[发明专利]半导体芯片的封装方法以及封装结构有效

专利信息
申请号: 201610351529.7 申请日: 2016-05-25
公开(公告)号: CN106409771B 公开(公告)日: 2019-09-17
发明(设计)人: 王之奇;谢国梁;胡汉青;王文斌 申请(专利权)人: 苏州晶方半导体科技股份有限公司
主分类号: H01L21/98 分类号: H01L21/98;H01L27/146;H01L23/13
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 215026 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明提供一种半导体芯片的封装方法以及封装结构,所述封装方法包括:提供晶圆,所述晶圆具有多颗网格排布的半导体芯片,每一半导体芯片具有位于第一表面侧的功能区以及焊垫;提供保护基板,所述保护基板上设置多个网格排布的支撑单元;将所述晶圆的第一表面与所述保护基板对位压合,所述支撑单元位于所述晶圆与所述保护基板之间,所述功能区位于所述支撑单元包围形成的密封腔内;在将所述晶圆与所述保护基板对位压合之前,在所述支撑单元上形成开孔,使所述晶圆的第一表面上对应焊垫的位置不接触所述支撑单元。有效防止支撑单元在后续的信赖性测试中产生的应力作用于焊垫,避免了焊垫损坏或者分层的情况。
搜索关键词: 半导体 芯片 封装 方法 以及 结构
【主权项】:
1.一种半导体芯片的封装方法,包括:提供晶圆,具有彼此相对的第一表面以及第二表面,所述晶圆具有多颗网格排布的半导体芯片,每一半导体芯片具有位于所述第一表面侧的功能区以及焊垫;提供保护基板,所述保护基板的其中一个表面上设置多个网格排布的支撑单元,一个支撑单元对应一个半导体芯片;将所述晶圆的第一表面与所述保护基板对位压合,所述支撑单元位于所述晶圆与所述保护基板之间,所述功能区位于所述支撑单元包围形成的密封腔内;其特征在于,在将所述晶圆与所述保护基板对位压合之前,在所述支撑单元上形成开孔,使所述晶圆的第一表面上对应焊垫的位置不接触所述支撑单元。
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