[发明专利]具有增强击穿电压的肖特基二级管结构及制造方法有效

专利信息
申请号: 200610168593.8 申请日: 2006-12-21
公开(公告)号: CN101013727A 公开(公告)日: 2007-08-08
发明(设计)人: 安东尼恩·罗斯帕尔 申请(专利权)人: 半导体元件工业有限责任公司
主分类号: H01L29/872 分类号: H01L29/872;H01L21/329
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 秦晨
地址: 美国亚*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 在一个实施方式中,肖特基二级管结构包括肖特基势垒层,其通过肖特基接触窗口与半导体材料接触。邻近肖特基接触窗口形成导电环,且该导电环通过一个薄绝缘层与半导体材料分开。覆盖于所述结构而形成另一绝缘层,且在其中形成接触窗口。该接触窗口比肖特基接触窗口宽并暴露了部分导电环。形成肖特基势垒金属,其通过肖特基接触窗口与半导体材料接触,且进一步与导电环接触。
搜索关键词: 具有 增强 击穿 电压 肖特基 二级 结构 制造 方法
【主权项】:
1.一种肖特基二级管结构,其特征为:一半导体材料区域,其具有第一主表面;一导电极板,其覆盖于所述第一主表面而形成,且由第一绝缘层将其与所述第一主表面分开;和一金属层,其与所述半导体材料区域接触以形成肖特基势垒,所述金属进一步接触所述导电极板的水平和垂直表面。
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