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[发明专利]一种基于串列式矩阵扫查的钢轨焊缝缺陷定位方法-CN202211560251.6有效
发明人：陈智发;纪志淑;谢晓宇;吴锦湖 -专利权人：汕头市超声检测科技有限公司
申请日： 2022-12-07 - 公布日： 2023-04-11 - 主分类号： G01N29/44 文献下载
摘要：本发明涉及超声检测技术领域，尤其涉及一种基于串列式矩阵扫查的钢轨焊缝缺陷定位方法。采用如下技术方案：先利用串列式矩阵扫查装置对待测钢轨进行检测并采集回波信号，对缺陷回波信号分别计算理论缺陷深度，对于理论深度小于钢轨高度的有效的缺陷回波信号，根据该组缺陷回波信号的实际声程对该缺陷回波信号的缺陷深度进行修正计算，并计算缺陷的水平距离，以此实现对缺陷的准确检测。有益效果在于：通过利用缺陷回波的实际声程对缺陷的深度进行修正计算，并利用该修正后的缺陷深度计算缺陷水平位置，从而可以对由于发射探头的扩散波产生的回波缺陷信号所计算的缺陷位置进行修正，提高缺陷的检测准确率，且对于靠近的缺陷也能准确分辨出来。
一种基于串列矩阵钢轨焊缝缺陷定位方法

[发明专利]电子元器件缺陷检测方法、装置及系统-CN202110195319.4在审
发明人：孙宸;成立业;黄云;陈媛;恩云飞;路国光;王力纬 -专利权人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））
申请日： 2021-02-20 - 公布日： 2021-06-11 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本公开关于一种电子元器件缺陷检测方法、装置及系统。一个方法实施例中，可以自动检测电子元器件的缺陷，输出缺陷检测结果，可以提高电子元器件缺陷检测的速度。并且，由于公开实施例中，缺陷检测时采用了缺陷检测模型识别出不同的缺陷类型，针对不同的缺陷类型选择更加匹配的缺陷尺寸计算方式，缺陷尺寸计算可以实现对缺陷区域的量化计算，可以减少误判，提高电子元器件缺陷的检测准确率
电子元器件缺陷检测方法装置系统

[发明专利]缺陷检测方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质-CN202310202673.4在审
发明人：肖寒琼;胡流彬;程乔;刘豪豪;马晚辉;刘衍忠;张修龙;范振亮 -专利权人：富泰华工业（深圳）有限公司
申请日： 2023-02-23 - 公布日： 2023-06-13 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：一种缺陷检测方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质，该方法包括：获取待进行缺陷检测的产品缺陷图片；识别所述产品缺陷图片所属的检测类别；确定与所述检测类别匹配的缺陷检测模型；其中，所述缺陷检测模型为预先训练好的基于深度学习的缺陷检测模型；将所述产品缺陷图片输入所述匹配的缺陷检测模型，得到产品的缺陷检测结果。本申请可以减少缺陷检测的人力成本，提高检测效率以及缺陷检测的准确性，降低误检率。
缺陷检测方法装置电子设备计算机可读存储介质

[发明专利]基于区块链技术的缺陷汽车信息分析平台-CN202111522571.8有效
发明人：张明丽 -专利权人：北京质云数据科技有限公司
申请日： 2021-12-13 - 公布日： 2023-08-04 - 主分类号： G06Q30/0201 文献下载
摘要：本发明提供了一种基于区块链技术的缺陷汽车信息分析平台，包括：数据采集模块：用于实时采集公链和私链中用户汽车的缺陷数据，并将所述缺陷数据写入区块；缺陷分析模块：用于根据所述区块内的缺陷数据，确定汽车的缺陷信息，并进行缺陷认证；预警模块：用于根据缺陷信息，建立汽车缺陷认证模型，进行缺陷预警。本发明采用区块链的技术存储缺陷数据信息，提升了数据存储的安全性，并且能够对缺陷数据进行分析并进行预警。
基于区块技术缺陷汽车信息分析平台

[发明专利]缺陷图像生成方法、模型训练方法、设备、介质及产品-CN202210499307.5有效
发明人：洪恺临;阳鑫;林俊;丁有爽;邵天兰 -专利权人：梅卡曼德（北京）机器人科技有限公司
申请日： 2022-05-09 - 公布日： 2023-08-04 - 主分类号： G06V10/774 文献下载
摘要：本公开提供一种缺陷图像生成方法、模型训练方法、设备、介质及产品，方法包括：获取训练图像；所述训练图像包括缺陷区域；对至少所述训练图像的缺陷区域进行遮挡，生成缺陷遮挡图像；根据所述缺陷遮挡图像和所述训练图像对所述缺陷生成模型进行缺陷生成训练，以使所述缺陷生成模型能够在遮挡区域生成缺陷。从而能够使得缺陷生成模型能够准确地实现缺陷图像的生成，使得训练完毕的缺陷生成模型生成的预测图像真实度更高，适用性更强。
缺陷图像生成方法模型训练设备介质产品

[发明专利]缺陷检测元件及其检测和制造方法-CN200510082130.5无效
发明人：黄兴利;陈彦欣 -专利权人：联华电子股份有限公司
申请日： 2005-06-29 - 公布日： 2007-01-03 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：一种缺陷检测元件的检测方法，包括：(a)于晶片上形成多个缺陷检测元件，其中各缺陷检测元件由下层的绝缘层与上层的导电层堆栈而成。(b)设定一缺陷检测参数，并且利用电子束(e－beam)扫描晶片，以得到多个缺陷信号。(c)确认缺陷信号的数目是否至少等于缺陷检测元件的数目。若缺陷信号的数目小于缺陷检测元件的数目，则重新调整缺陷检测参数，并重复步骤(b)～(c)，直到缺陷信号的数目至少等于缺陷检测元件的数目为止。
缺陷检测元件及其制造方法

[发明专利]一种泡沫轻质混凝土缺陷检测方法及装置-CN202210325525.7在审
发明人：唐琼祯;莫鹏;骆俊晖;张涛;罗资清;吴小流;黄海峰;畅振超;雷拥军;覃仁;吴武新;曾庆莎;黄秉章;杨庆 -专利权人：广西北投交通养护科技集团有限公司;柳州工学院;中国地质大学（武汉）
申请日： 2022-03-30 - 公布日： 2022-08-16 - 主分类号： G01N29/06 文献下载
摘要：本发明提供一种泡沫轻质混凝土缺陷检测方法及装置，属于泡沫轻质混凝土缺陷检测技术领域，装置包括缺陷识别装置、缺陷成像装置和控制器，缺陷识别装置用于识别泡沫轻质混凝土浇筑缺陷，然后由缺陷成像装置根据缺陷识别装置收集到的弹性波通过成像算法完成缺陷成像，缺陷识别装置和缺陷成像装置均与控制器连接。本发明通过多个线性排列的传感器发射并收集弹性波收集断面结构的缺陷的信息，然后通过缺陷成像算法进行成像，依据成像的结果确定缺陷的位置与受损程度，可以完全实现结构内部缺陷的可视化检测，并能对泡沫轻质混凝土进行定期的病害检测
一种泡沫混凝土缺陷检测方法装置

[发明专利]一种评估极片缺陷对电池析锂性能影响的方法-CN202211241931.1在审
发明人：喻聪;吴洁;徐中领 -专利权人：欣旺达电动汽车电池有限公司
申请日： 2022-10-11 - 公布日： 2022-12-20 - 主分类号： G01R31/36 文献下载
摘要：本申请公开了一种评估极片缺陷对电池析锂性能影响的方法，包括：获取极片，对极片引入局部缺陷，得到缺陷极片；将缺陷极片组装成缺陷电池，将缺陷电池化成并循环充放电至设定圈数；拆解缺陷电池并测量缺陷电池的析锂参数；根据析锂参数，判断局部缺陷对缺陷电池析锂量的影响大小。本申请通过引入局部缺陷，来评估缺陷对电池析锂性能的影响，将局部缺陷与析锂参数直接联系，为实际应用过程中电池的析锂提供缺陷来源的技术支撑，提高了对电池析锂评估的准确性，实现了极片缺陷对电池析锂影响大小的准确判断
一种评估缺陷电池性能影响方法

[发明专利]一种终端缺陷管理方法及系统-CN202310071248.6在审
发明人：陈益果;于海平;徐中原;黄汉远;韩韬;吴雪琼;周琰;匡雅琴 -专利权人：国电南瑞南京控制系统有限公司
申请日： 2023-02-07 - 公布日： 2023-06-23 - 主分类号： G06Q10/0631 文献下载
摘要：本发明公开了一种终端缺陷管理方法，包括：根据缺陷查找请求，从终端缺陷工单记录中获取满足筛选条件的缺陷设备；根据派单请求，在指定的终端缺陷工单上增加缺陷等级、目标推送人员、缺陷描述和处理意见，并将该指定终端缺陷工单的状态变为待消缺状态，完成指定终端缺陷工单的派单请求；根据归档请求，在状态为待消缺状态的终端缺陷工单上增加缺陷描述和归档意见，并将该终端缺陷工单的状态从待消缺状态变为已归档状态，完成归档请求。本发明通过对终端缺陷的管理，直观地展示缺陷工单的处理情况，提高终端缺陷管理业务的便捷、有效及稳定性。
一种终端缺陷管理方法系统

[发明专利]一种缺陷识别方法、装置、设备及存储介质-CN202110893431.5在审
发明人：邹扬 -专利权人：格创东智（深圳）科技有限公司
申请日： 2021-08-04 - 公布日： 2023-02-17 - 主分类号： G06F18/2321 文献下载
摘要：本申请提供一种缺陷识别方法、装置、设备及存储介质，涉及了显示技术领域，解决了无法及时确认异常原因，导致大批量的产品报废的问题，包括获取多个待识别缺陷产品的待分析缺陷数据，待分析缺陷数据包含待识别缺陷产品的产品制程机台信息；对多个待分析缺陷数据进行聚集性分析，得到多个缺陷分析结果，缺陷分析结果为具有缺陷聚集性的待分析缺陷数据；根据多个缺陷分析结果，确定异常高发产品制程机台信息和多个待识别缺陷产品的缺陷类型。本申请可以快速定位出待识别缺陷产品的缺陷类型以及异常高发的产品制程机台，能够及时确认异常原因，缩短异常处理时间，降低产品报废率。
一种缺陷识别方法装置设备存储介质

[发明专利]晶体缺陷的检测方法与检测装置-CN202210131296.5有效
发明人：郝宁;王力;俎世琦 -专利权人：西安奕斯伟材料科技有限公司;西安奕斯伟硅片技术有限公司
申请日： 2022-02-14 - 公布日： 2022-09-27 - 主分类号： G01B21/22 文献下载
摘要：本发明公开了一种晶体缺陷的检测方法与检测装置，检测方法包括：获取晶体表面的缺陷的参数信息，所述参数信息包括缺陷与晶体的切口之间的夹角、缺陷的形状、缺陷的位置、晶体的缺陷区域的元素种类中的至少一种；其中，缺陷与晶体的切口之间的夹角为缺陷的延伸方向和切口与晶体的圆心连线之间的夹角；根据所述参数信息判断所述缺陷是否为滑移线。根据缺陷与晶体的切口之间的夹角、缺陷的形状、缺陷的位置、晶体的缺陷区域的元素种类可以准确地判断所述缺陷是否为滑移线，提高滑移线的识别准确率，有利于区别滑移线以及其他缺陷，提高晶体的检测准确性。
晶体缺陷检测方法装置

[发明专利]缺陷检测网络的构建及缺陷检测方法、装置和设备-CN202310532588.4有效
发明人：高红超;卢盛林;张志升;南浩宇 -专利权人：广东奥普特科技股份有限公司
申请日： 2023-05-12 - 公布日： 2023-08-22 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本申请实施例提供一种缺陷检测网络的构建及缺陷检测方法、装置和设备。在本申请实施例中，能够获取分割任务数据集，所述分割任务数据集包括多个缺陷图像，以及用于标注所述多个缺陷图像的缺陷类别和缺陷位置的标注信息；基于所述分割任务数据集，训练得到缺陷特征编码网络，所述缺陷特征编码网络包括多层卷积网络模块、自适应池和全连接层；基于所述缺陷特征编码网络和图像分割网络，构建缺陷检测网络，所述图像分割网络用于：以所述缺陷特征编码网络对待检测缺陷类别的缺陷图像块的指定维度的特征向量表示为提示信息，从输入图像中检索得到所述输入图像的缺陷位置和缺陷类别
缺陷检测网络构建方法装置设备

[发明专利]一种缺陷数据库建立方法-CN200410031730.4无效
发明人：林龙辉;郭峰铭;郑夙芬 -专利权人：力晶半导体股份有限公司
申请日： 2004-03-24 - 公布日： 2005-09-28 - 主分类号： G06F17/00 文献下载
摘要：一种缺陷数据库的建立方法，首先提供一晶片，晶片经历一第一半导体制造过程，并于第一半导体制造过程中形成多个缺陷，接着进行一缺陷检测，以检测出多个缺陷，再提供一预设的缺陷数据库，缺陷数据库内包含有一对应于一第二半导体制造过程的缺陷分类参数，并根据此预设的缺陷数据库，对所检测到的多个缺陷进行自动缺陷分类，以将缺陷区分为多种不同的缺陷类型，最后再进行一验证步骤，通过一人工缺陷分类的结果来验证自动缺陷分类对各缺陷类型的分类准确度。
一种缺陷数据库建立方法

[实用新型]一种电力缺陷处理系统-CN201621420325.6有效
发明人：牛雪飞;李振动;王翀;柏峰;于文博;赵伟;吴炜;孙松强;袁亮;刘启蒙;王艳召;阚世洋;张鑫磊 -专利权人：国家电网公司;国网冀北电力有限公司检修分公司
申请日： 2016-12-21 - 公布日： 2017-06-20 - 主分类号： H04L29/08 文献下载
摘要：本实用新型提供的电力缺陷处理系统，包括处理器、电力缺陷信息接收器以及发送器；其中，所述处理器的输入端与所述电力缺陷信息接收器的输出端相连，所述处理器的输出端与所述发送器的输入端相连，接收电力缺陷信息，输出电力缺陷处理信息，所述电力缺陷处理信息为依据接收的电力缺陷信息而生成的信息。基于本实用新型公开的电力缺陷处理系统，当发生电力缺陷的情况下，能够依据电力缺陷信息生成电力缺陷处理信息，从而使电力缺陷检修人员直接依据生成的电力缺陷处理信息快速对电力缺陷进行处理，提高了电力缺陷处理效率
一种电力缺陷处理系统

[发明专利]缺陷合并的方法、装置、计算机设备及存储介质-CN201910876015.7在审
发明人：夏鑫淼;王双桥;张孟 -专利权人：深圳新视智科技术有限公司
申请日： 2019-09-17 - 公布日： 2020-01-24 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种缺陷合并方法，该方法包括：获取待检测目标的目标图像，识别目标图像中的缺陷区域，识别出的缺陷区域的数量为至少一个；遍历所述至少一个缺陷区域，判断遍历到的缺陷区域与其他缺陷区域之间的距离是否小于预设的第一距离阈值；若遍历到的缺陷区域与其他缺陷区域之间的距离小于预设的第一距离阈值，将遍历到的缺陷区域与距离小于预设的第一距离阈值的其他缺陷区域进行合并，将合并之后的缺陷区域作为目标缺陷区域输出。本发明的缺陷合并方法可以对检测到的缺陷进行合并，避免了将小块区域内的多个缺陷分别作为缺陷进行处理，提高了缺陷检测的整体性。此外还提出了一种缺陷合并的装置、计算机设备以及存储介质。
缺陷区域合并遍历预设目标图像计算机设备存储介质目标缺陷缺陷检测小块区域检测输出