[发明专利]半导体封装方法及半导体封装结构在审

专利信息
申请号: 202010230906.8 申请日: 2020-03-27
公开(公告)号: CN113725096A 公开(公告)日: 2021-11-30
发明(设计)人: 周辉星 申请(专利权)人: 矽磐微电子(重庆)有限公司
主分类号: H01L21/56 分类号: H01L21/56;H01L21/60;H01L23/488;H01L23/31;H01L21/50
代理公司: 北京博思佳知识产权代理有限公司 11415 代理人: 张相钦
地址: 401331 重*** 国省代码: 重庆;50
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摘要: 本申请提供一种半导体封装方法及半导体封装结构。所述半导体封装方法包括:将多个待封装的裸片贴装于载板上,所述裸片靠近所述载板的表面为正面,所述裸片的正面设有多个焊垫;形成第一包封层,所述第一包封层覆盖所述载板,包封住所述多个待封装的裸片;剥离所述载板,露出所述裸片的正面;将至少一个引线框固定于多个所述裸片的正面,并将所述引线框的引脚与对应的裸片的焊垫电连接;所述引线框包括至少一个引脚区,每一所述引脚区与至少两个所述裸片对应,每一所述引脚区设有多个引脚,每一所述裸片与对应的所述引脚区中的至少一个引脚对应;在所述引脚上形成导电结构,所述导电结构将同一所述引脚区对应的各个所述裸片对应的引脚电连接。
搜索关键词: 半导体 封装 方法 结构
【主权项】:
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