专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]存储元件和存储器件-CN201110253669.8有效
  • 山根一阳;细见政功;大森广之;别所和宏;肥后丰;内田裕行;浅山徹哉 - 索尼公司
  • 2011-08-30 - 2012-04-04 - G11C16/06
  • 本发明公开了存储元件和存储器件。该存储元件,包括具有垂直于膜面的磁化且其磁化方向对应于信息而改变的存储;具有垂直于膜面且成为存储存储中的信息的基准的磁化的磁化固定;设置在该存储和该磁化固定之间并由非磁性构成的绝缘,其中,沿具有该存储、该绝缘和该磁化固定结构的层压方向注入自旋极化电子,从而磁化方向改变,并对该存储执行信息的记录,该存储接收的有效抗磁场的强度小于该存储的饱和磁化量。
  • 存储元件器件
  • [发明专利]存储器件及其制造方法及包括该存储器件的电子设备-CN201610872907.6有效
  • 朱慧珑 - 中国科学院微电子研究所
  • 2016-09-30 - 2019-03-19 - H01L27/115
  • 公开了一种存储器件及其制造方法及包括该存储器件的电子设备。根据实施例,存储器件可以包括在衬底上依次叠置的多个存储单元,每一存储单元包括存储单元的阵列,各存储单元中的存储单元沿着存储单元的叠置方向彼此实质上对准。每个存储单元包括:依次叠置的第一源/漏、沟道和第二源/漏,其中,沟道包括与第一、第二源/漏不同的半导体材料;以及绕沟道的外周形成的存储栅堆叠。同一存储单元中各存储单元的存储栅堆叠成一体。对于各存储单元,其第一源/漏与下层的相应存储单元的第二源/漏一体,其第二源/漏与上层的相应存储单元的第一源/漏一体。
  • 存储器件及其制造方法包括电子设备
  • [发明专利]利用存储的邻近存储数据的介质和方法-CN02148297.7无效
  • G·A·吉布森;A·查尔肯 - 惠普公司
  • 2002-10-31 - 2003-05-14 - G11B7/24
  • 一种数据存储单元包括具有多个存储区45的数据存储42,其上设置有在多种状态间变化的介质以便写入和读出信息。光束发射器阵列43在极靠近数据存储42处与其隔开。存储邻近的LASL47对光束作出响应产生载流子。把光束46射向数据存储42来读出数据。数据存储42上的介质,根据存储介质的状态,或影响载流子的产生,或在LASL47产生载流子后改变载流子输送。由穿过半导体结(44/47界面)输送的载流子或在电极之间光电导区64中输送的载流子数目来确定数据存储区中是否存在数据。
  • 利用存储邻近数据介质方法
  • [发明专利]存储器装置及其制造方法-CN201910977809.2在审
  • 杨怡箴;张耀文;吴冠纬 - 旺宏电子股份有限公司
  • 2019-10-15 - 2021-04-06 - H01L27/11521
  • 本发明公开了一种存储器装置及其制造方法,存储器装置包含半导体衬底、叠结构、电荷存储结构、势垒、隧穿及半导体。叠结构配置在半导体衬底的主表面上,且包含彼此交替叠的多个导电及多个绝缘。电荷存储结构包含多个弯折存储结构或多个分离的存储区段,弯折存储结构或分离的存储区段与导电的侧壁相对,其中各弯折存储结构或各分离的存储区段,在平行主表面的一方向上实际上对准对应的导电。势垒至少有一局部夹置在导电与弯折存储结构之间或者导电与分离的存储区段之间。隧穿配置在弯折存储结构上或分离的存储区段上。导体配置在隧穿上。
  • 存储器装置及其制造方法
  • [发明专利]存储元件和存储设备-CN201110249775.9在审
  • 别所和宏;细见政功;大森广之;肥后丰;山根一阳;内田裕行 - 索尼公司
  • 2011-08-26 - 2012-03-21 - G11C16/06
  • 本发明公开了存储元件和存储设备。该存储元件包括存储,通过磁性材料的磁化状态保持信息;磁化固定,具有作为存储存储中信息的基准的磁化;以及中间层,由非磁性材料形成并设在存储和磁化固定之间。利用根据在具有存储、中间层和磁化固定结构的层压方向上流动的电流产生的自旋矩磁化反转对存储的磁化进行反转以执行信息存储存储包括含有Fe和Co中至少一种的合金区域,以及存储在其磁化反转期间接收的有效反磁场的大小小于存储的饱和磁化量
  • 存储元件设备
  • [发明专利]存储元件、存储元件制造方法和存储装置-CN201110399205.8有效
  • 清宏彰;保田周一郎 - 索尼公司
  • 2011-12-05 - 2012-07-11 - H01L27/24
  • 本发明公开了存储元件、存储元件制造方法和存储装置,所述存储元件能够抑制由于存储的劣化而导致的存储特性变差。所述存储元件包括依次设置的第一电极、存储和第二电极。所述存储包括含有氟化物的电阻变化以及布置于所述电阻变化与所述第二电极之间的离子源。或者,所述存储包括位于所述第一电极侧的电阻变化以及布置于所述电阻变化与所述第二电极之间的离子源,并且所述第一电极含有氟或磷。所述存储元件制造方法包括下列步骤:形成含有氟或磷的第一电极;在所述第一电极上依次设置电阻变化和离子源,由此形成存储;以及在所述存储上形成第二电极。所述存储装置包括脉冲施加部和多个上述存储元件。
  • 存储元件制造方法装置
  • [发明专利]存储元件和存储-CN200710198739.8有效
  • 肥后丰;细见政功;大森广之;山元哲也;山根一阳;大石雄纪;鹿野博司 - 索尼株式会社
  • 2007-12-12 - 2008-06-18 - H01L43/08
  • 本发明提供了一种存储元件和存储器,其中,存储元件包括存储、磁化固定、自旋阻挡、和自旋吸收存储基于磁性材料的磁化状态来存储信息。通过隧道绝缘存储设置磁化固定。自旋阻挡抑制自旋极化电子的扩散,并被设置在存储与磁化固定相对的一侧上。自旋吸收由引起自旋抽运现象的非磁性金属形成,并被设置在自旋阻挡存储相对的一侧上。通过使电流沿层压方向流动注入自旋极化电子来改变存储中的磁化方向,从而将信息记录在存储中,并且自旋阻挡包括从氧化物、氮化物、氟化物中选出的至少一种材料。
  • 存储元件存储器
  • [发明专利]具有降低的阈值电压偏移的三维存储器器件编程-CN202180000115.9在审
  • 宋雅丽;赵向南;闵园园;游开开 - 长江存储科技有限责任公司
  • 2021-01-04 - 2021-05-07 - G11C16/04
  • 一种三维(3D)存储器器件,可以包括第一组存储、在第一组存储上方的第二组存储、以及在第一组存储与第二组存储之间的第一虚设存储。3D存储器器件还可以包括NAND存储器串,其均延伸穿过第一组存储、第二组存储和第一虚设存储。3D存储器器件还可以包括外围电路,其被配置为循序地对第一组存储中的每一个存储进行编程,并且然后循序地对第二组存储中的每一个存储进行编程。外围电路可以包括字线(WL)驱动电路,其被配置为:在对第一组存储中的第一存储进行编程时,在与第一存储相关联的预充电周期期间,将第一预充电电压施加到第一虚设存储;以及在对第一组存储中的位于第一存储上方的第二存储进行编程时,在与第二存储相关联的预充电周期期间,将第二预充电电压施加到第一虚设存储
  • 具有降低阈值电压偏移三维存储器器件编程

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