专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种低损耗铁铌酸钡陶瓷的制备方法-CN201110127263.5无效
  • 杨海波;林营;朱建锋;王芬 - 陕西科技大学
  • 2011-05-17 - 2011-11-23 - C04B35/495
  • 一种低损耗铁铌酸钡陶瓷的制备方法,取分析纯的BaCO3、Fe2O3和Nb2O5球磨4后烘干,过筛,压块,预烧,得低损耗铁铌酸钡粉体;取分析纯的BaCO3和TiO2球磨后烘干,过筛,压块,预烧得低损耗铁铌酸钡粉体;将BaFe0.5Nb0.5O3和BaTiO3粉体混合均匀后加入PVA粘合剂得低损耗铁铌酸钡的混合粉末;将混合粉末按需要压制成型,烧结得到低损耗铁铌酸钡陶瓷。本发明制备的低损耗铁铌酸钡陶瓷的具有巨介电常数和非常低的损耗,1kHz时介电常数为13300~21000,损耗为0.14~0.32。该低损耗铁铌酸钡陶瓷可以在1350℃的条件下烧结。该低损耗铁铌酸钡陶瓷的制备工艺简单。
  • 一种低介电损耗铁铌酸钡陶瓷制备方法
  • [发明专利]球状二氧化硅粉末-CN202080023678.5在审
  • 冈部拓人;深泽元晴 - 电化株式会社
  • 2020-01-30 - 2021-11-05 - C01B33/12
  • 本发明提供一种损耗角正切低的球状二氧化硅粉末。更详细而言,本发明提供一种球状二氧化硅粉末,其配合于树脂而成型为片状后,由通过空腔谐振器法在频率35~40GHz的条件下测定的该片材的损耗角正切计算的球状二氧化硅粉末的损耗角正切中,将损耗角正切降低处理前的球状二氧化硅粉末的损耗角正切设为A,将损耗角正切降低处理后的球状二氧化硅粉末的损耗角正切设为B时,B/A为0.70以下,损耗角正切降低处理后的球状二氧化硅粉末的比表面积为1~30m2
  • 球状二氧化硅粉末
  • [发明专利]光学玻璃材料的相对介电常数和损耗的测试方法-CN202210460349.8在审
  • 蒋子安;刘惠芳 - 成都光明光电股份有限公司
  • 2022-04-28 - 2022-09-09 - G01R27/26
  • 本发明提供一种光学玻璃材料的相对介电常数和损耗的测试方法,该方法包括以下步骤:1)将光学玻璃材料样品制备成直径均匀的圆柱形杆状材料;2)重入式同轴腔测试设备空腔校准和系统校准;3)在重入式同轴腔测试设备内的测试空腔中放入待测光学玻璃材料样品,进入相对介电常数和损耗的测试过程,得到相对介电常数εˊ和损耗ε"的数据;4)对相对介电常数εˊ、损耗ε"进行修正得到相对介电常数εˊ、损耗ε"。本发明测试光学玻璃材料的相对介电常数的测量误差1.5%,损耗的测量误差20%,能很好地降低光学玻璃材料的测量误差,使测量结果更能体现光学玻璃材料的性能。
  • 光学玻璃材料相对介电常数损耗测试方法

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