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[发明专利]存储器的测试方法-CN202310946495.6在审
发明人： 楚西坤 -专利权人：长鑫科技集团股份有限公司
申请日： 2023-07-31 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： G11C29/56 文献下载
摘要：本公开提供一种存储器的测试方法。存储器的测试方法包括至少一个字线驱动电路测试过程，字线驱动电路测试过程包括：将第一数据写入字线驱动电路对应的存储单元；读取存储单元的第二数据；当第一数据与第二数据不同时，确定字线驱动电路异常；其中，字线驱动电路为信号走线层断裂后经修补的字线驱动电路。在本公开中，通过以写入第一数据并读取第二数据的方式测试经修补的字线驱动电路是否异常，能够识别存在异常的字线驱动电路以对存储器进行分类，从而提高了存储器的可靠性。
存储器测试方法

[发明专利]一种感应放大器性能的检测方法、存储芯片-CN202210291541.9在审
发明人： 楚西坤 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2022-03-23 - 公布日： 2023-10-03 - 主分类号： G11C29/08 文献下载
摘要：本申请实施例提供一种感应放大器性能的检测方法、存储芯片。其中，所述方法包括：对位于同一列的一组存储单元中的目标存储单元至少执行一次如下循环步骤，其中：所述一组存储单元包括目标存储单元和与所述目标存储单元连续的N个存储单元，所述N为大于等于2的正整数；在执行第一写操作过程中，向所述一组存储单元中写入检测数据，其中，所述检测数据中写入所述目标存储单元的数据为检测位元数据；在执行第一读操作过程中，控制所述目标存储单元的驱动位线和参考位线的预充电时长为检测时长后，读取所述目标存储单元上的目标数据；基于所述检测位元数据与所述目标数据的一致性，检测所述目标存储单元的感应放大器在所述检测时长下的性能。
一种感应放大器性能检测方法存储芯片

[发明专利]感应放大器的感应边界确定方法及装置、介质及电子设备-CN202210295457.4在审
发明人： 楚西坤 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2022-03-23 - 公布日： 2023-10-03 - 主分类号： G11C7/06 文献下载
摘要：本公开是关于一种感应放大器的感应边界确定方法、感应放大器感的应边界确定装置、计算机可读存储介质及电子设备，该感应放大器的感应边界确定方法包括：通过选择性写入方式在存储阵列中写入第一数据；读取存储阵列中第一存储单元中的第一数据，并在第一存储单元中反写第二数据；在预设行预充电时间之后，读取第一存储单元所在位线上的第二存储单元中的第一数据；当第二存储单元中读取到第一数据，在第二存储单元中反写第二数据，并改变预设行预充电时间，直到感应放大器在位线上无法正确读取到第一数据时，将对应的临界行预充电时间确定为行预充电时间边界值。
感应放大器边界确定方法装置介质电子设备

[发明专利]存储器测试方法及装置、介质及设备-CN202210293283.8在审
发明人： 楚西坤 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2022-03-23 - 公布日： 2023-10-03 - 主分类号： G11C29/08 文献下载
摘要：本公开是关于一种存储器测试方法、存储器测试装置、计算机可读存储介质及电子设备，涉及集成电路技术领域。该存储器测试方法包括：在存储阵列的各存储单元中均写入第一数据；使能数据掩码模式，在所述存储阵列的各所述存储单元中均写入第二数据；使能漏电模式，在所述存储阵列的待测列所对应的存储单元中写入第一数据；预设漏电时间后，关闭所述漏电模式，并读取所述待测列所对应的存储单元中的数据进行测试，以确定所述存储阵列中是否存在同开的至少两列。本公开可以对行解码器是否失效进行测试。
存储器测试方法装置介质设备

[发明专利]感应放大器感应边界确定方法及装置、介质及设备-CN202210293485.2在审
发明人： 楚西坤 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2022-03-23 - 公布日： 2023-10-03 - 主分类号： G11C7/06 文献下载
摘要：本公开是关于一种感应放大器感应边界确定方法、感应放大器感应边界确定装置、计算机可读存储介质及电子设备，涉及集成电路技术领域。该感应放大器感应边界确定方法包括：在感应放大器两侧对应的至少一对第一字线和第二字线中写入相同数据；激活第一字线并预充电；在预设行预充电时间之后，读取对应的第二字线中的数据；当感应放大器在第二字线中没有正确读取到数据的情况下，将对应的临界行预充电时间，确定为行预充电时间边界值；另外，通过减小感应延迟时间，有利于边界情况产生，便于行预充电时间边界值的确定。本公开可以衡量感应放大器的感应能力。
感应放大器边界确定方法装置介质设备

[发明专利]感应放大器感应边界确定方法及装置、介质及设备-CN202210295229.7在审
发明人： 楚西坤 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2022-03-23 - 公布日： 2023-10-03 - 主分类号： G11C29/02 文献下载
摘要：本公开是关于一种感应放大器感应边界确定方法、感应放大器感应边界确定装置、计算机可读存储介质及电子设备，涉及集成电路技术领域。该感应放大器感应边界确定方法包括：在存储阵列中写入第一数据；读取存储阵列中第一存储单元中的第一数据，并在第一存储单元中反写第二数据；在预设行预充电时间之后，读取第一存储单元所在位线上的第二存储单元中的第一数据；在第二存储单元中读取到第一数据的情况下，在第二存储单元中反写第二数据，并改变预设行预充电时间，直到感应放大器在位线上无法正确读取到第一数据时，将对应的临界行预充电时间，确定为行预充电时间边界值。本公开可以衡量感应放大器的感应能力。
感应放大器边界确定方法装置介质设备

[发明专利]存储器的缺陷检测方法、装置及计算机可读存储介质-CN202210270572.6在审
发明人： 楚西坤;刘东;第五天昊 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2022-03-18 - 公布日： 2023-09-26 - 主分类号： G11C29/12 文献下载
摘要：本申请涉及一种存储器的缺陷检测方法、装置及计算机可读存储介质。其中，存储器的缺陷检测方法包括：向目标存储单元阵列写入第一数据；在目标存储单元的位线电压处于被上拉或者下拉后的目标电压时，打开目标存储单元的字线，以向目标存储单元内回存与第一数据相反的数据，目标存储单元的回存时间为预设时间；关闭目标存储单元的字线；读取目标存储单元内存储的第二数据；判断第一数据和第二数据是否一致；当第一数据和第二数据一致时，判定目标存储单元具有在预设时间内导致回存失效的缺陷。本申请实施例可以有效缺陷检测能力。
存储器缺陷检测方法装置计算机可读存储介质

[发明专利]存储器的检测方法-CN202210046881.5有效
发明人： 楚西坤 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2022-01-14 - 公布日： 2023-09-19 - 主分类号： G11C8/08 文献下载
摘要：本公开提供一种存储器的检测方法，涉及半导体技术领域，用于解决无法测试存储器预充电时间的技术问题，该存储器的检测方法先在第一对角线和第二对角线上写入第一存储数据，之后再写入第二存储数据，按照第一读取顺序读取位于第一对角线和第二对角线上的存储单元的存储数据，并在每读取一个存储单元的存储数据之前，缩短与该存储单元连接的位线和参考位线预充电时间，以增加该存储单元读取时出错的几率，若是该存储单元的存储数据与第一存储数据不同或者与第二存储数据不同，则证明出错时的第一预设时间为该存储器对应的行预充电时间的边界值，缩短了测试时间，此外，对角线周边为未知数据，拓宽了测试环境的设定范围，可对不同的存储器进行测试。
存储器检测方法

[发明专利]存储器漏电流的检测方法-CN202210175571.3在审
发明人：第五天昊;刘东;楚西坤 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2022-02-24 - 公布日： 2023-09-05 - 主分类号： G11C29/04 文献下载
摘要：本公开提供了一种存储器漏电流的检测方法，方法包括：提供存储阵列，所述存储阵列包括多个存储单元，所述存储单元可操作地耦接到位线和字线；相同或相邻的字线上的相邻存储单元之间具有预设电位差；利用预设电位差产生的电子移动检测相邻存储单元之间的漏电流。在本公开中，在相邻存储单元之间设置预设电位差，预设电位差驱动高电位存储单元中的电子向低电位存储单元中移动，若相邻的两个存储单元存在漏电问题时，增大产生的漏电流的效果，以使漏电流的检测更加准确。
存储器漏电检测方法

[发明专利]存储阵列故障检测方法、装置与电子设备-CN202210187722.7在审
发明人：刘东;楚西坤;第五天昊 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2022-02-28 - 公布日： 2023-09-05 - 主分类号： G11C29/04 文献下载
摘要：本公开提供一种存储阵列故障检测方法、装置与电子设备。存储阵列故障检测方法包括：顺次对多条第一目标字线连接的多个存储单元间隔写入数据1和数据0，相邻两条所述第一目标字线间隔有预设值条字线；顺次读取所述多条第一目标字线连接的存储单元；在所述存储单元的读取结果不等于其写入的数据1和/或数据0时，判断存储阵列发生故障。本公开实施例可以提高测出存储阵列故障的概率。
存储阵列故障检测方法装置电子设备

[发明专利]存储器阵列的测试方法、装置、设备及存储介质-CN202210020259.7有效
发明人：刘东;楚西坤 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2022-01-10 - 公布日： 2023-09-05 - 主分类号： G11C29/12 文献下载
摘要：本公开提供一种存储器阵列的测试方法、装置、设备及存储介质，所述测试方法包括：将待测存储器阵列中存储单元的电容其中一个极板电压调整至高电压；按照第一预设方式将所述待测存储器阵列中存储单元存入少于预充电量的电荷；基于预设数据拓扑，将所述预设数据拓扑中数据按照第二预设方式向所述待测存储器阵列执行预设读写操作；将所述待测存储器阵列中存储单元存入少于预充电量的电荷，读取数据；根据读取的数据和第一预设方式写入数据，确定所述待测存储器阵列是否正常。本公开对存入少于预充电量的电荷后的存储器阵列执行预设读写操作，使得存储器阵列中存储单元的电容电压不断变化，提高电容上极板漏电失效情况的暴露几率。
存储器阵列测试方法装置设备存储介质

[发明专利]存储器预充电时长边界的测试方法、装置、设备及存储介质-CN202210041371.9有效
发明人： 楚西坤 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2022-01-14 - 公布日： 2023-09-05 - 主分类号： G11C29/12 文献下载
摘要：本公开提供一种存储器预充电时长边界的测试方法、装置、设备及介质。所述测试方法包括：在所述存储器中至少一对第一字线和第二字线对应的存储单元中写入相同数据；根据第一电压，确定预设预充电时长；激活所述第一字线并预充电；在所述预设预充电时长之后，读取对应的所述第二字线对应的存储单元中的数据；当读取的所述第二字线对应的存储单元中的数据与写入数据不一致时，确定所述预设预充电时长为所述存储器预充电时长边界。本公开通过调节第一电压制造临界条件，以降低存储器预充电能力，进而调整预设预充电时长；根据跨感应放大器读取的数据，确定存储器预充电时长边界，提升对预充电能力的检测准确度和覆盖率，提升产品可靠性和良率。
存储器充电边界测试方法装置设备存储介质

[发明专利]存储器阵列的测试方法、装置、设备及存储介质-CN202210024408.7有效
发明人：刘东;楚西坤 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2022-01-10 - 公布日： 2023-09-05 - 主分类号： G11C29/12 文献下载
摘要：本公开提供一种存储器阵列的测试方法、装置、设备及存储介质，所述测试方法包括：将待测存储器阵列中存储单元的电容其中一个极板电压调整至低电压；按照第一预设方式向所述待测存储器阵列中存储单元存入大于预充电量的电荷；基于预设数据拓扑，将所述预设数据拓扑中数据按照第二预设方式向所述待测存储器阵列执行预设读写操作；向所述待测存储器阵列中存储单元存入大于预充电量的电荷，读取数据；根据读取的数据和第一预设方式写入数据，确定所述待测存储器阵列是否正常。本公开对存入大于预充电量的电荷后的存储器阵列执行预设读写操作，使得存储器阵列中存储单元的电容电压不断变化，提高电容极板漏电失效情况的暴露几率。
存储器阵列测试方法装置设备存储介质

[发明专利]存储器的检测方法、装置及模拟检测方法-CN202210048891.2在审
发明人：第五天昊;楚西坤;刘东 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2022-01-17 - 公布日： 2023-07-25 - 主分类号： G11C29/08 文献下载
摘要：本申请实施例公开了一种存储器的检测方法、装置及模拟检测方法，所述方法包括：通过灵敏放大器向待检测的存储单元写入第一数据；通过所述灵敏放大器向所述存储单元写入不同于所述第一数据的第二数据，在写入所述第二数据时，缩短所述灵敏放大器的放大时长；读取所述存储单元中存储的数据，并根据读取的数据确定所述存储单元是否异常。本申请实施例通过在写入第二数据时缩短灵敏放大器的放大时长，使得存在异常的存储单元更容易被检测到，进而提升了检测准确率。
存储器检测方法装置模拟

[发明专利]字线驱动电路、字线驱动方法和存储器-CN202210050699.7在审
发明人： 楚西坤 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2022-01-17 - 公布日： 2023-07-25 - 主分类号： G11C8/08 文献下载
摘要：本公开涉及半导体电路设计领域，特别涉及一种字线驱动电路、字线驱动方法和存储器，包括：驱动反相器，输入端用于接收字线控制信号，输出端用于输出字线驱动信号，字线驱动信号用于驱动至少一个子字线驱动器；子字线驱动器包括第一输入端、第二输入端、第三输入端和输出端；子字线驱动器，基于第一输入端输入的数据，将第二输入端输入的数据或第三输入端输入的数据同步至输出端；第一控制模块，输出端连接第二输入端，被配置为，基于第一控制信号上拉第一驱动信号；第二控制模块，输出端连接第二输入端，被配置为，基于第一控制信号下拉第一驱动信号，且对第一驱动信号的电压下拉速率满足预设值，以提高子字线驱动电路中PMOS的可靠性。
驱动电路方法存储器

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