专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]沉积及具有该沉积的薄膜沉积设备-CN202310552146.6在审
  • 杜树春 - 无锡金源半导体科技有限公司
  • 2023-05-16 - 2023-08-11 - C23C16/44
  • 本发明涉及薄膜沉积技术领域,公开了沉积及具有该沉积的薄膜沉积设备,包括:反应腔体、过渡板和稳流机构,反应腔体内设有腔的底部设有排气孔,的底部适于安装加热盘。过渡板靠近的底部设置,且过渡板与底部之间留有第一流通,过渡板上开设有多个通孔,且通孔与第一流通连通。稳流机构设置在室内,稳流机构与过渡板之间形成第二流通,第二流通经通孔与第一流通连通,稳流机构上表面环形均布设有多个稳流孔,与第二流通经稳流孔连通。
  • 沉积具有薄膜设备
  • [发明专利]处理沉积限制-CN202180082431.5在审
  • S·M·博贝克;V·S·C·帕里米;S·河;K·D·李 - 应用材料公司
  • 2021-10-18 - 2023-08-08 - C23C16/458
  • 示例性半导体处理系统可以包括主体,该主体包括侧壁和基部。该系统可包括延伸穿过主体基部的基板支撑件。主体可限定通路,该通路在该主体的该基部处绕该基板支撑件周向地延伸。该系统可包括设置在主体内的一个或多个隔离器。一个或多个隔离器可在一个或多个隔离器与主体之间限定排放路径。排放路径可延伸到主体的基部。该系统可包括流体源,该流体源在绕该基板支撑件延伸的该通路处与该主体流体地耦接。
  • 处理沉积限制
  • [发明专利]气相沉积-CN202010631367.9有效
  • 周志文 - 北京北方华创微电子装备有限公司
  • 2020-07-03 - 2022-02-22 - C30B25/08
  • 本申请公开了一种气相沉积,包括:上外壁、反应基座、支撑环、下外壁、第一导流环,支撑环设置在所述上外壁和下外壁之间且与上外壁和下外壁连接,第一导流环和反应基座依次设置在所述支撑环的内侧,且第一导流环承载在下外壁,下外壁、第一导流环和反应基座形成第一子,在上外壁和反应基座之间形成第二子;第一导流环上构造有径向贯穿的进气通孔和偏离进气通孔的径向非贯穿的进气切槽,进气通孔与所述第一子连通以向第一子的内部引入清洗气体,进气切槽与所述第二子连通以向第二子的内部引入工艺气体。根据本申请的气相沉积,可方便地对其进行清洁。
  • 沉积
  • [发明专利]一种半导体设备-CN201711266540.4有效
  • 丁安邦;师帅涛;陈鹏;史小平;傅新宇;李春雷;荣延栋;何中凯 - 北京北方华创微电子装备有限公司
  • 2017-12-05 - 2022-11-25 - C23C16/455
  • 本发明公开了一种半导体设备,包括:沉积,用于对衬底进行沉积工艺,形成沉积层;表面处理,用于对沉积层进行表面钝化或刻蚀工艺处理;远程等离子体源,共用于沉积和表面处理,用于向表面处理通入第一等离子体,以对沉积层进行表面钝化处理或刻蚀工艺,以及用于对沉积通入第二等离子体,以对沉积进行清洗。本发明通过设置单独的表面处理进行表面钝化工艺,可简化现有沉积工艺结构,拓宽沉积工艺和表面处理工艺的工艺窗口,并通过使沉积和表面表面处理共用一个远程等离子体源,可提升远程等离子体源的利用率,降低表面钝化或刻蚀工艺的整体成本。
  • 一种半导体设备
  • [发明专利]气相沉积设备和气相沉积方法-CN202110586355.3在审
  • 柳成龙;金京汉;劝炯斗;郑钟桓;崔庆五;崔承浩 - 三星显示有限公司
  • 2021-05-27 - 2021-12-03 - C23C14/56
  • 本公开涉及气相沉积设备和气相沉积方法。所述气相沉积设备包括:载体,在所述载体上安置有基底;沉积,在所述沉积中执行用于将沉积材料沉积到所述基底的沉积工艺;第二,在所述第二中搬运所述载体,在所述载体上安置有完成了所述沉积工艺的所述基底;以及第一,包括机械臂,所述机械臂在真空状态下将完成了所述沉积工艺的所述基底与所述载体分离开以从所述第二传送到所述第一,其中,所述第二始终保持真空状态。
  • 沉积设备和气方法

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