专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]异质结双极性晶体管及功率放大器-CN202210747477.0在审
  • 高志阳;喻千荣 - 稳懋半导体股份有限公司
  • 2022-06-29 - 2022-12-30 - H01L29/737
  • 本申请提供一种异质结双极性晶体管及功率放大器,所述异质结双极性晶体管包括:基底;以及基极台面,设置于基底上。基极台面包括集极基极基极设置于集极上,基极包括第一边和第二边,第二边相对于第一边。异质结双极性晶体管更包括:射极,设置于基极上;基极电极,设置于基底上并连接至基极;介电,设置于基极电极上;以及导电部件,设置于介电上。在介电中形成第一导孔于基极的第一边,且在介电中形成第二导孔于基极的第二边。导电部件通过第一导孔和第二导孔连接至基极电极。通过在基极端添加新的信号输入端以降低基极电阻,以改善异质结双极性晶体管和功率放大器在更高的操作频率的增益性能。
  • 异质结双极性晶体管功率放大器
  • [发明专利]异质结双极晶体管结构及其形成方法-CN202211312430.8在审
  • 潘林;袁海旭;杨磊;何鹏 - 常州承芯半导体有限公司
  • 2022-10-25 - 2023-01-13 - H01L29/06
  • 一种异质结双极晶体管结构及其形成方法,其中形成方法包括:提供衬底;在衬底上形成集电极;在集电极上形成基极;在基极上形成发射极;在发射极上形成保护,保护内具有保护开口,保护暴露出发射极的部分顶部表面;在保护开口暴露出的发射极表面、以及保护开口两侧保护的部分顶部表面形成初始基极金属;对初始基极金属进行退火处理,形成基极金属基极金属贯穿发射极且延伸至基极内。在退火处理的过程中,通过初始基极金属覆盖的保护作为阻挡,有效防止避免初始基极金属异常下层的问题,进而有效避免形成的基极金属贯穿基极,造成基极漏电的问题,有效提升器件的可靠性。
  • 异质结双极晶体管结构及其形成方法
  • [发明专利]半导体装置-CN201110255938.4无效
  • 石井孝明 - 株式会社东芝
  • 2011-09-01 - 2012-04-04 - H01L29/417
  • 根据本发明的实施方式,提供一种半导体装置,具备:第1导电型基极;设置在第1导电型基极之上的第2导电型基极;栅极绝缘膜;与栅极绝缘膜邻接地在第2导电型基极的表面选择地设置的第1导电型源极;设置在沟槽内的栅极绝缘膜的内侧的栅电极栅极绝缘膜设置在从第2导电型基极的表面达到第1导电型基极的沟槽的侧壁。主电极设置在第2导电型基极的表面上及第1导电型源极的表面上,并且设置在比沟槽内的栅电极及第2导电型基极更深的位置。主电极与第2导电型基极及第1导电型源极电气连接。
  • 半导体装置
  • [发明专利]电力半导体器件-CN02106147.5有效
  • 服部秀隆 - 株式会社东芝
  • 2002-04-05 - 2002-11-13 - H01L29/72
  • 在n型基极1的一面上形成p型基极7。在p型基极7的表面上形成n型发射极8。在n型基极1的另一面上形成p型集电极2。在n型发射极8和p型基极7上形成发射极电极9。对n型发射极8形成贯通p型基极7到达n型基极1的沟槽4,在该沟槽4内形成沟槽栅极电极6。因而n型基极1与p型基极7接连一侧的浓度变低,与p型集电极接连一侧的浓度变高,具有在厚度方向上连续变化的浓度梯度,就可以把p型集电极2的厚度形成为1微米以下。
  • 电力半导体器件
  • [发明专利]半导体装置-CN201810774785.6有效
  • 佐佐木健次;山本靖久 - 株式会社村田制作所
  • 2018-07-13 - 2022-06-28 - H01L23/528
  • 在具有包含在进行了蚀刻率依赖于晶面取向的各向异性蚀刻时倒台面型的台阶延伸的第一方向和正台面型的台阶延伸的第二方向的上表面的单晶的半导体基板上,配置有:双极晶体管,包含外延生长的集电极基极、以及发射极;和基极布线,与基极连接。在基极的边缘设置有台阶,基极布线在俯视下在与第一方向交叉的方向上从基极的内侧引出至外侧。基极的边缘与基极布线的交叉部位设为断线防止构造,该断线防止构造与对基极和集电极进行各向异性蚀刻而形成的倒台面型的台阶和基极交叉的构造相比,不易产生起因于台阶的基极布线的断线。
  • 半导体装置
  • [发明专利]半导体装置及其制造方法-CN200980133767.9有效
  • 中岛俊雄 - 罗姆股份有限公司
  • 2009-08-31 - 2011-07-27 - H01L21/336
  • 该半导体装置具有第一基极(12)、设置在第一基极(12)的背面的漏极(10)、形成在第一基极(12)的表面的第二基极(16)、形成在第二基极(16)的表面的源极(18)、配置在源极(18)和第二基极(16)的表面上的栅极绝缘膜(20)、配置在栅极绝缘膜(20)上的栅极电极(22)、在第二基极(16)和源极(18)的下部的第一基极(12)内与漏极(10)相对而形成的柱(14)、设置在漏极(10)的漏极电极(28)、设置在源极和第二基极的源极电极(26),对柱(14)进行重粒子束照射以局部形成陷阱能级。
  • 半导体装置及其制造方法
  • [发明专利]半导体器件及其制造方法-CN200410035109.5无效
  • 小林纯一郎 - 索尼株式会社
  • 2004-04-23 - 2004-10-27 - H01L29/737
  • 一种能够制造同时在抑制台面形状异常的发生而不会对图形布图、使用的蚀刻剂类型等有限制的半导体器件及其制造方法,提供有半导体台面部分、基极接触垫台面部分和导电,该半导体台面部分包括衬底上的集电极基极和发射极的叠并用作为双极晶体管的有源区,该基极接触垫台面部分通过预定距离与此分离并具有与基极的上表面相同的高度,该导电整体形成有连接到基极基极电极、在除了基极接触垫台面部分的上表面的边缘附近的区域中的基极接触垫台面部分上形成的基极接触垫电极以及连接这些电极的互连
  • 半导体器件及其制造方法

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