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[发明专利]一种在LUN工作数量限制下的SSD可靠性测试方法-CN202310974126.8在审
发明人：杨雪;王璞;李瑞东 -专利权人： 山东华芯半导体有限公司
申请日： 2023-08-04 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G11C29/50 文献下载
摘要：本发明涉及存储器领域，具体涉及一种在LUN工作数量限制下的SSD可靠性测试方法，包括以下步骤：S01）设定SSD测试总轮次为n；S02）对被测试SSD下发注错命令，使LUN工作数量到达最小值，S03）对SSD的前M%空间写入数据S04）对SSD的后（100‑M）%空间读写数据，同时下发正断/异断/热插拔命令；S05）查看被测试SSD状态是否正常；S06）若是，则对被测试SSD前M%空间进行校验；若不是，则测试失败且测试结束；S07）判定校验完成后的SSD的轮次是否达到n；S08）若否，对校验完成后的SSD重复步骤S04）~S07）；若是，则测试结束。本发明可测试SSD在极限性能时的数据错误率和故障率，其方案接近真实场景，可提前发现潜在故障，可为提高SSD可靠性和耐久性提供借鉴。
一种 lun 工作数量限制 ssd 可靠性测试方法

[发明专利]一种固态存储设备温控方法-CN202310838833.4在审
发明人：徐源长;李瑞东;王璞 -专利权人： 山东华芯半导体有限公司
申请日： 2023-07-10 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： G11B33/14 文献下载
摘要：本发明提供了一种固态存储设备温控方法，包括多CPU核心架构的固态硬盘主控芯片，前端核Core0周期性采样固态硬盘盘各部位传感器温度值，并计算复合温度，将复合温度发送给辅助核mCore4；后端核Core2、Core3实时采集各自的工作中逻辑单元号数量，并反馈给辅助核mCore4；辅助核mCore4对采样数据做累加和平均，并检测复合温度是否超过条件阈值，若超过阈值，则根据实际负载水平和温度档位调整逻辑单元号最大并发数限值；后端核Core2、Core3从辅助核mCore4上得到并发数限值，调整闪存控制器。本发明节省算力提高输入输出性能，确保在限制固态硬盘温度、功耗的同时不损失过多的性能，保证最大逻辑单元号并发数计算结果的准确性和实时性。
一种固态存储设备温控方法

[发明专利]一种基于quarch设备批量NVME SSD热插拔测试的方法-CN202310730855.9在审
发明人：杨雪;王璞;李瑞东 -专利权人： 山东华芯半导体有限公司
申请日： 2023-06-20 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：一种基于quarch设备批量NVME SSD热插拔测试的方法，涉及SSD固态硬盘技术领域，在服务器上对批量nvme ssd进行热插拔测试场景中，通过部署批量quarch设备精准控制每个nvme ssd设备，利用服务器上的python脚本控制quarch设备下发plug、pull命令，从而实现批量nvme ssd的拔出、插入操作，命令下发后，服务器通过查询每个盘的状态，从而判断下发的命令是否成功，如果下发失败，则测试失败终止测试，否则直到达到设定的测试轮次终止测试。通过多个quarch设备实现批量nvme ssd热插拔测试，巧妙的设计测试负载及步骤，极大提高了验证ssd可靠性的效率和质量，实现了高效验证。
一种基于 quarch 设备批量 nvme ssd 热插拔测试方法

[实用新型]一种硬盘热插拔测试装置-CN202321261547.8有效
发明人：段好强;吴斌;乔子龙 -专利权人： 山东华芯半导体有限公司
申请日： 2023-05-24 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： G06F11/273 文献下载
摘要：本实用新型属于计算机硬件测试技术领域，尤其涉及一种硬盘热插拔测试装置，包括托架，其侧壁具有第一滑槽；测试插槽，其位于第一滑槽内，并具有第二滑槽；滑移组件，其具有第三滑槽，以及，用于连接所述第一滑槽与第三滑槽的连杆；连杆设上设有的滑块，滑块内连接以移动杆；驱动组件，驱动组件可驱动测试插槽沿第一滑槽滑动，还可驱动测试插槽沿第二滑槽滑动。本实用新型解决了人工对准金手指和测试插槽时产生的相互错动或弯折增加损坏风险的问题；本实用新型中的测试插槽在与金手指对齐过程无相互错动，且二者配合过程对金手指无弯折，还可调整测试插槽与金手指配合时的受力点。
一种硬盘热插拔测试装置

[发明专利]一种辅助数字验证的调试方法-CN202310817259.4在审
发明人：张世凯;姚香君;刘世伟;覃耀;张梦柯 -专利权人： 山东华芯半导体有限公司
申请日： 2023-07-05 - 公布日： 2023-10-03 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明提供了一种辅助数字验证的调试方法，属于软件调试技术领域。通过搭建调试库，通过匹配类算法根据调试库存储的信息匹配对应的解决方案；使用文本实时记录代码改动操作和改动结果；调试过程中结合UVM环境，指定打印信息位置，根据UVM打印信息追踪数据通路，判断数据通路是否卡死，对卡死的数据通路通过文本记录的代码改动操作和改动结果进行检查，并根据搭建的调试库查找解决方法，解决数据通路卡死问题。本发明有助于减少调试时间，提升工作效率，减轻工作负担。
一种辅助数字验证调试方法

[发明专利]一种基于白名单的设备过滤方法及系统-CN202310824230.9在审
发明人：姜向阳;秦法林;张忠国;石念伟 -专利权人： 山东华芯半导体有限公司
申请日： 2023-07-06 - 公布日： 2023-10-03 - 主分类号： G06F21/44 文献下载
摘要：本发明提出一种新的白名单的管理方法，对接入设备平台USB接口中的USB存储设备进行合法性判断和筛选，只有设备信息符合白名单列表的设备，才能正常工作并使用设备平台的功能。在设备平台中，白名单列表存放于平台硬件的SPI‑FLASH模块，运行于设备管理平台的伺服程序，会实时监测USB接口中的热插拔事件，如果有USB存储设备插入，将判定对应端口的USB存储设备信息是否存在于白名单列表，若存在，则使能USB存储设备，若不存在，则禁用USB存储设备并告警。白名单列表可以通过专用的密钥U盘进行更新。通过以上方法，大大提高了白名单列表更新的便捷性以及系统的整体安全性，降低了数据泄露的风险。
一种基于名单设备过滤方法系统

[发明专利]一种基于NVME多NS管理的碎片测试方法-CN202310809347.X在审
发明人：李智慧;王璞;李瑞东 -专利权人： 山东华芯半导体有限公司
申请日： 2023-07-04 - 公布日： 2023-10-03 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：一种基于NVME多NS管理的碎片测试方法，涉及NVME设备技术领域，可以更全面、准确的覆盖每个命名空间。可靠性提升：验证多ns容量变更及切分整合功能的正确性及数据的稳定性。性能优化：多ns容量均衡，可以实现并行访问和负载，从而提高设备的整体性能。通过上述测试方法，可提前预测，及时发现问题。
一种基于 nvme ns 管理碎片测试方法

[发明专利]一种针对芯片固件的故障预测和诊断方法-CN202310785773.4在审
发明人：粟汝发;王璞;李瑞东 -专利权人： 山东华芯半导体有限公司
申请日： 2023-06-30 - 公布日： 2023-10-03 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明提供了一种针对芯片固件的故障预测和诊断方法，收集芯片固件运行数据，对芯片固件运行数据进行预处理，利用机器学习和数据挖掘技术建立故障预测模型，训练和优化故障预测模型，对芯片固件的运行数据进行分析，从而实现故障的预测和诊断。该方法能够提高故障预测和诊断的准确性和效率，降低系统故障风险，提高芯片固件的可靠性和稳定性。
一种针对芯片故障预测诊断方法

[发明专利]一种自主输出NVME协议命令加速处理方法-CN202010643442.3有效
发明人：孙中琳;刘奇浩;粟如发;段好强 -专利权人： 山东华芯半导体有限公司
申请日： 2020-07-07 - 公布日： 2023-09-29 - 主分类号： G06F3/06 文献下载
摘要：本发明公开一种自主输出NVME协议命令加速处理方法，本方法在NVME子系统的CPU中集成一个或多个数据紧耦合内存单元DTCM，在NVME控制器增加一个AXI MASTER接口，所述AXI MASTER接口接入AXI总线，地址访问空间为CPU内部的DTCM地址；NVME控制器通过AXI MASTER接口将NVME命令写入DTCM，NVME子系统中的CPU内核直接访问DTCM；并且NVME子系统根据namespace ID，将namespace ID不同的所有命令写入相应的DTCM中。本发明减少了CPU读取操作次数，降低时延，提高性能。
一种自主输出 nvme 协议命令加速处理方法

[发明专利]一种基于大小核架构的多核芯片启动方法-CN202111617525.6有效
发明人：乔子龙;李瑞东;王璞;粟汝发;段好强 -专利权人： 山东华芯半导体有限公司
申请日： 2021-12-28 - 公布日： 2023-09-29 - 主分类号： G06F9/445 文献下载
摘要：本发明公开一种基于大小核架构的多核芯片启动方法，本方法在启动过程中增加了一个引脚，来判断是否加载补丁，此设计为芯片增加一个保险，可以对只读存储器代码进行补丁升级，有效降低了因为只读存储器代码设计不合理，导致需要重新流片的风险。启动过程采用分段执行的设计，无需要在只读存储器中执行对动态随机存取存储器和外设的初始化，降低了只读存储器代码设计的风险，减小了只读存储器使用的芯片面积，降低了成本。通过重映射的方式，分时复用，只需要使用了一个寄存器资源即可实现引导过程，减小了芯片面积，降低了芯片的成本。
一种基于大小架构多核芯片启动方法

[发明专利]一种验证PCIe端口的方法-CN202310650469.9在审
发明人：烟晓凤;姚香君;夏丽煖;姜宝来;覃耀;董志豪;董艳 -专利权人： 山东华芯半导体有限公司
申请日： 2023-06-02 - 公布日： 2023-09-26 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本发明涉及存储领域，具体是一种验证PCIe端口的方法，本方法通过配置编译参数及仿真参数，可灵活配置PCIe与Host VIP连接方式，同时可灵活选择单端口验证平台或双端口验证平台进行验证，同时该方法在双端口模式下可灵活选择对不同PCIe Device进行不同功能的验证，克服了仅能验证单端口的限制，有效减少了资源消耗，提高验证效率。
一种验证 pcie 端口方法

[发明专利]一种全盘文件打包加解密方法和系统-CN202310359848.2在审
发明人：姜向阳;秦法林;张忠国;石念伟;王晓玉;范宣荣;尹相彦 -专利权人： 山东华芯半导体有限公司
申请日： 2023-04-06 - 公布日： 2023-09-22 - 主分类号： H04L9/08 文献下载
摘要：本发明提供了一种全盘文件打包加解密方法和系统，属于数据加密技术领域。本发明通过定义打包加密规则，将文件夹中的全部数据，加密为一个密文文件，同时在加密的过程中，通过规则添加一定的干扰数，大大增加了文件的破解难度；通过配套的解密软件工具，才能将密文文件按规则进行解密还原。本发明具有可靠性好，安全强度高的有益效果。
一种全盘文件打包解密方法系统

[发明专利]一种支持区域自动复位的芯片验证方法-CN202310500584.8在审
发明人：姜宝来;姚香君;陈国强;覃耀;张世凯;烟晓凤 -专利权人： 山东华芯半导体有限公司
申请日： 2023-04-28 - 公布日： 2023-09-15 - 主分类号： G06F11/14 文献下载
摘要：一种支持区域自动复位的芯片验证方法，其特征在于，包括：定义两个宏，第一个宏包含注册验证信息，第二个宏包含复位信息，构建uvm的tb架构，每个子系统环境中例化多个子模块环境，在tb顶层调用uvm_config_db，将与RTL相连的reset信号传递到对应环境中，在各个子模块环境接收tb顶层传递的reset信号，此时调用第一个宏，将接收到的信号注册到工厂，在仿真时刻调用第二个宏传入需要复位的信息，进行子模块环境的复位。本发明既自动对testbench相关内容进行复位，还解决了在同一个testbench中复位1个或多个子模块的难题。
一种支持区域自动复位芯片验证方法

[发明专利]一种动态调整预测NAND最优读电压的方法-CN202310762030.5在审
发明人：孙义;曹成;李瑞东 -专利权人： 山东华芯半导体有限公司
申请日： 2023-06-27 - 公布日： 2023-09-08 - 主分类号： G11C16/26 文献下载
摘要：一种动态调整预测NAND最优读电压的方法，涉及NAND Flash技术领域，可以代替目前存储设备中使用的固定电压轴表读取的方式。解决了固定电压轴无法覆盖所有复杂使用情况的问题。此方法在电压轴准确度的基础上兼顾了效率，在最优电压阈值动态生成过程中有一定的自学习能力，对于SSD读性能有一定的提升作用。
一种动态调整预测 nand 最优电压方法

[发明专利]一种SSD中优化NAND Flash读参考电压的方法-CN201911410230.4有效
发明人：刘凯;王璞;曹成 -专利权人： 山东华芯半导体有限公司
申请日： 2019-12-31 - 公布日： 2023-09-08 - 主分类号： G11C29/08 文献下载
摘要：本发明公开一种SSD中优化NAND Flash读参考电压的方法，本方法首先确定影响NAND Flash读参数的影响因素，然后对确认的影响因素进行区间划分，选取一定数量的block作为样本进行测试，写入随机数据，根据划分的影响因素区间，在不同类型组合情况下对数据进行校验，找到每个PT的最优读参数，基于最优读参数对应的影响因素生成读参数列表并保存到DDR的指定位置，读取数据时，根据需要读取的数据所在block的情况定位到DDR中读参数列表的对应位置，然后使用读参数列表中保存的最优读参数去读取该block中的page。本发明能减少ECC错误发生的概率，从而保证SSD的读性能的稳定。
一种 ssd 优化 nand flash 参考电压方法

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