[发明专利]一种用于测试LPDDR4颗粒的平台开发系统及控制方法在审

专利信息
申请号: 202210295061.X 申请日: 2022-03-24
公开(公告)号: CN114550795A 公开(公告)日: 2022-05-27
发明(设计)人: 陈宗廷;陈建光;杜兆航;戴洋洋;林国智 申请(专利权)人: 深圳市耀星微电子有限公司
主分类号: G11C29/04 分类号: G11C29/04;G11C29/50
代理公司: 深圳华企汇专利代理有限公司 44735 代理人: 谢伟
地址: 518000 广东省深圳市龙华区观*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种用于测试LPDDR4颗粒的平台开发系统及控制方法,包括:电源模块、测试主控模块和LPDDR4测试模块,所述电源模块与监测电脑电连接,所述电源模块设置在电源载板上,所述电源载板上还设置有第一连接座,所述测试主控模块设置在测试核心载板上,所述测试核心载板上还设置有第二连接座和第三连接座,所述第二连接座与所述第一连接座之间电连接,所述LPDDR4测试模块设置于待测载板上,所述待测载板上还设置有第四连接座,所述第四连接座与所述第三连接座电连接,所述待测载板上装载LPDDR4颗粒待测物;本发明由三个载板组成,能方便对载板进行更换,降低了成本,具有良好的市场应用价值。
搜索关键词: 一种 用于 测试 lpddr4 颗粒 平台 开发 系统 控制 方法
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