专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]触控面板与触控显示设备-CN201510473491.6有效
  • 何宽鑫;叶文斌;赵峰;李荣华;黄菲菲 - 宸鸿科技(厦门)有限公司
  • 2015-08-05 - 2023-07-11 - G06F3/041
  • 本发明公开一种触控面板与触控显示设备,该触控面板包括:盖板;折射率匹配层,位于盖板下;触控装置,位于折射率匹配层下;以及光学匹配层,位于触控装置下,其中折射率匹配层包括第一低折射率层与第一折射率层,其中第一低折射率层直接接触触控装置的上表面,且第一折射率层位于第一低折射率层与盖板之间,其中光学匹配层包括第二低折射率层与第二折射率层,其中第二低折射率层直接接触触控装置的下表面,并位于触控装置与第二折射率层之间,其中第二折射率层的方阻值在照射紫外光后大于109欧姆每方。
  • 面板显示设备
  • [实用新型]触控面板与触控显示设备-CN201520582235.6有效
  • 何宽鑫;叶文斌;赵峰;李荣华;黄菲菲 - 宸鸿科技(厦门)有限公司
  • 2015-08-05 - 2015-12-09 - G06F3/041
  • 本实用新型公开一种触控面板与触控显示设备,该触控面板包括:盖板;折射率匹配层,位于盖板下;触控装置,位于折射率匹配层下;以及光学匹配层,位于触控装置下,其中折射率匹配层包括第一低折射率层与第一折射率层,其中第一低折射率层直接接触触控装置的上表面,且第一折射率层位于第一低折射率层与盖板之间,其中光学匹配层包括第二低折射率层与第二折射率层,其中第二低折射率层直接接触触控装置的下表面,并位于触控装置与第二折射率层之间,其中第二折射率层的方阻值在照射紫外光后大于109奥姆每方。
  • 面板显示设备
  • [发明专利]锂离子二次电池用电极及锂离子二次电池-CN202080097314.1在审
  • 马场健;松本和明 - 本田技研工业株式会社
  • 2020-03-10 - 2022-09-30 - H01M4/13
  • 本发明提供一种锂离子二次电池用电极及使用该正极的锂离子二次电池,所述锂离子二次电池用电极即使使用含有比例Ni的正极活性物质,也能够实现具有体积能量密度的电池,而不会降低热稳定性。电解液和固态颗粒以特定体积比例存在于电极合材层中。具体地,作为具有电极合材层的锂离子二次电池用电极,电极合材层中的电解液与氧化物固体的体积比例为99:1~76:24的范围,所述电极合材层包括电极活性物质、氧化物固体和电解液。
  • 锂离子二次电池用电
  • [发明专利]集成电路-CN202011276805.0在审
  • 吴沛勳;韩铭鸿;陈柏年;林志勇 - 台湾积体电路制造股份有限公司
  • 2020-11-16 - 2021-06-29 - H01L27/092
  • 此输入/输出装置包括第一栅极结构,其具有界面层;第一介电常数质堆叠,其位于界面层上;以及导电层,其位于第一介电常数质堆叠上并与之物理接触。核心装置包括包括第二栅极结构,其具有界面层;第二介电常数质堆叠,其位于界面层上;以及导电层,其位于第二介电常数质堆叠上并与之物理接触。第一介电常数质堆叠包括第二介电常数质堆叠及第三层。
  • 集成电路
  • [实用新型]一种MEMS半导体气体传感器-CN202120785727.0有效
  • 王相;路梦飞;庞喜龙;钟琮玮 - 威海精讯畅通电子科技有限公司
  • 2021-04-16 - 2022-01-04 - G01N27/00
  • 其技术方案为:一种MEMS半导体气体传感器,由下往上依次包括衬底层、支撑层、第一层和第二层;所述支撑层与第一层之间设有温度传感器,所述第一层与所述第二层之间设有微热源;所述第二层上设有传感电极本实用新型的有益效果为:本实用新型整体结构集成度、成本低、功耗低、控温精度,通过高精度的温度控制来提高气体的选择;通过精确的温度调节以及金叉指电极的运用实现对不同气体的灵敏检测;通过中空部结构以及精确控制温度实现最大程度地降低功耗
  • 一种mems半导体气体传感器
  • [发明专利]用于改进的沉积选择的保护层-CN201310167362.5在审
  • 王超群;宋述仁 - 台湾积体电路制造股份有限公司
  • 2013-05-08 - 2014-08-06 - H01L23/522
  • 本发明涉及改进后段工艺(BEOL)可靠的方法和装置。在一些实施例中,该方法在半导体衬底上方形成具有一个或多个金属层结构的极低k(ELK)层。在ELK层上方在一个或多个金属层结构之间的位置形成第一保护层。然后在一个或多个金属层结构上方在通过第一保护层与ELK层分离开的位置沉积第二保护层。第一保护层具有限制第二保护层和ELK层之间的相互作用的选择,从而降低原子从第二保护层至ELK层的扩散并且改进ELK层的电介质击穿。公开了用于改进的沉积选择的保护层。
  • 用于改进沉积选择性保护层

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