专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种Nand flash元件及其载入控制方法和装置-CN201711445827.3有效
  • 庄开锋 - 北京兆易创新科技股份有限公司
  • 2017-12-27 - 2021-02-05 - G06F9/445
  • 本发明实施例提供了一种Nand flash元件及其载入控制方法和装置,该元件包括一个封装体,封装体内封装有Nand flash内核和内部控制器,内部控制器包括基础加载模块。其中,基础加载模块用于接收上位机发送的数据信息和控制信息;内部控制器用于对Nand flash内核进行读操作、写操作、擦除操作、ECC校验管理、坏块管理、地址映射管理和损耗均衡管理。本实施例的Nand flash元件通过内部控制器就可以实现对整个元件的管理,不再依赖主控制器,因此可以解决Nand flash元件因需要依赖主控制器对其进行管理而导致主控制器负担较重的问题。
  • 一种nandflash元件及其载入控制方法装置
  • [发明专利]一种基于极化码和元数据信息的NAND FLASH差错控制方法-CN201810962407.0有效
  • 郭锐;陈康妮 - 杭州电子科技大学
  • 2018-08-22 - 2022-03-25 - G06F11/10
  • 本发明提供一种基于极化码和元数据信息的NAND FLASH差错控制方法,涉及信息存储技术领域。先将信息序列进行CRC编码,得到CRC码字,然后把NAND FLASH中存储的元数据信息当作信息序列,整合CRC码字和元数据信息得到待编码的信息比特,进行Polar编码,得到Polar码字,把Polar码字中元数据信息所在的极化信道划分为冻结比特信道,得到一个新的Polar码字,对该码字进行凿孔,构造出适用于NAND FLASH的高码率Polar码。本发明解决了现有技术中Polar码字不能直接适用于任意页容量的NAND FLASH的技术问题。本发明有益效果为:提高NAND FLASH纠错过程的纠错性能。
  • 一种基于极化数据信息nandflash差错控制方法
  • [发明专利]基于Nand Flash的数据写入方法-CN201210206632.4无效
  • 梁雄;胡胜发 - 安凯(广州)微电子技术有限公司
  • 2012-06-20 - 2014-01-15 - G06F12/02
  • 本发明实施例提供一种基于Nand Flash的数据写入方法及其装置,该数据写入方法包括:在内存中建立缓冲区;将所述内存中需要回写至Nand Flash的数据划分为多个缓冲阵列数据;依据第一映射关系,将所述多个缓冲阵列数据依次写入所述缓冲区;依据第二映射关系,将所述缓冲区中的单个缓冲阵列数据写入Nand Flash内的保存区;根据本发明实施例提供的数据写入方法及其装置,将缓冲区中的单个缓冲阵列数据回写至Nand Flash内的保存区,能够减少单次从内存回写至Nand Flash的数据量,从而能够缩短单次回写的时间,进而提高系统的实时性。
  • 基于nandflash数据写入方法
  • [发明专利]可中断的NAND闪存-CN201080038104.1有效
  • J·G·贝内特 - 微软公司
  • 2010-08-06 - 2012-05-30 - G11C16/02
  • 一种NAND闪存逻辑单元。NAND闪存逻辑单元包括对命令作出响应并准许编程和/或擦除命令可被读取命令中断的控制电路。该控制电路包括一组用于执行当前命令的内部寄存器,以及一组用于接收命令的外部寄存器。控制电路还包括可使NAND闪存逻辑单元具有冗余以正确地保持被中断的编程或擦除命令的状态的一组补充寄存器。当被中断的编程或擦除命令是恢复时,NAND闪存逻辑单元由此可以快速地恢复被暂停的编程或擦除操作。这在NAND闪存逻辑单元的上下文中提供对读取响应时间的显著改进。
  • 中断nand闪存
  • [发明专利]一种NANDFLASH芯片的块信息标识实现方法-CN201710547225.2在审
  • 赵鑫鑫;姜凯;李朋;尹超 - 济南浪潮高新科技投资发展有限公司
  • 2017-07-06 - 2017-10-13 - G06F3/06
  • 本发明公开了一种NAND FLASH芯片的块信息标识实现方法,基于安装Nand Flash芯片的计算机系统,首先在系统中建立Nand Flash芯片的块信息标识表,用于存储块信息及相应的索引地址信息,这里的块信息包括好块标识及坏块标识;对Nand Flash芯片进行写操作、读操作及擦除操作,当块的信息在块信息标识表中标记为好块时,将其进行相应操作,标记为坏块时则跳过;当出现失败时,将块信息标识表中的对应块标识为坏块标识;当有所有好块使用完后,向系统发送Nand Flash芯片写满信号。本发明的一种NAND FLASH芯片的块信息标识实现方法与现有技术相比,利用一比特数据完成逻辑地址映射,从而实现使用极低的空间开销完成灵活的逻辑地址映射、坏块管理,实用性强,适用范围广泛,易于推广。
  • 一种nandflash芯片信息标识实现方法
  • [发明专利]Nand芯片性能测试方法、板卡、系统和存储介质-CN202111086337.5在审
  • 李栋 - 苏州浪潮智能科技有限公司
  • 2021-09-16 - 2022-03-15 - G11C29/56
  • 本申请涉及一种Nand芯片性能测试方法、板卡、系统和存储介质,方法包括:控制待测Nand芯片的第一影响因子至第一待测第一影响因子值;调节待测Nand芯片的第二影响因子至第一待测第二影响因子值;利用测试读写失败比特数量的原始数据对待测Nand芯片中待测样本区块进行读写操作;循环执行第一影响因子值调节和第二影响因子值调节操作,获得全部待测第一影响因子值及全部待测第二影响因子值下读写失败比特信息;对全部待测第一影响因子值及全部待测第二影响因子值下读写失败比特信息进行分析,确定待测Nand芯片性能依赖信息。通过本方案可以提前测试出Nand芯片供电不稳定对Error Bit带来的影响,在硬件电路及保险方案设计中提供理论依据。
  • nand芯片性能测试方法板卡系统存储介质
  • [发明专利]一种减少闪存读耗时的方法及其系统-CN202310460422.6在审
  • 曾裕;龚晖;赖鼐 - 珠海妙存科技有限公司
  • 2023-04-25 - 2023-08-18 - G06F3/06
  • 本发明提供一种减少闪存读耗时的方法及其系统,该方法包括接收下发的NAND Flash读命令,从NAND page中读取数据;在读取数据时,针对每个传输的字节计算“0”和“1”的个数,进行累加,并且在传输完成后,在寄存器中输出总数数量;对读取到的数据进行ECC纠错;若ECC纠错失败,判断该NAND page中“0”或者“1”的比例,若该NAND page中“0”或者“1”的比例不超过设定值N,则使用read retry方式重新读取该NAND page,尝试获取正确的数据,直到获取正确的数据或者尝试读取所有的重试值仍无法获取正确数据后,结束读操作;若ECC纠错成功,则正确读取数据,结束读操作。本发明在保证数据安全性的前提下可以降低Read Retry操作对NAND Flash设备的读性能的影响,读取数据速度快,读操作耗时小。
  • 一种减少闪存耗时方法及其系统

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