专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]提高化学机械平坦化工艺均匀性的方法-CN201210112494.3有效
  • 杨涛;赵超;李俊峰;侯瑞兵;卢一泓;崔虎山 - 中国科学院微电子研究所
  • 2012-04-16 - 2013-10-30 - H01L21/3105
  • 本发明提供了一种提高化学机械平坦化工艺均匀性的方法,包括以下步骤:在衬底上形成特征;在特征之间形成第一介质隔离;平坦化第一介质隔离,直至暴露特征,使得特征之间的第一介质隔离具有凹陷深度;在特征以及介质隔离上形成第二介质隔离,降低特征之间与特征顶部第二介质隔离的高度差;平坦化第二介质隔离,直至暴露特征。依照本发明的提高化学机械平坦化工艺均匀性的方法,在研磨特征顶部的介质隔离之后再次形成介质隔离,使得特征之间与特征顶部介质层高度差有效降低,并补偿了特征的凹陷,有效提高了晶圆芯片内部的均匀性。
  • 提高化学机械平坦化工均匀方法
  • [发明专利]半导体器件及其制备方法、系统-CN202210614790.7在审
  • 张红;刘沙沙;毛晓明;高晶;霍宗亮 - 长江存储科技有限责任公司
  • 2022-05-31 - 2022-09-09 - H01L27/11556
  • 制备半导体器件的方法包括:形成第一叠层结构,所述第一叠层结构包括核心区和切割区;在所述第一叠层结构上形成介质隔离,并在所述介质隔离的与所述核心区对应的部分中形成扩孔凹槽;形成贯穿所述第一叠层结构的第一沟道孔,其中,所述第一沟道孔在所述介质隔离上的投影与所述扩孔凹槽在所述介质隔离上的投影至少部分对准;以及在所述介质隔离上形成第二叠层结构,并形成贯穿所述第二叠层结构的第二沟道孔,其中,所述第二沟道孔在所述介质隔离上的投影位于所述扩孔凹槽和所述第一沟道孔在所述介质隔离上共同构成的投影范围内
  • 半导体器件及其制备方法系统
  • [发明专利]半导体结构及其形成方法-CN202110863309.3在审
  • 王楠 - 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
  • 2021-07-29 - 2023-02-03 - H01L29/78
  • 一种半导体结构及其形成方法,其中结构包括:衬底;位于衬底上栅极结构;位于衬底内的源极开口和漏极开口;位于漏极开口内的电介质隔离,电介质隔离位于漏极开口的底部,且电介质隔离的顶部表面低于衬底的顶部表面;位于源极开口内的源极掺杂层;位于漏极开口内的漏极掺杂层,漏极掺杂层位于电介质隔离上。通过位于漏极开口内的电介质隔离,能够利用电介质隔离降低漏极掺杂层与衬底之间发生漏电的问题;由于源极开口内没有形成电介质隔离,会使得形成的源极掺杂层的结构更加饱满,进而通过源极掺杂层为沟道区提供更高的外延应力
  • 半导体结构及其形成方法
  • [发明专利]双极晶体管的制作方法-CN201711397397.2有效
  • 不公告发明人 - 南京溧水高新创业投资管理有限公司
  • 2017-12-21 - 2020-08-28 - H01L21/331
  • 所述制作方法在进行介质隔离的接触孔刻蚀时,包括以下步骤:在所述介质隔离上形成光刻胶,所述光刻胶包括对应所述N阱的窗口;利用所述窗口对所述介质隔离及所述氧化层进行预刻蚀,从而形成贯穿所述介质隔离并延伸至所述氧化层中的第一接触孔,所述第一接触孔与所述N阱之间具有所述氧化层,去除所述光刻胶;对所述氧化层、所述介质隔离、所述氧化硅层进行刻蚀,从而去除所述第一接触孔下方的氧化层使得所述第一接触孔贯穿所述氧化层以及形成贯穿所述介质隔离及所述氧化硅层且对应所述基极多晶硅的第二接触孔、形成贯穿所述介质隔离且对应所述发射极多晶硅的第三接触孔。
  • 双极晶体管制作方法
  • [发明专利]一种隔离型沟槽MOS器件及其制备方法-CN202211159112.2有效
  • 张枫;刘杰 - 深圳芯能半导体技术有限公司
  • 2022-09-22 - 2023-01-10 - H01L29/06
  • 本申请属于功率器件技术领域,提供了一种隔离型沟槽MOS器件及其制备方法,通过在N型衬底的正面的N型外延层、P型注入层以及N型注入层,并形成第一图形结构的第一介质隔离、第二介质隔离和第二凸形结构的第三介质隔离,第三介质隔离位于第一介质隔离和第二介质隔离之间,栅极多晶硅层设于第三介质隔离内,第一凸形结构的凸起部位于N型外延层、P型注入层以及N型注入层中,第一凸形结构的基部设于N型注入层上,从而使得隔离型沟槽MOS器件的终端区内的横向电场完全隔离,从而在较小的尺寸内达到电场的平衡,优化器件的耐压,在缩小器件的尺寸的情况下保证了器件的性能。
  • 一种隔离沟槽mos器件及其制备方法
  • [实用新型]晶体管及半导体存储器件-CN201720965192.9有效
  • 不公告发明人 - 睿力集成电路有限公司
  • 2017-08-04 - 2018-02-13 - H01L29/78
  • 本实用新型提供一种晶体管及半导体存储器件,其中,晶体管至少包括衬底,所述衬底上制备有栅极结构;第一侧壁绝缘层与表面极性改质层,依次形成于所述衬底上,所述第一侧壁绝缘层覆盖所述栅极结构,所述表面极性改质层覆盖所述第一侧壁绝缘层;绝缘介质隔离,形成于所述衬底上,所述绝缘介质隔离覆盖所述表面极性改质层并包覆所述栅极结构;以及,栓导电层,形成于所述衬底上且位于所述绝缘介质隔离两侧。本实用新型通过表面极性改质层和绝缘介质隔离的直接接触,从而增强对绝缘介质隔离前驱物的表面吸附力,有效减少绝缘介质隔离中空洞的产生,因而能够有效避免栓导电层之间桥接短路。
  • 晶体管半导体存储器件
  • [发明专利]一种具有混合导电模式的LIGBT-CN202210479779.4有效
  • 陈万军;夏云;程峥;孙瑞泽;刘超;郑崇芝;张波 - 电子科技大学
  • 2022-05-05 - 2023-05-02 - H01L29/739
  • 本发明器件内存在第一绝缘介质隔离和第二绝缘介质隔离;第二绝缘介质隔离从器件表面穿过N型缓冲层延伸到N型外延层内,并将阳极结构的P阳极区和N阳极区隔离;第一绝缘介质隔离完全位于N型外延层内,其一侧与栅极结构的绝缘介质接触,另一侧与第二绝缘介质隔离接触。本发明器件利用缘介质隔离来分离阳极P+以及阳极N+结构,使这两个结构在器件导通时分别导通,分别为双极型导通模式和单极型导通模式,从而消除了由单极型导通模式向双极型导通模式切换导致的电压折回现象。
  • 一种具有混合导电模式ligbt

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