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[外观设计]性能测试电路板（LPDDR3颗粒）-CN202330213600.6有效
发明人：陈建光;林国智 -专利权人： 深圳市耀星微电子有限公司
申请日： 2023-04-18 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： 14-99 文献下载
摘要：1.本外观设计产品的名称：性能测试电路板（LPDDR3颗粒）。2.本外观设计产品的用途：本外观设计产品用于LPDDR3颗粒性能测试时装载LPDDR3颗粒。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片：仰视图。
性能测试电路板 lpddr3 颗粒

[外观设计]性能测试载板（DDR3 颗粒）-CN202330268345.5有效
发明人：陈宗廷;陈建光;李方娜 -专利权人： 深圳市耀星微电子有限公司
申请日： 2023-05-09 - 公布日： 2023-10-13 - 主分类号： 14-99 文献下载
摘要：1.本外观设计产品的名称：性能测试载板（DDR3 颗粒）。2.本外观设计产品的用途：本外观设计产品用于DDR3颗粒性能测试时装载DDR3颗粒。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片：仰视图。
性能测试 ddr3 颗粒

[外观设计]性能测试载板（LPDDR4 颗粒）-CN202330268347.4有效
发明人：林国智;戴洋洋 -专利权人： 深圳市耀星微电子有限公司
申请日： 2023-05-09 - 公布日： 2023-10-13 - 主分类号： 10-05 文献下载
摘要：1.本外观设计产品的名称：性能测试载板（LPDDR4 颗粒）。2.本外观设计产品的用途：本外观设计产品用于LPDDR4颗粒性能测试时装载LPDDR4颗粒。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图。
性能测试 lpddr4 颗粒

[外观设计]性能测试电路板（DDR4颗粒）-CN202330213599.7有效
发明人：陈宗廷;戴洋洋;林国智 -专利权人： 深圳市耀星微电子有限公司
申请日： 2023-04-18 - 公布日： 2023-09-05 - 主分类号： 14-99 文献下载
摘要：1.本外观设计产品的名称：性能测试电路板（DDR4颗粒）。2.本外观设计产品的用途：本外观设计产品用于DDR4颗粒性能测试时装载DDR4颗粒。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片：俯视图。
性能测试电路板 ddr4 颗粒

[发明专利]一种方便入料的芯片生产用烘干装置及烘干方法-CN202110435564.8有效
发明人：张建平 -专利权人： 深圳市耀星微电子有限公司
申请日： 2021-04-22 - 公布日： 2023-05-19 - 主分类号： F26B9/08 文献下载
摘要：本发明公开了一种方便入料的芯片生产用烘干装置及烘干方法，涉及芯片制备设备技术领域，包括烘干箱，所述烘干箱内腔设有烘干组件，且烘干组件底部设有偏振机构，所述烘干箱顶部两侧均通过卡接机构活动连接有盖板，且盖板顶部连通有入料机构。本发明通过设计的入料机构，当芯片通过顶部入料辊掉入入料软管后，入料软管能够引导芯片掉入放置座内，放置座能够通过两侧抽真空嘴进行贴合，一侧抽真空泵能够通过抽真空软管和抽真空支管对连通管和连通支管进行抽真空，此时一侧抽真空嘴能够对芯片进行吸附定位，进而能够显著提高芯片入料稳定性，并且能够保证干燥时对芯片的真空吸附固定效果，满足入料固定稳定性。
一种方便芯片生产烘干装置方法

[发明专利]一种集成电路测试系统-CN202211600943.9在审
发明人：陈宗廷;陈建光;杜兆航;戴洋洋;林国智 -专利权人： 深圳市耀星微电子有限公司
申请日： 2022-12-13 - 公布日： 2023-03-17 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明涉及集成电路测试技术领域，提供了一种集成电路测试系统，包括：主控模块、信号发生模块、输出信号检测模块、人机交互模块和存储模块，所述信号发生模块的受控端与所述主控模块连接，输出端适于与待测物的输入端连接，用于对所述待测物发出测试输入信号，所述输出信号检测模块的输出端与所述主控模块连接，输入端适于与所述待测物连接，用于检测所述待测物的信号状态，并将所述信号状态传递至主控模块，所述人机交互模块与所述主控模块连接，所述存储模块与所述主控模块连接，用于存储所述待测物的检测信息以及对应的信号状态信息；本发明能实现对不同型号的待测物内的集成电路的自动化检测和统计。
一种集成电路测试系统

[实用新型]一种芯片测试用探针以及测试装置-CN202222239307.X有效
发明人：陈宗廷;戴洋洋;陈建光 -专利权人： 深圳市耀星微电子有限公司
申请日： 2022-08-25 - 公布日： 2023-02-14 - 主分类号： G01R1/073 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种芯片测试用探针以及测试装置，芯片测试用探针包括探针主体以及探针头部，所述探针头部上固定安装有连接杆，所述探针主体上开设有与连接杆相配合的连接槽，且连接杆与连接槽之间安装有压缩弹簧；芯片测试用测试装置包括固定座、芯片主体以及两个上述的一种芯片测试用探针，所述固定座上开设有与芯片主体相配合的放置槽，所述固定座上转动连接有转杆。优点在于：可有效确保探针头部与芯片主体之间的稳定接触，避免出现接触不稳的问题，并且可根据需要对两个探针头部的间距进行调节，从而可对二者与芯片主体的接触位置进行有效控制，避免因接触位置存在偏差导致测试结果准确度不高的问题。
一种芯片测试探针以及装置

[实用新型]一种芯片测试震动控制装置-CN202220299419.1有效
发明人：陈宗廷;林国智 -专利权人： 深圳市耀星微电子有限公司
申请日： 2022-02-15 - 公布日： 2022-08-26 - 主分类号： G01M7/02 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种芯片测试震动控制装置，包括震动台，所述震动台上滑动安装有矩形块，所述矩形块上固定连接有齿条板，所述震动台上转动安装有两个呈对称设置的丝杆，每个所述丝杆上均固定连接有齿轮，所述齿轮和所述齿条板啮合连接；每个所述丝杆上均螺纹连接有滑动块，每个所述滑动块上均滑动连接有安装杆，所述安装杆上固定连接有夹持块，所述夹持块上设置有夹板，所述夹持块横截面呈凹字形设置；所述震动台上设置有两个滑动组件，每个所述滑动组件均包括和所述震动台固定连接的固定块。本实用新型芯片在进行震动测试的过程中，不会发生晃动，从而使得测试的数据更加准确，有利于对芯片的抗震检测。
一种芯片测试震动控制装置

[实用新型]一种芯片模拟按压测试治具-CN202220299524.5有效
发明人：陈宗廷;陈建光 -专利权人： 深圳市耀星微电子有限公司
申请日： 2022-02-15 - 公布日： 2022-08-26 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种芯片模拟按压测试治具，包括测试台，所述测试台上转动连接有第一转轴，且第一转轴的上端固定连接有导料座，所述测试台上设置有与第一转轴相配合的驱动机构，所述导料座上开设有多个呈环形分布的放置槽。本实用新型涉及芯片测试技术领域，通过设置的驱动机构，可以将各个芯片导送至吸尘罩下方，吸尘罩在吸尘器的配合下，可以对各个芯片上附着的颗粒杂质进行有效清除，避免了人工清理的繁琐和劳力损耗，另外驱动机构可以将各个清理完成的芯片导送至测试压块下方进行按压测试，使得清理工序和按压工序得到衔接，避免了人工导送的繁琐，且有效的提高了工作效率。
一种芯片模拟按压测试

[实用新型]一种用于芯片测试板的防插反结构-CN202220299529.8有效
发明人：陈宗廷;陈建光;戴洋洋 -专利权人： 深圳市耀星微电子有限公司
申请日： 2022-02-15 - 公布日： 2022-08-26 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种用于芯片测试板的防插反结构，包括测试板，所述测试板侧壁固定连接有安装板，所述安装板侧壁设有空腔，所述空腔内设有三个纽扣电池，所述安装板侧壁设有灯条，所述测试板侧壁嵌设有两个导电片，所述测试板侧壁设有多个凸起，多个所述凸起位于灯条的同一侧，所述测试板侧壁设有卡槽，所述卡槽侧壁设有标示贴。本实用新型通过灯条发光提示人们测试板插反了，能够使人们及时发现测试板插反的情况，从而做出及时的调整，还不需要人们仔细的分辨测试板的正反面。
一种用于芯片测试防插反结构

[实用新型]一种带限位结构的芯片测试装置-CN202220352532.1有效
发明人：陈宗廷;陈建光 -专利权人： 深圳市耀星微电子有限公司
申请日： 2022-02-22 - 公布日： 2022-08-26 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种带限位结构的芯片测试装置，包括底板，所述底板上侧壁固定连接有两个支撑板，所述底板上设有两个移动板，所述底板上设有夹持机构，所述夹持机构包括横板，所述横板上侧壁固定连接有电机，所述电机的输出轴固定连接有转杆，所述转杆右端固定连接有第一齿轮，位于左侧的所述支撑板侧壁转动连接有双头螺纹杆，所述双头螺纹杆侧壁固定连接有第二齿轮，两个所述移动板均与双头螺纹杆侧壁螺纹连接。本实用新型实现对芯片夹持与固定，防止在对芯片进行测试时芯片发生移动，还能够使两个移动板相互靠近的速度较慢，使员工可以根据芯片的尺寸缓慢调节两个移动板之间的距离，还能避免移动板因移动过快将芯片夹坏。
一种限位结构芯片测试装置

[实用新型]一种芯片抗干扰测试装置-CN202220352547.8有效
发明人：陈宗廷;林国智;戴洋洋 -专利权人： 深圳市耀星微电子有限公司
申请日： 2022-02-22 - 公布日： 2022-08-26 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种芯片抗干扰测试装置，包括工作台，所述工作台上放置有测试仪和负压机，所述测试仪的上方固定设置有安装台，所述安装台的上表面嵌设有多个测试电路板，且每个测试电路板均与测试仪电性连接，每个所述测试电路板上均设有芯片本体，所述安装台的两端对称开设有滑动槽，每个所述滑动槽内均通过第一弹簧支撑有导杆，两个所述导杆上共同支撑有固定薄板，所述安装台内对称设置有多根风管，且每根风管的上端均延伸至安装台的上方。本实用新型能对多个芯片同时进行抗干扰测试，在测试时芯片会受到稳定的固定效果，并且能随时调整固定薄板对芯片所施加的力，抗干扰测试的效果更好。
一种芯片抗干扰测试装置

[实用新型]一种用于IC芯片测试的装夹装置-CN202220352540.6有效
发明人：陈宗廷;戴洋洋;林国智 -专利权人： 深圳市耀星微电子有限公司
申请日： 2022-02-22 - 公布日： 2022-07-22 - 主分类号： B25B11/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种用于IC芯片测试的装夹装置，包括截面为开口朝上凹字形的底座，所述底座凹槽内滑动连接有两个功能块，所述功能块为空心结构，两个所述功能块相对一侧的侧壁均贯穿滑动连接有齿条，所述齿条位于功能块外部的一端焊接有夹板，所述夹板与功能块之间固定连接有若干弹簧，两个所述功能块内底壁均通过轴承转动连接有两个第二螺纹筒，所述第二螺纹筒螺纹连接有第二螺杆，所述第二螺杆过盈配合有第一齿轮，所述齿条与第一齿轮啮合，所述功能块侧壁贯穿滑动连接有L形板。本实用新型的装置对芯片的夹持效果更好，有效避免了检测过程中，芯片出现移动，影响检测结果，且适用于不同规格芯片的夹持，具有更强的实用性。
一种用于 ic 芯片测试装置

[实用新型]一种芯片重力测试倒管辅助工具-CN202220299503.3有效
发明人：陈宗廷;戴洋洋;陈建光 -专利权人： 深圳市耀星微电子有限公司
申请日： 2022-02-15 - 公布日： 2022-06-14 - 主分类号： B65B43/46 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种芯片重力测试倒管辅助工具，包括底座，所述底座上对称固定设置有两个侧板，两个所述侧板之间转动设置有倒管盒，所述倒管盒通过转动机构转动设置在两个侧板上，所述倒管盒内开设有倒管室，且所述倒管盒的两侧侧壁上均固定插设有料管，所述倒管盒的两侧侧壁上均开设有与料管对应的插口，所述导管室内对称设置又两个限位环，两个所述限位环均通过连杆与导管室的上壁相连接，所述倒管盒的两侧侧壁上均设有与两个料管对应的固定机构。本实用新型能够快速准确的对两个料管进行对其固定，并能够快速的翻转料管完成倒管的操作，替代了人工对其进行倒管的操作，大大提高了芯片重力测试的效率。
一种芯片重力测试辅助工具

[发明专利]一种用于测试LPDDR4颗粒的平台开发系统及控制方法-CN202210295061.X在审
发明人：陈宗廷;陈建光;杜兆航;戴洋洋;林国智 -专利权人： 深圳市耀星微电子有限公司
申请日： 2022-03-24 - 公布日： 2022-05-27 - 主分类号： G11C29/04 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于测试LPDDR4颗粒的平台开发系统及控制方法，包括：电源模块、测试主控模块和LPDDR4测试模块，所述电源模块与监测电脑电连接，所述电源模块设置在电源载板上，所述电源载板上还设置有第一连接座，所述测试主控模块设置在测试核心载板上，所述测试核心载板上还设置有第二连接座和第三连接座，所述第二连接座与所述第一连接座之间电连接，所述LPDDR4测试模块设置于待测载板上，所述待测载板上还设置有第四连接座，所述第四连接座与所述第三连接座电连接，所述待测载板上装载LPDDR4颗粒待测物；本发明由三个载板组成，能方便对载板进行更换，降低了成本，具有良好的市场应用价值。
一种用于测试 lpddr4 颗粒平台开发系统控制方法

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