专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种事件定位方法、装置及电子设备-CN202310962579.9在审
  • 龚晖;朱皓;陈晓;周佳奇;童俊艳;任烨 - 杭州海康威视数字技术股份有限公司
  • 2023-08-01 - 2023-10-27 - G06T7/73
  • 本申请实施例提供了一种事件定位方法、装置及电子设备,涉及到视觉定位技术领域,包括:对待检测场景区域的第一侧视可见光图像进行预设类型事件的检测,得到事件检测结果;在存在预设类型事件的情况下,获取待检测场景区域的待匹配侧视可见光图像及DEM侧视图;获取第一侧视可见光图像中的发生预设类型事件的第一图像位置,确定第一图像位置在待匹配侧视可见光图像中对应的第二图像位置;对待匹配侧视可见光图像及DEM侧视图中相同的场景点进行匹配,得到场景点匹配结果;对待匹配侧视可见光图像及DEM侧视图进行稠密映射,得到稠密映射关系;确定第二图像位置对应的三维位置信息。本申请实施例提高了大场景下定位信息的精度。
  • 一种事件定位方法装置电子设备
  • [发明专利]测试计划分配方法及其系统、电子设备、存储介质-CN202310781431.5在审
  • 陈华桃;宋魏杰;赖鼐;龚晖 - 珠海妙存科技有限公司
  • 2023-06-28 - 2023-10-27 - G06F11/22
  • 本发明公开了一种测试计划分配方法及其系统、电子设备、存储介质,eMMC测试系统包括上位机和测试板,测试板搭载多个eMMC装置;该方法包括:从预设的第一测试计划列表中确定测试任务和执行测试任务所需的第一资源信息;根据测试任务和第一资源信息对测试板中的eMMC装置进行测试;检测并记录测试任务的执行情况;在测试任务执行失败的情况下,获取并解析测试过程中所记录的日志信息,得到任务失败类型标志;在任务失败类型标志为第一标志或第二标志的情况下,更新第一测试计划列表,得到第二测试计划列表;根据第二测试计划列表对测试板中的eMMC装置进行重新测试;能够有效地提高测试效率。
  • 测试计划分配方法及其系统电子设备存储介质
  • [发明专利]闪存读干扰测试方法和系统、电子设备、存储介质-CN202310769605.6在审
  • 贺乐;赖鼐;龚晖 - 珠海妙存科技有限公司
  • 2023-06-27 - 2023-10-20 - G11C29/56
  • 本发明公开了一种闪存读干扰测试方法、系统、电子设备和存储介质,涉及存储产品技术领域。闪存读干扰测试方法包括以下步骤:对待测闪存的每个存储页,分别进行第一预设次数的连续读操作;获取每个存储页经过第一预设次数的连续读操作后的数据翻转比特数;根据每个存储页的数据翻转比特数,选取符合预设条件的第一预设数量的存储页,作为待测存储页;对每个待测存储页,分别进行连续读操作,直至待测闪存存在失效的存储页;根据失效的存储页所经历的读干扰的次数,评估待测闪存的抗读干扰能力。根据本发明实施例的方法,所需的测试时间较少,测试效率较高,且能够准确评估待测闪存的抗读干扰能力。
  • 闪存干扰测试方法系统电子设备存储介质
  • [发明专利]硬盘性能测试方法、装置及介质-CN202310622949.4有效
  • 吴之鉴;宋魏杰;赖鼐;龚晖 - 深圳市晶存科技有限公司
  • 2023-05-30 - 2023-10-17 - G06F11/22
  • 本申请公开了硬盘性能测试方法、装置及介质,方法包括:基于第一温度对样本硬盘进行RDT测试;在样本硬盘通过RDT测试的情况下,对样本硬盘进行分区得到第一分区、第二分区以及第三分区;对第一分区设定第一存储测试模式,对第二分区设定第二存储测试模式,对第三分区进行数据写入操作;启动第一存储测试模式、第二存储测试模式,并对第三分区进行只读测试,同时基于预设的时间间隔对第一存储测试、第二存储测试以及只读测试中的至少一个触发异常掉电测试;当异常掉电测试结果满足预设的测试条件,对样本硬盘进行格式化测试,直至满足预设的格式化次数。根据本申请的技术方案,能够提供更为全面的硬盘测试过程,提高对SSD测试的准确性。
  • 硬盘性能测试方法装置介质
  • [发明专利]板卡老化测试的方法、系统、设备及存储介质-CN202310640518.0有效
  • 谭海鸿;胡秋勇;赖鼐;龚晖 - 深圳市晶存科技有限公司
  • 2023-06-01 - 2023-10-17 - G06F11/22
  • 本申请实施例提供了一种板卡老化测试的方法、系统、设备及存储介质,属于存储器技术领域。该板卡老化测试应用于上位机,包括:为每一个处于连通的网口创建第一线程;创建与温箱交互的第二线程;当接收的配置请求指令为测试配置请求指令,在板卡测试配置标签页获取第一配置参数;当接收的配置请求指令为温箱配置请求指令,在温箱配置标签页获取第二配置参数并根据第二配置参数和第二线程对温箱进行远程配置;当接收的配置请求指令为测试操作请求,在测试数据显示页面响应用户的测试操作请求,以显示根据第一配置参数和第一线程对对应的待测板卡进行远程测试的测试结果。因此,本申请实施例能提升存储器产品的老化测试效率。
  • 板卡老化测试方法系统设备存储介质
  • [发明专利]闪存磨损程度判断方法和系统、电子设备-CN202310703810.2在审
  • 贺乐;赖鼐;龚晖 - 珠海妙存科技有限公司
  • 2023-06-13 - 2023-10-13 - G06F3/06
  • 本发明公开了一种闪存磨损程度判断方法,包括:对闪存颗粒执行擦除/写入试验;在试验过程中,获取闪存颗粒的block每次执行擦除操作所需的第一擦除时间;根据试验结果,获得闪存颗粒的block执行擦除/写入操作的循环次数与第一擦除时间的对应关系;对待测试闪存的block执行擦除和写入操作,并获得待测试闪存的block执行擦除操作所需的第二擦除时间;根据第二擦除时间及对应关系,获得待测试闪存的block执行擦除/写入操作的循环次数;将待测试闪存执行擦除/写入操作的循环次数与待测试闪存的给定寿命进行比较,并根据比较结果获得待测试闪存的磨损程度。根据本发明实施例的方法,能够评估闪存的磨损程度。
  • 闪存磨损程度判断方法系统电子设备
  • [发明专利]数据处理方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质-CN202310659113.1在审
  • 曾裕;赖鼐;龚晖 - 珠海妙存科技有限公司
  • 2023-06-05 - 2023-10-13 - G06F3/06
  • 本申请公开了一种数据处理方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质,涉及数据处理技术领域,数据处理方法根据第一数据操作请求,检测随机存取存储器的数据存储区的剩余容量能否存储目标映射表;在检测到数据存储区的剩余容量能够存储目标映射表的情况下,将目标映射表存储于数据存储区。本申请实施例的数据处理方法将目标映射表存储于随机存取存储器的数据存储区,以使随机存取存储器能够存储更多映射表,当数据操作对应的目标映射表存储于随机存取存储器时,在进行数据操作时无需访问闪存存储器,因此,随机存取存储器存储更多映射表能够降低访问闪存存储器的次数,从而提高数据操作的效率。
  • 数据处理方法装置电子设备计算机可读存储介质
  • [发明专利]JTAG接口信号切换方法、系统、设备、装置与介质-CN202310706362.1在审
  • 马睿元;温佳强;赖鼐;龚晖 - 珠海妙存科技有限公司
  • 2023-06-14 - 2023-10-13 - G06F13/10
  • 本申请公开了一种JTAG接口信号切换方法、系统、设备、装置和存储介质,其中方法包括以下步骤:构建JTAG接口切换系统;JTAG接口切换系统包括上位机、JTAG接口、第一IP核以及第二IP核;上位机通过JTAG接口与第一IP核以及第二IP核连接;JTAG接口包括四线信号接口或者两线信号接口;响应于用户的第一操作,确定上位机通过四线信号接口与第一IP核建立信号连接;响应于用户的第二操作,确定上位机通过四线信号接口与第二IP核建立信号连接;响应于用户的第三操作,确定上位机通过两线信号接口与第一IP核和/或第二IP核建立信号连接。本方法可以提高数据传输的效率。本申请可广泛应用于芯片驱动技术领域。
  • jtag接口信号切换方法系统设备装置介质
  • [发明专利]一种闪存性能的检测方法、装置、设备及介质-CN202310677810.X在审
  • 贺乐;赖鼐;龚晖 - 珠海妙存科技有限公司
  • 2023-06-08 - 2023-10-13 - G11C29/56
  • 本申请公开了一种闪存性能的检测方法、装置、设备及介质,获取针对待测闪存产品设置的场景信息;场景信息用于限定进行检测时所使用的测试场景;根据场景信息,在多个测试场景下对待测闪存产品进行测试,得到每个测试场景下对应的第一错误比特数;根据对应的测试场景,将第一错误比特数和预先设置的错误比特门限值进行比较;根据比较结果,确定待测闪存产品在各个测试场景下对应的性能检测结果。本申请的技术方案能够有效实现对闪存产品在各类应用场景下保持数据准确率的性能检测,有利于方便用户选用合适的闪存产品,助力闪存产品的研发和迭代,适用于各类应用场景,方法的通用性较好。本申请可广泛应用于闪存技术领域内。
  • 一种闪存性能检测方法装置设备介质
  • [发明专利]存储产品测试方法和系统、电子设备、存储介质-CN202310769579.7在审
  • 贺乐;赖鼐;龚晖 - 珠海妙存科技有限公司
  • 2023-06-27 - 2023-10-13 - G11C29/56
  • 本发明公开了一种存储产品测试方法、系统、电子设备和存储介质,涉及存储产品技术领域。存储产品测试方法包括以下步骤:测试主机发送测试命令给主控平台;主控平台将测试命令转发给对应的待测产品;根据测试命令,待测产品执行测试操作,并将测试数据存入第一缓存区;主控平台读取第一缓存区内的测试数据,并将测试数据存入第二缓存区;测试主机读取第二缓存区内的测试数据,获得待测产品的测试结果。根据本发明实施例的存储产品测试方法,能够通过一台测试主机,实现同时对多个待测产品进行测试,从而实现存储产品的大规模自动化测试,提升测试效率;且测试主机获得测试结果后,能够通过显示界面进行展示,使得人员能够直观查看结果。
  • 存储产品测试方法系统电子设备介质
  • [发明专利]一种基于UFS的开卡方法、系统、装置与介质-CN202310671125.6在审
  • 张孟新;温佳强;赖鼐;龚晖 - 珠海妙存科技有限公司
  • 2023-06-07 - 2023-10-13 - G06F8/65
  • 本申请公开了一种基于UFS的开卡方法、系统、装置和存储介质,其中方法包括以下步骤:接收主机发送的数据包并检测开卡使能开关的状态;当开卡使能开关的状态为使能状态,确定所述数据包的帧头与预设帧头相同,将量产标志寄存器的量产标志位配置为1并将CPU的PC指针配置成0,以使系统进入量产代码烧写模式。本方法可以通过数据包的帧头确定是否将量产标志位配置为1可以实现UFS DEVICE在无固件或者固件软件无法正常运行的情况下依旧可以顺利进入到量产烧写模式,可以避免当UFS芯片没有固件时,或者当软件无法正常运行时UFS无法进入量产烧写模式的难题,可以提高UFS的适配性。本申请可广泛应用于芯片设计技术领域。
  • 一种基于ufs方法系统装置介质
  • [发明专利]一种数据的加解密方法、系统、装置及存储介质-CN202310659787.1在审
  • 张孟新;温佳强;赖鼐;龚晖 - 珠海妙存科技有限公司
  • 2023-06-05 - 2023-10-13 - G06F21/60
  • 本发明公开了一种数据的加解密方法、系统、装置及存储介质,该方法包括:接收第一数据帧;所述第一数据帧用于表征从主机发至设备的数据帧;根据所述第一数据帧,获取第一标识;所述第一标识用于表征位于第一预设位的标识,所述第一标识还用于表征加解密使能开关的标识;若所述第一标识为打开状态,根据第一指令,对待传输的数据进行加解密操作,得到目标数据;所述第一指令用于表征读操作或写操作的指令;所述第一标识为打开状态用于表征所述第一标识所代表的加解密使能开关处于打开状态。本发明实施例通过设备进行待传输数据的加解密处理,有利于降低主机处理的复杂度,提升设备对主机的兼容性。可以广泛应用于计算机技术领域。
  • 一种数据解密方法系统装置存储介质
  • [发明专利]一种闪存虚拟块的分段擦除方法及系统-CN202211639781.X有效
  • 苏界伟;曾裕;赖鼐;龚晖 - 珠海妙存科技有限公司
  • 2022-12-20 - 2023-10-13 - G06F3/06
  • 本发明公开了一种闪存虚拟块的分段擦除方法及系统,包括:申请一虚拟块,对虚拟块进行第一次擦除,擦除虚拟块中前两个子虚拟块;将前两个子虚拟块中第一个子虚拟块进行编程填满后,对前两个子虚拟块接下来的子虚拟块进行擦除;按顺序每编程填满一个子虚拟块,再擦除接下来的一个子虚拟块,直到所有子虚拟块都被擦除为止;其中,虚拟块包含若干子虚拟块。本发明将集中的擦除操作分摊到多次小规模的擦除操作,从而有效降低了对虚拟块进行擦除时存储器存在的超时风险,同时能兼顾FTL识别物理坏块和重启后容易找到最后编程页的要求;并且本发明所提供的分段擦除方法,超时风险不会随着虚拟块所包含物理块的增多而增加,从而进一步地降低超时风险。
  • 一种闪存虚拟分段擦除方法系统

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