专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]存储器单元、其制备方法及存储器的布局结构-CN202210135470.3有效
  • 于绍欣 - 广州粤芯半导体技术有限公司
  • 2022-02-15 - 2022-04-19 - H01L27/11507
  • 本发明提供一种存储器单元、其制备方法及存储器的布局结构,存储器单元包括:选择晶体管,包括基底,位于基底上的栅极结构和位于栅极结构两侧的基底中的源区和漏区;沟槽型电容,包括设置于漏区中的沟槽、形成于沟槽底部和侧壁下极板,形成于下极板表面的电容介质层、以及位于电容介质层上表面的上极板。本发明的存储器单元,可以在存储器单元缩小的情况下解决电容面积不足的问题,使电容容量扩大2‑4倍,极大提升单元存储性能。本发明可使寄生电容和互联电阻减小,提升存储器单元性能。
  • 存储器单元制备方法布局结构
  • [发明专利]装置及形成装置的方法-CN201780032702.X有效
  • A·A·恰范;R·甘地;B·R·库克;D·V·N·拉马斯瓦米 - 美光科技公司
  • 2017-01-10 - 2022-09-30 - H01L29/78
  • 一些实施例包含一种装置,所述装置包括邻近电极的材料。所述装置包含沿着所述材料最接近所述电极的表面的含半导体材料的区域。与所述材料的其余部分相比,所述含半导体材料的区域具有较高半导体材料浓度。举例来说,所述装置可为晶体管或电容器。所述装置可并入到存储器阵列中。一些实施例包含一种形成电容器的方法。在第一电极上方形成含氧化物的材料。在所述含氧化物的材料上方形成第二电极。邻近所述第二电极形成所述含氧化物的材料的富含半导体材料的部分。
  • 装置形成方法
  • [实用新型]薄膜电容-CN201320042511.0有效
  • 周静;谢文广;李钟婧 - 黑龙江大学
  • 2013-01-25 - 2013-06-19 - H01L23/64
  • 薄膜电容,属于薄膜技术领域。它解决了现有PZT电容的性能差及漏电流大的问题。它包括硅基底层,它还包括六个上电极、六个上电极缓冲柱、薄膜层、下电极缓冲层、下电极层和阻挡层;所述薄膜层为掺钽的铅锆钛薄膜层,该薄膜层的厚度为400nm至480nm;硅基底层上由下至上顺次粘接固定阻挡层、下电极层、下电极缓冲层和薄膜层,薄膜层的上表面上均匀分布六个上电极缓冲柱,每个上电极缓冲柱上均设置一个上电极。本实用新型作为一种薄膜电容。
  • 薄膜电容
  • [实用新型]用于存储器的薄膜电容-CN201320042396.7有效
  • 谢文广;周静 - 黑龙江大学
  • 2013-01-25 - 2013-06-19 - H01L27/115
  • 用于存储器的薄膜电容,属于薄膜技术领域。它解决了现有PZT电容的性能差及漏电流大的问题。它包括硅基底层,它还包括上电极层、上电极缓冲层、薄膜层、下电极缓冲层、下电极层、粘结层和阻挡层,所述薄膜层为掺钽的铅锆钛薄膜层,该薄膜层的厚度为320nm至380nm;上电极层、上电极缓冲层、薄膜层、下电极缓冲层、下电极层、粘结层和阻挡层按照从上至下的顺序顺次粘结固定在一起,阻挡层粘结固定在硅基底层上。本实用新型为一种薄膜电容。
  • 用于存储器薄膜电容

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