[发明专利]一种超级结工艺中的深沟槽结构及其制作方法有效

专利信息
申请号: 201110433621.5 申请日: 2011-12-21
公开(公告)号: CN103178110A 公开(公告)日: 2013-06-26
发明(设计)人: 王飞;毛文铭 申请(专利权)人: 上海华虹NEC电子有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/06;H01L21/336
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人: 丁纪铁
地址: 201206 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种超级结工艺中深沟槽的制作方法,在硅衬底上进行外延生长;在生长的外延上进行P型离子注入后进行热扩散;在离子注入后的外延上至少再重复实施一次外延生长和P型离子注入形成底部沟槽区;进行外延生长,注入形成P阱,定义顶部沟槽区窗口;刻蚀顶部沟槽区,使顶部沟槽区与底部沟槽区彼此连接,顶部沟槽区填充,形成深沟槽。本发明还公开了一种超级结工艺中深沟槽的深沟槽结构。本发明的技术深沟槽制作方法,能提高器件的可靠性,降低外延填充难度,减少外延时间,加快流片速度。
搜索关键词: 一种 超级 工艺 中的 深沟 结构 及其 制作方法
【主权项】:
一种超级结工艺中的深沟槽结构,其特征是,包括:硅衬底上形成有底部沟槽区和顶部沟槽区组成的深沟槽,深沟槽顶部两侧形成有P阱。
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