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- [发明专利]闪存磨损程度判断方法和系统、电子设备-CN202310703810.2在审
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贺乐;赖鼐;龚晖
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珠海妙存科技有限公司
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2023-06-13
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2023-10-13
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G06F3/06
- 本发明公开了一种闪存磨损程度判断方法,包括:对闪存颗粒执行擦除/写入试验;在试验过程中,获取闪存颗粒的block每次执行擦除操作所需的第一擦除时间;根据试验结果,获得闪存颗粒的block执行擦除/写入操作的循环次数与第一擦除时间的对应关系;对待测试闪存的block执行擦除和写入操作,并获得待测试闪存的block执行擦除操作所需的第二擦除时间;根据第二擦除时间及对应关系,获得待测试闪存的block执行擦除/写入操作的循环次数;将待测试闪存执行擦除/写入操作的循环次数与待测试闪存的给定寿命进行比较,并根据比较结果获得待测试闪存的磨损程度。根据本发明实施例的方法,能够评估闪存的磨损程度。
- 闪存磨损程度判断方法系统电子设备
- [发明专利]一种闪存虚拟块的分段擦除方法及系统-CN202211639781.X有效
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苏界伟;曾裕;赖鼐;龚晖
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珠海妙存科技有限公司
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2022-12-20
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2023-10-13
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G06F3/06
- 本发明公开了一种闪存虚拟块的分段擦除方法及系统,包括:申请一虚拟块,对虚拟块进行第一次擦除,擦除虚拟块中前两个子虚拟块;将前两个子虚拟块中第一个子虚拟块进行编程填满后,对前两个子虚拟块接下来的子虚拟块进行擦除;按顺序每编程填满一个子虚拟块,再擦除接下来的一个子虚拟块,直到所有子虚拟块都被擦除为止;其中,虚拟块包含若干子虚拟块。本发明将集中的擦除操作分摊到多次小规模的擦除操作,从而有效降低了对虚拟块进行擦除时存储器存在的超时风险,同时能兼顾FTL识别物理坏块和重启后容易找到最后编程页的要求;并且本发明所提供的分段擦除方法,超时风险不会随着虚拟块所包含物理块的增多而增加,从而进一步地降低超时风险。
- 一种闪存虚拟分段擦除方法系统
- [实用新型]高效率便携式eMMC验证测试装置-CN202320940950.7有效
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李伊君;宋魏杰;赖鼐;龚晖
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珠海妙存科技有限公司
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2023-04-23
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2023-10-13
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G01R31/28
- 本实用新型公开了一种高效率便携式eMMC验证测试装置,涉及芯片测试技术领域。高效率便携式eMMC验证测试装置包括壳体和安装板;壳体设有内腔,壳体的第一侧壁开设有窗口,壳体的第二侧壁开设有穿线孔,第一侧壁与第二侧壁相对设置;安装板设置于壳体的内腔,安装板上设置有多组定位件,每组定位件分别用于安装对应的测试电路板,且测试电路板上用于连接待测eMMC的接口位于窗口处。根据本实用新型的高效率便携式eMMC验证测试装置,能够同时对多块eMMC进行验证,从而提升验证效率;而且,该装置的整体结构简单,便于携带,技术人员可携带该装置到现场对eMMC进行验证,而无需将eMMC返回生产厂家处进行验证,从而节省时间。
- 高效率便携式emmc验证测试装置
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