[发明专利]半导体器件在审
申请号: | 202010016458.1 | 申请日: | 2020-01-07 |
公开(公告)号: | CN111415991A | 公开(公告)日: | 2020-07-14 |
发明(设计)人: | 张星旭;金奇奂;郑秀珍;金奉秀;曹荣大 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L29/08 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 倪斌 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种半导体器件包括:衬底上沿第一方向延伸的有源区;衬底上与有源区相交并沿第二方向延伸的栅结构;以及在栅结构的至少一侧的有源区上的源/漏区,其中源/漏区包括:在第一方向上彼此间隔开的多个第一外延层,该多个第一外延层包括第一导电类型的第一杂质;以及填充该多个第一外延层之间的空间的第二外延层,第二外延层包括第一导电类型的第二杂质。 | ||
搜索关键词: | 半导体器件 | ||
【主权项】:
暂无信息
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