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[发明专利]一种软件缺陷检测方法及其检测系统-CN201810382114.5在审
发明人：张得佳 -专利权人：温州职业技术学院
申请日： 2018-04-14 - 公布日： 2018-11-16 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明公开了一种软件缺陷检测方法及其检测系统。涉及软件缺陷检测技术领域。包括S000：定时扫描软件源代码；S001：检测软件源代码是否存在缺陷；若存在，则执行S002；若否，则执行S000；S002：判断缺陷类型；若为严重缺陷类型，则执行S005；若为编码缺陷类型，则执行S004；S003：判断是否为误报缺陷；若是，则执行S004；若否，则执行S005；S004：不显示缺陷；S005：显示缺陷。本发明通过缺陷类型判断模块区分严重缺陷类型和编码缺陷类型并通过编码缺陷类型判断模块细化编码缺陷的类型，提高了缺陷类型的从发现到处理的效率以及缺陷管理的便利。
编码缺陷软件缺陷检测检测系统缺陷类型显示缺陷严重缺陷源代码缺陷类型判断软件源代码定时扫描检测软件判断模块缺陷管理误报细化便利发现

[发明专利]一种基于大数据的设备缺陷关联分析方法-CN202010700356.1在审
发明人：文屹;郑友卓;张锐峰;付宇;郝树青;邓东林;肖小兵;刘安茳;张洋;何洪流;李前敏;吴鹏;王卓月;柏毅辉;李忠;安波;陈宇;黄如云;蔡永祥 -专利权人：贵州电网有限责任公司电力科学研究院
申请日： 2020-07-20 - 公布日： 2020-10-20 - 主分类号： G06F16/2458 文献下载
摘要：本公开涉及一种基于大数据的设备缺陷关联分析方法，所述方法包括：根据预设的设备缺陷库，确定设备缺陷与多个设备特征之间的关系，所述设备缺陷库包括多个设备特征、设备缺陷的等级及多条缺陷事件，所述设备缺陷的等级包括危急缺陷、严重缺陷及一般缺陷；根据所述设备缺陷与多个设备特征之间的关系，分别确定各个设备特征的重要度；根据所述重要度，从多个设备特征中确定出多个目标特征；根据所述设备缺陷库，对所述多个目标特征进行关联分析，确定引发设备缺陷的多个特征组合本公开的实施例通过大数据关联分析，可得到电力系统的设备缺陷的产生原因和分布规律，为电力系统的设备缺陷分析及降低设备缺陷率提供辅助决策。
一种基于数据设备缺陷关联分析方法

[发明专利]基于语义分割和目标检测融合模型的复合缺陷检测方法-CN202111434402.9在审
发明人：吴宗泽;陈志豪;查云威;曾德宇 -专利权人：广东工业大学
申请日： 2021-11-29 - 公布日： 2022-02-25 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种基于语义分割和目标检测融合模型的复合缺陷检测方法，对原始图像进行复合缺陷图像预处理，得到多个缺陷图像，从而获取图像中缺陷边缘形状，区分图像的缺陷类型；根据图像的缺陷类型，对原始图像进行缺陷图像预处理并将处理结果输入构建并训练Unet语义分割网络，得到对应图像的缺陷掩模图；计算对应图像的缺陷掩模图与原始图像对应缺陷的掩模标签的相似度，根据相似度获取叠加图像，并将得到叠加图像输入Faster R‑CNN网络中进行缺陷目标检测，获取Faster R‑CNN网络检测结果图，完成复合缺陷的检测。本发明提出了复合缺陷检测方法，通过对原始图像各种缺陷进行分别检测，可以有效解决多种类型缺陷重叠的手机屏幕图像的缺陷检测问题。
基于语义分割目标检测融合模型复合缺陷方法

[发明专利]缺陷检测方法、光学检测设备、电子设备以及存储介质-CN202210716472.1在审
发明人：陈龙;曹沿松 -专利权人：奥蒂玛光学科技（深圳）有限公司
申请日： 2022-06-21 - 公布日： 2022-10-25 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本申请公开了一种缺陷检测方法、光学检测设备、电子设备以及计算机可读存储介质，该缺陷检测方法应用于光学检测设备，该方法包括：获取电路板图像，以及电路板图像中第一类缺陷的信息；提取第一类缺陷中各缺陷之间的缺陷关系信息；利用缺陷关系信息中符合预设缺陷关系条件的若干第一类缺陷，生成第二类缺陷，第二类缺陷数量小于若干第一类缺陷。上述方法，利用获取的电路板图像提取电路板中的缺陷信息，以及根据缺陷信息提取缺陷之间的关系信息，能够优化电路板图像中的部分缺陷，进而加快电路板的检测流程和减少人力资源的消耗。
缺陷检测方法光学设备电子设备以及存储介质

[发明专利]光学邻近修正方法-CN202210108869.2在审
发明人：严中稳;王晨 -专利权人：中芯国际集成电路制造（天津）有限公司;中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
申请日： 2022-01-28 - 公布日： 2023-08-08 - 主分类号： G03F7/20 文献下载
摘要：一种光学邻近修正方法，包括：获取初始版图，所述初始版图包括若干初始图形；对所述初始版图进行缺陷检测，确定缺陷位置；在所述缺陷位置形成第一缺陷标记，所述第一缺陷标记包括可偏移的边界；根据所述缺陷位置，确定缺陷初始图形、对应所述缺陷初始图形的指定初始图形以及缺陷偏移方向；沿所述缺陷偏移方向偏移所述第一缺陷标记中与所述缺陷偏移方向垂直的边界，形成第二缺陷标记，所述第二缺陷标记与所述指定初始图形之间的最小间距小于相邻初始图形之间的预设最小间距；根据所述第二缺陷标记，确定所述缺陷初始图形中的待修正线段，并对所述初始版图进行修正。
光学邻近修正方法

[发明专利]图像检测方法及装置-CN202310505715.1在审
发明人：谭深;李亚旻;李嘉伟;李静;江文斐 -专利权人：北京优酷科技有限公司
申请日： 2023-05-06 - 公布日： 2023-08-22 - 主分类号： G06V20/40 文献下载
摘要：本说明书一个或多个实施方式涉及计算机视觉领域，具体提供了一种图像检测方法及装置，图像检测方法包括对待检测图像进行图像检测得到待检测图像上的各个局部区域对应的缺陷图和缺陷分值，根据各个局部区域对应的缺陷图和缺陷分值确定局部区域在多个缺陷类别中的每个缺陷类别所对应的缺陷程度参数，根据各个局部区域在每个缺陷类别所对应的缺陷程度参数，确定待检测图像对应的缺陷检测结果。本说明书实施方式中，基于图像局部区域进行多类别的缺陷检测，有效对图像上存在的各类局部缺陷进行检测，降低漏检风险，提高缺陷检测准确性，并且可针对各类缺陷提供细粒度的缺陷检测结果，用于指导针对图像缺陷的修复
图像检测方法装置

[发明专利]软件缺陷预测方法和系统-CN201510247157.9有效
发明人：杨春晖;熊婧;高岩;林军;李冬 -专利权人：工业和信息化部电子第五研究所
申请日： 2015-05-14 - 公布日： 2017-10-20 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明涉及一种软件缺陷预测方法和系统，获取样本软件模块并进行聚类处理，得到聚类子集。计算聚类子集的高斯参数，并根据高斯参数生成伪缺陷样本，根据软件缺陷样本集和伪缺陷样本得到更新缺陷样本集。根据更新缺陷样本集进行训练得到缺陷预测模型，根据缺陷预测模型对待测软件模块进行缺陷预测并输出预测结果。对样本软件模块采用聚类的方式形成聚类子集，对聚类子集进行高斯分析计算得到高斯参数，然后根据高斯参数生成伪缺陷样本。通过增加更多的缺陷数据生成更新缺陷样本集进行训练，提高缺陷预测模型的准确度，使缺陷预测模型能够更好的对缺陷数据进行估计和拟合，提高了对软件缺陷的预测准确性。
软件缺陷预测方法系统

[发明专利]软件缺陷检测方法及装置-CN201410196027.2有效
发明人：杨学红 -专利权人：中国联合网络通信集团有限公司
申请日： 2014-05-09 - 公布日： 2017-02-15 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明公开了一种软件缺陷检测方法及装置，其中，方法包括扫描源代码，检测所述源代码中是否存在缺陷；若所述源代码中存在缺陷，则确定所述缺陷是否为已确认过的误报缺陷；若所述缺陷不是已确认过的误报缺陷，则将所述缺陷显示给用户，以供用户进行确认或修改；若所述缺陷是已确认过的误报缺陷，则拒绝将所述缺陷显示给用户。本发明通过确定所述缺陷是否为已确认过的误报缺陷，将未确认过的缺陷显示给用户，以供用户进行确认或修改，将已确认过的误报缺陷屏蔽掉，不再显示给用户，这样在后续的检测过程中用户就不用再对已确认过的误报缺陷进行重复确认
软件缺陷检测方法装置

[发明专利]一种冷轧带钢表面缺陷原因分析方法及系统-CN201410026959.2有效
发明人：孔建益;刘军伟;石甜;杨壮;王兴东 -专利权人：武汉科技大学
申请日： 2014-01-21 - 公布日： 2017-02-01 - 主分类号： G06K9/66 文献下载
摘要：本发明涉及一种冷轧带钢表面缺陷原因分析系统，包括实时缺陷图像输入单元、缺陷原因匹配单元、输入单元、缺陷原因输出单元和基于学习向量量化神经网络的缺陷原因特征知识库，实时缺陷图像输入单元、缺陷原因输出单元和缺陷原因特征知识库均与缺陷原因匹配单元电连接，缺陷原因特征知识库、缺陷原因输出单元和所述缺陷原因匹配单元均与输入单元电连接。本发明通过隐藏于专家头脑中的经验型缺陷原因知识建立缺陷原因特征库，当输入实时图像信息时，能实时显示缺陷原因匹配结果。系统运行速度快，且精度高、效率高、实时性强、实用性强，操作简单，大大提高了生产效率，降低缺陷率和生产成本。
一种冷轧带钢表面缺陷原因分析方法系统

[发明专利]智能型的缺陷校正系统与其实施方法-CN201711086885.1有效
发明人：吕一云 -专利权人：敖翔科技股份有限公司
申请日： 2017-11-07 - 公布日： 2021-07-09 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明提供一种智能型的半导体缺陷校正的系统与其实施方法，其方法包括：接收制造工厂送出的多个缺陷数据，接收一集成电路设计公司的IC设计布局图数据，并对多个缺陷数据进行缺陷坐标转换校正及缺陷影像校正后，用关键区域分析来分析校正后的缺陷数据及设计布局图形，用以提升关键区域分析的准确度和藉以精准判断各个缺陷影像造成断路或短路型失败的致命缺陷指数；再根据致命缺陷指数及缺陷讯号参数，区分致命缺陷为高风险缺陷、中风险缺陷及低风险缺陷等，达成提升智能型的缺陷校正系统与其实施方法准确度和精准判别致命缺陷之目的
智能型缺陷校正系统与其实施方法

[发明专利]缺陷检测方法、装置、设备及计算机存储介质-CN202010907198.7有效
发明人：艾立夫;赵东峰;董立超;刘宝山;刘艺;朱春霖;彭旭 -专利权人：歌尔股份有限公司
申请日： 2020-09-02 - 公布日： 2020-12-08 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明公开了一种缺陷检测方法、装置、设备及计算机存储介质，该方法包括：构建已标定缺陷尺寸的目标晶圆；采集目标晶圆对应的缺陷图像，并获取目标晶圆对应的缺陷图像的灰度值；确定目标晶圆标定的缺陷尺寸，以根据所述目标晶圆对应的缺陷图像的灰度值与所述目标晶圆标定的缺陷尺寸获得缺陷尺寸映射函数；基于所述缺陷尺寸映射函数，获取待测试晶圆对应的缺陷尺寸。由此，通过利用目标晶圆对应的缺陷图像的灰度值与目标晶圆标定的缺陷尺寸获得缺陷尺寸映射函数，进而利用缺陷尺寸映射函数及晶圆中缺陷图像的灰度值实现晶圆任何尺寸缺陷的检测。
缺陷检测方法装置设备计算机存储介质

[发明专利]一种缺陷检测方法、装置、设备和存储介质-CN201911130013.X有效
发明人：刘奎;肖鹏;孟嘉;倪金辉;陈健;张继敏;陈智超 -专利权人：中国商用飞机有限责任公司;上海飞机制造有限公司
申请日： 2019-11-18 - 公布日： 2022-02-18 - 主分类号： G01N29/11 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种缺陷检测方法、装置、设备和存储介质，缺陷检测方法包括：根据待检测对象的超声脉冲反射C扫描图像，确定待检测对象的缺陷区域；根据缺陷区域的位置，从待检测对象的超声脉冲反射A扫描图像提取缺陷A扫描图像部分；根据缺陷A扫描图像部分，确定待检测对象的缺陷性质。本发明实施例根据缺陷区域找到相对应的缺陷A扫描图像部分，根据缺陷A扫描图像部分对缺陷性质进行确定。通过结合超声脉冲反射C扫描图像和A扫描图像对缺陷性质进行确定为后续对缺陷面积进一步判定提供基础，提高了缺陷检测的效率；通过C扫描图像和A扫描图像结合自动对缺陷性质进行判断提高了缺陷检测的自动化程度。
一种缺陷检测方法装置设备存储介质

[发明专利]显示面板缺陷检测方法、装置、设备及存储介质-CN202010693394.9有效
发明人：余飞;洪志坤;张胜森;郑增强;欧昌东 -专利权人：武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司
申请日： 2020-07-17 - 公布日： 2023-05-02 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种显示面板缺陷检测方法、装置、设备及存储介质，所述方法通过偏振相机获取待检测显示面板的第一图像，并根据第一图像判断待检测显示面板是否存在缺陷；在待检测显示面板存在缺陷时，通过显微镜对缺陷对应的缺陷区域进行取像，获得第二图像；通过第二图像获取目标缺陷的缺陷位置和缺陷类别，并根据缺陷位置和缺陷类别生成缺陷检测结果；能够通过偏振相机对显示面板的缺陷区域进行粗定位，实现缺陷区域的快速搜索，不仅能提升微弱缺陷的检出能力，同时降低检测的时间消耗，使用显微镜加相机的方式能够提升缺陷检测的准确性，保证缺陷检出效果，有效提升了产能，提升客户良品率。
显示面板缺陷检测方法装置设备存储介质

[发明专利]成像装置、缺陷像素校正装置、装置中的处理方法和程序-CN200810096914.7无效
发明人：大槻博树 -专利权人：索尼株式会社
申请日： 2008-05-07 - 公布日： 2008-11-12 - 主分类号： H04N5/217 文献下载
摘要：本发明提供了成像装置、缺陷像素校正装置、装置中的处理方法和程序，成像装置包括：缺陷像素存储单元，存储缺陷像素的位置信息和像素缺陷信息；图像输入单元，输入图像；缺陷像素确定单元，基于位置信息确定每个像素是否为缺陷像素；像素共有缺陷确定单元，基于像素缺陷信息确定缺陷像素是否包括在缺陷像素组中；像素类型确定单元，确定每个像素的类型；内插像素选择单元，基于缺陷像素的类型和表示缺陷像素是否包括在缺陷像素组中的确定结果选择被确定为缺陷像素的像素的周边像素；内插值计算单元，基于所选的周边像素的值计算被确定为缺陷像素的像素的内插值；内插内插值替换单元，用计算得到的内插值替换被确定为缺陷像素的像素的值。
成像装置缺陷像素校正中的处理方法程序

[发明专利]光掩膜的缺陷检测系统及光掩膜的缺陷检测方法-CN201510149073.1在审
发明人：卢子轩;王跃刚;杨晓松 -专利权人：中芯国际集成电路制造（上海）有限公司
申请日： 2015-03-31 - 公布日： 2016-11-23 - 主分类号： G03F1/44 文献下载
摘要：本申请公开了一种光掩膜的缺陷检测系统及光掩膜的缺陷检测方法。其中，该缺陷检测系统包括：缺陷扫描单元，用于检测出光掩膜的表面上的缺陷的坐标值；缺陷分析单元，用于计算出任意两个或两个以上缺陷之间的坐标值的差值，并将沿同一坐标轴方向上的差值小于擦伤缺陷宽度容忍值的各缺陷作为擦伤缺陷本申请提供的光掩膜的缺陷检测系统和缺陷检测方法能够提高光掩膜的缺陷检测过程中擦伤缺陷的发现几率。
光掩膜缺陷检测系统方法