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[发明专利]一种可连续拍摄高清图片的CCD相机结构-CN201811481117.0有效
发明人：方欣 -专利权人： 武汉精立电子技术有限公司
申请日： 2018-12-05 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： H04N23/50 文献下载
摘要：本发明公开了一种可连续拍摄高清图片的CCD相机结构，其包括相机机身，相机机身内依次设置有滤光镜片、感光电路板和散热片，感光电路板朝向滤光镜片的一侧端面上设置有CCD，感光电路板朝向散热片一侧端面上加工有凹槽，凹槽的位置与CCD的位置相对应，凹槽内设置有导热层，导热层与散热片之间设置有TEC制冷片，TEC制冷片一端与导热层接触、另一端与散热片接触，TEC制冷片与感光电路板电连接，滤光镜片朝向感光电路板的一侧端面设置有加热板，加热板与感光电路板电连接。本发明不仅保证了CCD高效工作所需的低温环境工作，而且避免了滤光镜片低温时容易冷凝导致的拍照不清晰甚至烧毁电路，有效地保证了图片的拍摄质量。
一种连续拍摄图片 ccd 相机结构

[发明专利]一种多景深同步检测装置和方法-CN202310902321.X有效
发明人：时强;欧昌东;邓俊涛 -专利权人： 武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司
申请日： 2023-07-21 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G03B15/12 文献下载
摘要：本发明公开了一种多景深同步检测装置，该装置包括：相机，N个半透半反镜和N个反射单元；其中N≥1；相机与所有的半透半反镜构成垂直于相机靶面的第一光路，第一光路上的第一成像光通过半透半反镜后进入相机；反射单元与半透半反镜一一对应，与相机构成N个第二光路，第二光路上的第二成像光依次通过反射单元和半透半反镜后进入相机；第一光路的光程与N个第二光路的光程相等。本发明还公开了一种多景深同步检测方法。本发明通过光路的设计，使得不同景深范围内的平面可以同时成像于同一个相机，提高了检测的效率和稳定性。
一种景深同步检测装置方法

[发明专利]一种基于旋转载台的缺陷检测方法及装置-CN202010595305.7有效
发明人：邓怀波;梁晓捷;高书伟;康强强 -专利权人： 武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司
申请日： 2020-06-28 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明提供一种基于旋转载台的缺陷检测方法及装置，方法包括：旋转载台带动检测对象作圆周运动；线扫相机位于旋转载台上方且成像方向垂直于圆周运动方向；线扫相机获得检测对象的线扫图像；基于线扫图像进行缺陷检测，获得缺陷信息。本发明使用线扫相机取样搭配频闪光源，在扫描过程中会依次在频闪明场与频闪暗场光照明下的图像，并对旋转载台上采集的线扫图像进行畸变的校正，将校正后的图像进行缺陷检测，输出缺陷特征信息。从而解决了现有需要重复扫描或者增加光学系统的不足问题，同时获得一种更加智能化、精度更高的缺陷检测方法及装置。
一种基于旋转缺陷检测方法装置

[实用新型]DDR存储器的布线板、印刷电路板及电子装置-CN202320951376.5有效
发明人：李兴 -专利权人： 武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司
申请日： 2023-04-24 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： H05K1/18 文献下载
摘要：本实用新型公开了DDR存储器的布线板、印刷电路板及电子装置，涉及印刷电路板领域。DDR存储器的布线板包括：线路板；DDR存储器，两两正反叠着摆放于所述线路板上，并从所述线路板表层往内部走线，每两片对应的所述DDR存储器的走线共用一个过孔，形成T型拓扑结构；FPGA，设置于所述线路板上，FPGA扇出的走线在所述过孔处的与所述T型拓扑结构和VTT电源串联，形成菊花链结构。本实用新型所述的DDR存储器的布线板可搭载多个DDR存储器，具有面积小、信号速率高的优点。
ddr 存储器布线印刷电路板电子装置

[实用新型]一种AOI自动检测设备-CN202320945117.1有效
发明人：王永乾;李飞翔;朱志飞;谈星宇 -专利权人：武汉精测电子集团股份有限公司;苏州精濑光电有限公司;武汉精立电子技术有限公司
申请日： 2023-04-24 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G02F1/13 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种AOI自动检测设备，属于显示面板检测领域，包括外罩和设置在外罩内的上下料工位和至少一个检测工位，并通过第一暗室机构将检测工位进行密封，使其与外界环境分隔开，同时，通过将第一暗室机构中的第一挡板设置为有一定间隔的双层结构，并将第一暗室门及对应的升降机构设置在该双层结构内，以保证暗室机构的密封遮光效果。本实用新型中的AOI自动检测设备，其结构设计精巧，操作简单，能够在同一设备中将检测区域分成多个独立的区域，实现对多个功能的同时检测，并保证了各区域的密封性，为各区域提供零可见光的环境，提高检测设备的检测精度，具有较好的应用前景。
一种 aoi 自动检测设备

[发明专利]一种载台机构、检测设备及其检测方法-CN202310746642.5在审
发明人：王永乾;谈星宇;王彬 -专利权人： 武汉精立电子技术有限公司;苏州精濑光电有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司
申请日： 2023-06-21 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： B25H1/16 文献下载
摘要：本发明公开了一种载台机构、检测设备及其检测方法，属于面板检测技术领域，其通过在转动组件内设置可分别沿不同轴向转动的第一转动件和第二转动件，且第一转动件可随第二转动件转动；并将用于承载待测产品的载台固定设置在第一转动件上，进而实现检测时产品可沿多方位进行转动，以提供多角度检测视角；同时，通过对应载台设置的固定组件，将待测产品固定在载台上，以防止待测产品在随转动组件转动过程中发生偏移或掉落。本发明的检测设备，其结构设计巧妙，操作方便，能够在对显示屏进行检测时，利用载台机构对显示屏进行各方位的转动，以在多个角度下对显示屏的MURA缺陷进行检测，提高检测结果的准确性和全面性，具有较好的应用前景和推广价值。
一种机构检测设备及其方法

[发明专利]微显示屏与立方体三色合光棱镜贴合定位用工装和方法-CN202210368269.X有效
发明人：许锐;邓忠光;左律;张仁国;欧昌东;郑增强 -专利权人： 武汉精立电子技术有限公司;武汉加特林光学仪器有限公司
申请日： 2022-04-01 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： G09F9/33 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于辅助微显示屏与立方体三色合光棱镜贴合定位的工装和方法，其包括微显示屏位移补偿机构，用于获取微显示屏，并将微显示屏的贴合端移动到与立方体三色合光棱镜的贴合面对应的位置；微显示屏仿形治具，用于确定微显示屏的贴合端与微显示屏位移补偿机构的移动端两者之间的位置关系；所述微显示屏仿形治具包括用于定位微显示屏的贴合端的定位槽和用于与微显示屏位移补偿机构的移动端滑动配合的导向孔，所述定位槽的中心轴线与所述导向孔的中心轴线平行或共线，所述定位槽与所述导向孔连通。本发明不仅结构简单，而且能够有效地保证微显示屏与立方体三色合光棱镜两者之间的对位精度，提高立方体三色合光棱镜与三个单色微显示屏之间的贴合精度。
显示屏立方体三色棱镜贴合定位用工方法

[发明专利]一种AOI检测设备及检测方法-CN202310791263.8在审
发明人：王永乾;战元国;朱志飞;谈星宇 -专利权人： 武汉精立电子技术有限公司;苏州精濑光电有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司
申请日： 2023-06-30 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： G02F1/13 文献下载
摘要：本发明公开了一种AOI检测设备及检测方法，属于液晶面板检测领域，其将扩散板结构布置与载台结构上，使两者可同步进行升降作业，进而使得检测相机在保持不动的情况下即可实现对透过扩散板拍摄和直接对产品进行拍摄两种检测需求，改变了传统相机、载台组件、扩散板组件三者均独立设计并沿Z轴滑动的检测方式，简化了检测过程中的调整流程，大幅提高了检测效率。本发明的AOI检测设备及检测方法，其整体结构简单，操作方便，智能化程度高，不仅可实现待测产品的自动进出料和自动点亮，同时通过对进出料方式的优化，使其能够更好匹配生产线进行待测产品的其他检测，具有良好的实用价值与应用前景。
一种 aoi 检测设备方法

[发明专利]一种AOI检测系统及检测方法-CN202310793540.9在审
发明人：王永乾;王彬;战元国;朱志飞 -专利权人： 武汉精立电子技术有限公司;苏州精濑光电有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司
申请日： 2023-06-30 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： G01N21/01 文献下载
摘要：本发明公开了一种AOI检测系统及检测方法，属于面板检测领域，其将第一检测设备的上下料工位和转运机构的两个转运单元在第一高度和第二高度上对准，使得待测面板的进出料形式，能够充分结合其在第一检测设备中的检测过程，以减短待测面板在设备中由于调整所消耗的时间，以提高整体的检测效率。本发明的AOI检测系统及检测方法，其整体设置形式合理，操作简单，其将检测设备的工作流程与其上下料工位进行匹配，并通过对载板和载台在结构上的优化，减少待测面板在设备中的检测耗时,大幅提高了检测效率，具有良好的使用价值与应用前景。
一种 aoi 检测系统方法

[发明专利]像素定位方法、像素亮度提取方法及系统-CN202311187897.9在审
发明人：余虹亮;梅林海;欧昌东;李渊;黄雄俊;袁捷宇 -专利权人： 武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司
申请日： 2023-09-15 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： G09G3/20 文献下载
摘要：本发明提供一种像素定位方法、像素亮度提取方法及系统，属于图像处理领域，应用于显示面板，显示面板包括多个像素，每个像素包括至少一种颜色的子像素，方法包括：获取预设颜色的子像素被显示面板间隔点亮时的子像素亮度图；间隔点亮为相邻两个点亮的相同颜色的子像素之间存在未被点亮的相同颜色的子像素；基于子像素亮度图对点亮的子像素位置进行定位；根据显示面板的像素分布情况和已定位的子像素位置对未被点亮子像素位置进行预测，得到所有子像素的位置。本发明对子像素定位和提取子像素亮度时对子像素间隔点亮，而非全部点亮，能够减小像素间串扰，提升子像素定位精度和亮度提取精度。
像素定位方法亮度提取系统

[发明专利]一种用于面板检测的治具及测试设备-CN202310791328.9在审
发明人：王永乾;朱志飞;战元国;谈星宇;还传一 -专利权人： 武汉精立电子技术有限公司;苏州精濑光电有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司
申请日： 2023-06-30 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于面板检测的治具及测试设备，属于面板检测领域，其利用基座和载板的分体式设计，并将压接和点亮的两个过程进行分化；同时通过滑动匹配的方式实现两者之间的快速装配，使得产品在装配到载板上后，能够与基座快速对接，降低了产品与治具的对接难度，提高了产品与治具的对接效率。本发明的用于面板检测的治具及测试设备，其整体结构结构，操作方便，实现了待测产品与治具的快速且准确的匹配，大幅降低人工劳动力，并且在设备布置于产线中时还可实现载板和产品同时在产线中的快速运输，具有良好的实用价值与应用前景。
一种用于面板检测测试设备

[发明专利]MIPI C-PHY信号接收装置、方法及摄像头模组测试系统-CN202310951408.6有效
发明人：李池鑫;阳芬;董文忠;许恩;郭汗 -专利权人： 武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司
申请日： 2023-07-27 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： H04N23/60 文献下载
摘要：本发明公开了一种MIPI C‑PHY信号接收装置、方法及摄像头模组测试系统，装置通过LP解码模块接收C‑PHY信号中的LP信号，解析获得LP波形序列，并将所述LP波形序列发送至控制状态机；控制状态机解析LP信号，获得LP解析数据；数据恢复模块对HS信号的采样结果进行边缘检测，获得边缘检测结果；符号解码模块将信号线电平状态序列解码为符号值；串并转换模块从符号值中找到同步字，将串行数据转换为并行数据；字符解映射模块将并行数据解映射为实际数据，能够实现C‑PHY信号的接收和传输数据的恢复功能，不需要专用的C‑PHY物理解码器件，降低了数据传输成本，提升了数据传输速率和传输效率。
mipi phy 信号接收装置方法摄像头模组测试系统

[发明专利]一种高速链路PCB板及其阻抗优化方法-CN202310936496.2有效
发明人：焦冬冬;郭汗 -专利权人： 武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司
申请日： 2023-07-28 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： G06F30/398 文献下载
摘要：本发明公开一种高速链路PCB板及其阻抗优化方法，属于PCB板设计领域。包括：获取高速链路PCB板传输线的差分阻抗、信号层下表面与信号参考平面的距离和各层结构参数，将PCB板传输线的差分阻抗作为串联器件焊盘的目标阻抗，PCB板为不低于6层的叠层板；综合信号层下表面与信号参考平面的距离和各层结构参数，确定信号层下表面到焊盘参考平面的距离，将其作为最优挖空深度；在最优挖空深度前提下，构建不同挖空区域的PCB板仿真模型；提取各PCB板仿真模型焊盘处的阻抗，将满足阻抗差值不超过预设误差的最小挖空区域，作为最优挖空区域。本发明先优化挖空深度，精准定位焊盘参考平面，再优化挖空区域，双重优化机制，最大程度消除高速率链路的PCB板的阻抗突变。
一种高速 pcb 及其阻抗优化方法

[发明专利]一种色度测量方法及装置-CN202311026156.2在审
发明人：闻铭 -专利权人： 武汉精立电子技术有限公司;武汉加特林光学仪器有限公司
申请日： 2023-08-14 - 公布日： 2023-10-13 - 主分类号： G01J3/50 文献下载
摘要：本发明提供一种色度测量方法及装置，属于工业检测技术领域，所述方法包括：基于光谱估计模型建立评价函数，以表征显示设备三原色光源的多通道的实测响应值与预测响应值的总差异度；其中，所述光谱估计模型是以光谱参数向量为变量的预先建立的用于光谱曲线估计的数学模型；以最小化评价函数为目标，采用优化算法求解出所述光谱估计数学模型的目标光谱参数向量，以获取出所述显示设备的光谱估计曲线；根据所述光谱估计曲线结合色匹配函数，求取显示设备的三刺激值和色度。本发明提供的色度测量方法及装置，测量精度能满足显示屏色度测量精度要求，并且成本低于同等精度下各类现有方案。
一种色度测量方法装置

[发明专利]一种工业缺陷检测方法和装置-CN202310825111.5在审
发明人：肖玮 -专利权人： 武汉精立电子技术有限公司;武汉精创电子技术有限公司
申请日： 2023-07-06 - 公布日： 2023-10-13 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种工业缺陷检测方法，该方法包括：选择可输入不同分辨率图像的CNN分类网络；利用训练集训练CNN分类网络；输入经预处理的待测图像，利用CNN分类网络识别待测图像中的缺陷，并对缺陷进行分类；其中，CNN分类网络具有全局平均池化层。本发明还公开了一种业缺陷检测装置。本发明利用具有全局平均池化层的CNN分类网络，在训练和测试过程中，输入模型的图像宽、高可以变化，增加了训练样本尺寸的多样性，并增加模型对各种尺寸图像的分类精度。
一种工业缺陷检测方法装置

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