置；将所述缺陷数据输入预先训练的良率预测模型，其中，所述良率预测模型包括神经网络结构及分类结构，所述神经网络结构用于从所述缺陷数据提取缺陷特征向量，所述分类结构用于根据所述缺陷特征向量输出良率合格或不合格的分类结果；以及利用所述良率预测模型确定所述半导体器件的良率合格或不合格的分类结果。本发明能够对半导体器件的缺陷和良率进行准确、有效地预测。
- 一种半导体器件预测方法装置
- [发明专利]一种自动化的样本减薄方法-CN201711093467.5有效
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周健刚;曹秋凤;龙吟;王恺;陈宏璘
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上海华力微电子有限公司
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2017-11-08
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2021-03-05
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G01N1/28
- 本发明涉及半导体技术领域，尤其涉及一种自动化的样本减薄方法；包括：步骤S1，提供具有一缺陷的一初始样本；步骤S2，在初始样本避开缺陷的表面上，形成以缺陷的两侧边缘的两条平行的延长线为起始线，槽宽向两侧延伸的两个沟槽；步骤S3，在两个沟槽中填充与初始样本相异的金属；步骤S4，采用聚焦离子束工艺对填充金属后的样本的两侧进行减薄，并在减薄的过程中实时监测减薄过程中的返回的粒子成分；步骤S5，于监测到的粒子成分中相异的金属的成分的占比低于一预设值时，停止减薄操作；能够精确控制聚焦离子切割的位置，提高了切片精度，同时自动化程度高，效率较高，人工成本低，制样成功率高。
- 一种自动化样本方法
- [发明专利]金属离子监控方法-CN201810504049.9有效
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曹秋凤;陈宏璘;龙吟;倪棋梁
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上海华力微电子有限公司
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2018-05-23
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2020-12-04
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H01L21/66
- 本发明提供了一种金属离子监控方法，提供晶圆，所述晶圆中注入有采样离子；将所述晶圆装载至待监控设备中进行正常作业；所述晶圆自所述待监控设备载出后，对所述晶圆进行缺陷扫描；以及依据扫描后晶圆上的缺陷判断所述待监控设备中是否存在金属离子。传统的检测金属离子的滴定法分析，整个检测过程复杂，且所需时间较长。本发明所提供方法，通过检测工程晶圆表面出现结晶以及白色条状痕迹的缺陷情况快速检测设备中金属离子情况，可以在较短时间内得到金属离子检测结果，及时对设备情况作出判断，缩短影响区间，缩短响应时间，可有效减少由于湿法去胶设备溶液中金属离子超标对产品良率产生的不良影响，提升产品质量。
- 金属离子监控方法
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