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[发明专利]滤光片组装设备及其组装方法-CN202311115444.5在审
发明人：汪时涛;宁进伟;欧海辉 -专利权人： 中山市博测达电子科技有限公司
申请日： 2023-08-31 - 公布日： 2023-10-03 - 主分类号： G02B7/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种生产效率高、组装精度高品质佳的滤光片组装设备及其组装方法。本发明包括滤光片组装设备及其组装方法，所述滤光片组装设备包括工作台面，所述工作台面上至少设置有一个线性进料模组，所述线性进料模组上输送有载具，所述载具内设置有RX底板制品，所述线性进料模组的上方依次设置有点胶机构、滤光片贴装固化机构和补胶检测机构，所述点胶机构用于对RX底板制品组装区的两侧进行点胶，滤光片贴装固化机构用于对滤光片进行贴装于RX底板制品组装区内并进行固化处理，所述补胶检测机构用于检测滤光片在RX底板制品组装区的组装高度位置并对RX底板制品组装区的两端进行补胶。本发明应用于激光雷达组装设备的技术领域。
滤光组装设备及其方法

[发明专利]激光雷达畸变的测试标定方法-CN202211740713.2有效
发明人：汪时涛;陈木海;陈繁荣;高停 -专利权人： 中山市博测达电子科技有限公司
申请日： 2022-12-31 - 公布日： 2023-10-03 - 主分类号： G01S7/497 文献下载
摘要：本发明提供了一种测试标定精度高、测试标定快速可靠、且实现自动测试标定的激光雷达畸变的测试标定方法。本发明中，通过若干个棋盘格照片计算得到激光雷达相机镜头的外在参数和内在参数，使用激光雷达相机镜头的外部参数将世界点转换为相机坐标，使用激光雷达相机镜头的内在参数将相机坐标映射到图像平面，从而建立从棋盘格图片的三维世界坐标到二维图像坐标的关系，利用上述步骤建立的从棋盘格图片的三维世界坐标到二维图像坐标的关系，最终通过下面的等式将真实的扭曲坐标(u”,v”)与理想的扭曲坐标(u,v)联系起来，实现相机畸变的标定与计算。本发明可应用于激光技术领域。
激光雷达畸变测试标定方法

[发明专利]一种智能手表测试箱-CN202310811670.0在审
发明人：汪时涛;管剑;周鑫淼 -专利权人： 中山市博测达电子科技有限公司
申请日： 2023-07-04 - 公布日： 2023-09-29 - 主分类号： G04D7/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种设计巧妙、夹持固定效果好和有效提高测试效率的智能手表测试箱。本发明包括电控箱和铰接固定于电控箱上的测试暗箱，测试暗箱设置有抽屉组件，抽屉组件包括有升降载板和抽屉载板，抽屉载板上阵列有若干个载具，升降载板上阵列有若干个导向推块，导向推块的中部设置有与电控箱电性连接的测试探针组件，导向推块的对角设置有弹簧销推杆组件，载具的对角线设置有位于弹簧销推杆组件正上方的锁紧块，锁紧块铰接于载具内，测试暗箱的内部两端对称设置有提升装置，两个提升装置分别位于升降载板的两端，测试暗箱内设置有支撑架，支撑架上阵列设置有若干个相机组件。本发明应用于智能手表测试设备的技术领域。
一种智能手表测试

[发明专利]一种塑胶产品表面平整度切削系统-CN202310742798.6在审
发明人：汪时涛;周鑫淼 -专利权人： 中山市博测达电子科技有限公司
申请日： 2023-06-21 - 公布日： 2023-09-19 - 主分类号： B23Q3/06 文献下载
摘要：本发明公开了一种防切削跳动和保证切削平面的平整性的塑胶产品表面平整度切削系统。本发明包括工作台顶板和底板，工作台顶板的上方设置有夹持工作板，底板上设置有三轴调平模组，三轴调平模组穿过工作台顶板后分别与夹持工作板的三端角相连接，夹持工作板的两端对称设置有水平夹紧机构，水平夹紧机构用于水平夹紧产品，水平夹紧机构的前端设置有下压夹紧机构，工作台顶板的中部下端设置有下降置放机构，下降置放机构上设置有与产品相适配的载具，下压夹紧机构和下降置放机构配合用于纵向夹紧产品，载具内设置有定位高度反馈模组，工作台顶板还设置有位于载具正上方的切削机构。本发明应用于平整度切削的技术领域。
一种塑胶产品表面平整切削系统

[外观设计]半导体芯片分选测试机-CN202330290841.0有效
发明人：秦雪梅;周鑫淼;彭恩高;高停;沈亚男 -专利权人： 中山市博测达电子科技有限公司
申请日： 2023-05-17 - 公布日： 2023-09-15 - 主分类号： 10-05 文献下载
摘要：1.本外观设计产品的名称：半导体芯片分选测试机。2.本外观设计产品的用途：用于对半导体芯片进行测试。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图1。5.本外观设计产品的为使用时不容易看到或看不到的部位，省略仰视图。
半导体芯片分选测试

[发明专利]半导体芯片性能检测机构-CN202310563377.7在审
发明人：秦雪梅;周鑫淼;彭恩高;高停;沈亚男 -专利权人： 中山市博测达电子科技有限公司
申请日： 2023-05-17 - 公布日： 2023-09-05 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明提出一种半导体芯片性能检测机构，包括浮动针模机构，该浮动针模机构用于接收半导体芯片，且设有用于与半导体芯片导通的铜针。该浮动针模机构包括针模基座和针模浮动座。该针模浮动座在一针模上升位置与一针模下降位置之间上下升降地安装于针模基座上。该针模浮动座上设有用于容置半导体芯片的针模容置腔以及贯穿针模容置腔的底部的针孔。该铜针的下端安装于针模基座上，该铜针的上端插入针孔中。该技术方案公开的浮动针模机构利用针模浮动座的位置切换来实现铜针与待检测的半导体芯片的隔绝或导通，在需要通电检测时使铜针与半导体芯片导通，而在不需要通电检测时使铜针与半导体芯隔绝，可提高检测的灵活性。
半导体芯片性能检测机构

[发明专利]半导体芯片分选测试系统-CN202310563470.8在审
发明人：秦雪梅;周鑫淼;彭恩高;高停;沈亚男 -专利权人： 中山市博测达电子科技有限公司
申请日： 2023-05-17 - 公布日： 2023-09-05 - 主分类号： H01L21/67 文献下载
摘要：本发明提出一种半导体芯片分选测试系统，包括机台和可转动地安装于机台上的搬运转盘和测试转盘，该搬运转盘上设有多个绕搬运转盘的轴线周向间隔分布的吸料机构，各吸料机构被设置成用于可选择地吸取及释放半导体芯片。该测试转盘上设有多个绕测试转盘的轴线周向间隔分布的浮动针模机构，各浮动针模机构被设置成用于接收半导体芯片，且各浮动针模机构上设有用于与半导体芯片导通的铜针。该技术方案通过搬运转盘与测试转盘的配合能够将半导体芯片的上料工序、性能测前工序及性能测后工序与性能检测工序分开在不同的转盘中完成，不仅可布局更多的工序以满足检测需求，还可极大地提高检测效率。
半导体芯片分选测试系统

[发明专利]基于5G技术的自动驾驶安全测试系统和方法-CN202310535220.3在审
发明人：汪时涛;陈木海 -专利权人： 中山市博测达电子科技有限公司
申请日： 2023-05-11 - 公布日： 2023-08-15 - 主分类号： G05B23/02 文献下载
摘要：本发明涉及自动驾驶测试领域，尤其涉及基于5G技术的自动驾驶安全测试系统和方法，包括，步骤S1、启动待测车辆后进入测试场地并提速至预设速度并沿预设测试道路行驶；步骤S2、所述待测车辆在所述测试场地上分别完成自适应巡航性能测试、自动紧急制动测试、自动紧急制动测试以及前方碰撞预警系统性能测试；步骤S3、中控模块控制安全模块对车辆进行纠偏处理；步骤S4、中控模块根据测得的距离确定针对待测车辆规避障碍物的方式；步骤S5、测试完成后确定针对待测车辆自动驾驶安全测试等级的判定方式，从而克服在进行自动驾驶测试时缺少对汽车状态、故障和信号进行实时检测和调节，从提高测试的安全性能。
基于技术自动驾驶安全测试系统方法

[发明专利]数字载荷硬件自动测试系统及方法-CN202310676979.3在审
发明人：张翔峰;汪时涛;周鑫淼;夏新华;高停;管剑 -专利权人： 中山市博测达电子科技有限公司
申请日： 2023-06-08 - 公布日： 2023-08-11 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明提供了一种能覆盖多种不同硬件产品板级功能性能测试、测试效率高、形成可追溯的测试记录的数字载荷硬件自动测试系统和方法。本发明包括至少一台功能测试设备，所述功能测试设备包括测试治具（1）、测控装置（2）、信号转接装置（3）、测试后台（4）、电源，所述信号转接装置包括可更换的背板转接板（5）、可更换的信号转接板（6）；本发明方法包括以下步骤：a、根据测试要求，对背板转接板和信号转接板进行匹配更换，系统上电，b、将被测数字载荷硬件产品装置入所述测试治具（1）中，c、测试后台发送测试命令，所述测控装置对被测数字载荷硬件产品进行功能测试，d、测试完成后，重复步骤a～c。本发明可应用于测试技术领域。
数字载荷硬件自动测试系统方法

[发明专利]一种硬件测试系统快换连接机构-CN202310676980.6在审
发明人：张翔峰;汪时涛;周鑫淼;夏新华;高停;管剑 -专利权人： 中山市博测达电子科技有限公司
申请日： 2023-06-08 - 公布日： 2023-08-08 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明提供了一种结构简单、更换快捷、成本低且满足一机多用的应用场景的硬件测试系统快换连接机构。本发明包括底座支架（1）、滑动地配合于所述底座支架（1）上且用于支承待测产品的产品托盘（2）、插接于所述底座支架（1）上且用于连接所述产品托盘（2）上的待测产品与转接板（3）的测试背板（4）、用于安装所述转接板（3）且带动所述转接板（3）插入或拔出于所述测试背板（4）的转接板安装组（5）以及用于驱动所述产品托盘（2）向所述测试背板（4）移动或背离的插拔助力装置（6），所述转接板安装组（5）滑动配合于所述底座支架（1）上。本发明可应用于测试技术领域。
一种硬件测试系统连接机构

[发明专利]一种远程ADAS校准方法及系统-CN202310535243.4在审
发明人：汪时涛;陈木海 -专利权人： 中山市博测达电子科技有限公司
申请日： 2023-05-11 - 公布日： 2023-08-08 - 主分类号： G05B23/02 文献下载
摘要：本发明涉及汽车诊断技术领域，尤其涉及一种远程ADAS校准方法及系统，包括，步骤S1，中控模块依次确定单个车辆的各测距传感器的运行参数是否符合预设标准；步骤S2，根据获得的待测传感器评价值判定是否对该待测传感器进行校准；步骤S3，中控模块根据单个车辆在历史数据中该待调传感器的校准次数确定是否该车辆的检测周期进行调节或对该待调传感器进行更换；步骤S4，判定是否对检测周期进行二次调节；步骤S5，确定是否对该车辆的对应部件进行更换，有效提高了ADAS校准效率。
一种远程 adas 校准方法系统

[发明专利]一种智能高柔性立库老化单元生产线-CN202211728463.0有效
发明人：张翔峰;汪时涛;赖坤钰;段志斌;宁进伟 -专利权人： 中山市博测达电子科技有限公司
申请日： 2022-12-31 - 公布日： 2023-08-01 - 主分类号： B65G1/04 文献下载
摘要：本发明公开了一种设计合理、减低测试成本和提高系统的稳定性的智能高柔性立库老化单元生产线。本发明包括数据中央控制处理器和均与数据中央控制处理器电性连接的SMT自动上料车间、上料物流传输机构、自动老化车间、产品自动下架车间；自动老化车间至少包括一个智能立库老化线，智能立库老化线包括若干组老化工作区，每组老化工作区均包括对称设置的立库老化测试柜和位于两个立库老化测试柜之间的堆垛移栽机构，立库老化测试柜均包括若干层货架，其中一层货架设置有老化检测组件，剩余每层货架上均设置有若干个与工装载板相适配的老化试验组件。本发明应用于自动老化设备的技术领域。
一种智能柔性老化单元生产线

[实用新型]一种立库老化测试架-CN202223573165.7有效
发明人：张翔峰;汪时涛;赖坤钰;段志斌;宁进伟 -专利权人： 中山市博测达电子科技有限公司
申请日： 2022-12-31 - 公布日： 2023-08-01 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种设计合理、空间利用率高和老化测试效率高的立库老化测试架。本实用新型包括立柜，所述立柜内设置有若干层货架，其中一层货架设置有输送组件，所述输送组件用于输送装有产品的工装载板，剩余每层货架上均设置有若干个与工装载板相适配的老化试验组件，所述老化试验组件用于对所述工装载板内的产品通电进行老化试验，所述输送组件上设置有老化检测组件，所述老化检测组件用于检测工装载板内的产品。本实用新型应用于老化测试设备的技术领域。
一种老化测试

[实用新型]智能高柔性立库老化系统-CN202223573229.3有效
发明人：张翔峰;汪时涛;赖坤钰;段志斌;宁进伟 -专利权人： 中山市博测达电子科技有限公司
申请日： 2022-12-31 - 公布日： 2023-08-01 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种设计合理、空间利用率高和提高老化测试效果的智能高柔性立库老化系统。本实用新型包括若干组老化工作区，每组老化工作区均包括对称设置的立库老化测试柜和位于两个立库老化测试柜之间的堆垛移栽机构，立库老化测试柜均包括若干层货架，其中一层货架设置有输送组件，输送组件用于输送装有产品的工装载板，且同侧相邻的立库老化测试柜中的输送组件均相连接，剩余每层货架上均设置有若干个与工装载板相适配的老化试验组件，输送组件上设置有老化检测组件；堆垛移栽机构包括三轴移动组件和设置于三轴移动组件上的伸缩叉板组件，伸缩叉板组件上设置有导电模组。本实用新型应用于老化测试设备的技术领域。
智能柔性老化系统

[实用新型]一种用于老化测试的工装载板-CN202223573218.5有效
发明人：张翔峰;汪时涛;赖坤钰;段志斌;宁进伟 -专利权人： 中山市博测达电子科技有限公司
申请日： 2022-12-31 - 公布日： 2023-08-01 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种具有自动锁紧和自动对接供电接口的用于LED显示模块老化测试的工装载板。本实用新型包括工装板，所述工装板上阵列设置有若干个产品载槽，所述产品载槽的四周均设置有弹簧卡扣锁紧模组，所述弹簧卡扣锁紧模组用于将产品扣紧于所述产品载槽内，所述产品载槽的中部设置有若干个探针模组，所述探针模组用于对接产品的测试接口，所述工装板的底部对称设置有导电铜条，所有所述探针模组均与所述导电铜条电性连接。本实用新型应用于老化测试设备的技术领域。
一种用于老化测试工装

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